4.3.6 打开 大约 19 个月 延期 (2024-05-30) 平台控制和拟合聚焦升级 98% 172 问题 (169 已关闭 — 3 打开) 相关的问题 功能 #2386: 主动聚焦插件增加获取轴坐标接口 行为 功能 #2446: VIS4.3.6 面阵相机插件升级 行为 功能 #2447: VIS4.3.6 FitZImageProvider开发 行为 功能 #2451: 4.3.6：拟合聚焦参数、界面开发 行为 功能 #2477: 4.3.6：Setup和Recipe数据升级功能 行为 功能 #2511: 主动聚焦停止小Z不回零，MSG插件修改 行为 功能 #2512: 主动聚焦停止小Z不回零，界面增加回零按钮及小Z坐标显示 行为 功能 #2514: 主动聚焦停止小Z不回零，涉及程式及检测修改 行为 功能 #2595: ACS 添加Homing功能 行为 功能 #2604: 夹具界面添加一键清空 行为 功能 #2669: 验证UPH 行为 功能 #2670: 好达：两个Die2Golden 检测类型 行为 功能 #2687: 将图像增强功能使用C#方式加回来 行为 功能 #2688: 检查日志 行为 功能 #2718: 拉取“4.3.6测试”分支 行为 功能 #2742: VIS4版本中，本工序良率功能丢失 行为 功能 #2752: 合并4.3.6 合并到4.3 行为 功能 #2782: ZipData、VPClearService、 ROIEditor工具放在通过环境变量设定为D盘的VPTEKSOFTWARE目录下 行为 功能 #2820: VIS、CalcUnit打包需要包括最新的Core 行为 功能 #2859: VIS检测中的异常停止逻辑修改 行为 功能 #2876: 线阵插件中删掉的部分参数加回来 行为 功能 #2882: 合并EFEM 1.2 的VIS修改内容到 4.3 行为 功能 #2921: 【过滤Bad Die】 - 过滤掉上道工序的bad die后，导出的map文件内容显示问题（待讨论） 行为 功能 #2936: VIS相机控件CPU占用高优化 行为 功能 #2937: 4.3：VIS相机控件增加控制显示帧率的功能，区别于采集帧率 行为 功能 #3029: 根据参数生成缺陷分布图 行为 功能 #3030: SPC 添加缺陷分布图显示和下载，缺陷分类功能升级 行为 功能 #3038: 上海技物所第一台机器软件升级验证 行为 功能 #3078: 验证低的加减速是否影响正常做程式 行为 功能 #3101: 非检测中，速度和加减速等使用定位模式 行为 功能 #3133: 文件导出设置 升级 行为 功能 #3199: 在web报表那边的缺陷分类后面，加上具体的参数。 行为 功能 #3217: 三叠纪需求-VIS软件升级 行为 功能 #3256: VIS_4.3消息功能代码合并 行为 功能 #3865: SPC1.1以及客户端报表导出添加Substrate ID 行为 功能 #3998: 将条带图拼接为完整的晶圆图案 行为 功能 #4072: 4.3.6版本固定 条带合并为晶圆功能合入 行为 功能 #4188: 在晶圆结构上添加M标记设定 行为 功能 #4711: DB检测模式需扩大阈值设置范围 行为 需求 #2608: 20240630的好达机器需求 行为 需求 #2698: 对准选择主动聚焦，拟合形貌执行需要小Z回零， 控制面板 主动聚焦打开，执行被动聚焦，页面聚焦按钮需要呈现什么状态，小Z是否回零 行为 需求 #2946: Die2Golden检测模式AI检测新增接口 行为 需求 #3022: 上海技物所-缺陷大小分组显示功能需求 行为 需求 #3054: cd检测完成后加减速发生改变，加速度、减速度是速度的30倍，刹车速度是速度的300倍，对于高倍镜双击map图定位操作，图像会有抖动的现象 行为 需求 #3088: map文件导出设置升级 行为 需求 #5003: DB：DB历史数据双击后没有反应，没有提示也没有打开结果界面 行为 版本合并 #2716: 4.3.6 合并 行为 设计 #2408: 被动聚焦和拟合聚焦升级 行为 设计 #2448: 增加主动聚焦停止小Z不回零逻辑 行为 设计 #3018: map文件导出设置 行为
4.3.8 打开 97% 331 问题 (321 已关闭 — 10 打开) 相关的问题 功能 #2351: Job类的泛型入参ViewModel问题 行为 功能 #2764: VIS4.3.8 DB检测开发 行为 功能 #2811: 在JOB数量很多时，JOB管理界面加载JobTree以及Setup列表很耗时 行为 功能 #2861: 膜框一侧分别聚焦膜面和玻璃面方案 行为 功能 #2924: 3d扫描提速 行为 功能 #2956: IRIS 上下检测区域可以选择不同检测区域 行为 功能 #2957: 无图形检查区域可以选择圆形 行为 功能 #2967: NoGrid的Review功能 行为 功能 #2986: 优化建议：CD测量，Mark匹配时间超过60S，弹窗提示：Mark匹配超时，手动设置：Retry、Skip、Stop 行为 功能 #3005: 支持GDS的CD检测模式 行为 功能 #3008: 数据准备新增CD能够支持GDS的检测模式 行为 功能 #3014: CD检测 - Setup为NoGrid的类型， Recipe中新增导入DP文件相关选项及参数设置 行为 功能 #3016: CD检测 - setup为NoGrid的类型，且导入了DP文件,GDS缩略图显示 行为 功能 #3036: 3d 圆径算法开发，以前的算法整理改造 行为 功能 #3037: 添加 3d 圆径参数设定 行为 功能 #3068: 支持共面算法（GJB 7677-2012） 行为 功能 #3070: 3d测量以周边区域作为基准方式 行为 功能 #3109: 3d 彩图 增加图示 行为 功能 #3131: setup/recipe:两个recipe同时检 行为 功能 #3132: 数据改造，检测结果改造:两个recipe同时检 行为 功能 #3134: 4.3.8：两个Recipe同时检测功能，框架需要提供的接口 行为 功能 #3157: 3D新增测量圆心、圆径功能算法。 行为 功能 #3160: 3d条带切割改在外部调用 行为 功能 #3161: 提供3d条带切割方法 行为 功能 #3167: 检测流程框架 行为 功能 #3183: 两个Recipe同时检测，检测框架，重扫逻辑 行为 功能 #3262: 检测框架中检测步骤、Job的执行逻辑文档 行为 功能 #3267: CD支持GDS，VIS通过镜头与数据准备数据校验关联。 行为 功能 #3272: 4.3.8：Recipe检测结果切换性能优化 行为 功能 #3277: IRIS 膜面检测 采用膜面偏移量Z 扫图 行为 功能 #3283: 4.3.8 拉取测试分支 行为 功能 #3286: 在测试分支上合并4.3.8 3D相关功能 行为 功能 #3287: 3D实现测量功能 行为 功能 #3288: 3D高度、宽度测量 ，并绘制测量结果 行为 功能 #3312: 4.3.8：提供批量修改Recipe参数接口 行为 功能 #3358: 3D类型map导出 计算单元数据存储 行为 功能 #3359: 3D类型 map导出 数据获取和绘制 行为 功能 #3389: 4.3.8 第二阶段拉取测试分支 行为 功能 #3390: 4.3.8版本合并 行为 功能 #3391: 4.3.8版本合并 行为 功能 #3393: 修改 无图型core接口 到最新 行为 功能 #3394: 插件界面使用WPF重构界面开发 行为 功能 #3399: NG、IRIS使用新的Core.dll测试 行为 功能 #3405: 检测流程框架中，增加RecipeInitFlows、RecipeRunFlows以及RecipeEndFlows 行为 功能 #3419: 测试：插件界面WPF重构测试 行为 功能 #3420: 使用3D传感器对准 行为 功能 #3421: 使用3D传感器对准-获取3D扫描数据 行为 功能 #3422: 使用3D传感器对准-提供3D对准方法 行为 功能 #3464: 3D测量速度优化 行为 功能 #3465: 3D测量速度优化-计算单元 行为 功能 #3476: Setup界面批量修改Recipe检测区域/检测Die 行为 功能 #3482: 软件退出，移出平台增加异常、超时的处理逻辑 行为 功能 #3483: RoiEditor选择算法窗口优化 行为 功能 #3494: Golden前后道裁切--RoiEditor修改 行为 功能 #3501: 4.3.8 测试分支合并到4.3 行为 功能 #3503: CD检测步骤按照4.3.8的修改 行为 功能 #3504: DB检测流程按照4.3.8的修改，Plugins_4.3.8合入主干 行为 功能 #3505: 3D检测流程按照4.3.8的修改 行为 功能 #3508: 【创建晶圆结构】 - 扫描晶圆结构，勾选保存条带图优化：目前条带图放在了VIS安装目录下，建议路径：Z:\Tornado4.2Data\VIS_CombinedImg 行为 功能 #3510: CalcUnit_4.3.8 3D和DB类型改动合入到CalcUnit_4.3分支 行为 功能 #3606: 建议打开新程式 将r轴归0，因为每次建无图形设置3个点，或者圆中心，提示需要将r回0 行为 功能 #3626: DataTool 数据库工具修改ftp账户 行为 功能 #3966: 删除或解密VIS软件安装包中的加密文件 行为 功能 #4006: 4.3.8 4.4.0 针对IRIS机台双面只有小Z的修改 行为 功能 #4207: 26所升级软件版本到4.3.8 行为 功能 #4208: 26所软件升级验证3D检测和程式兼容 行为 功能 #4429: 在晶圆结构上添加M标记设定从VIS_4.3.6移植到VIS_4.3.8 行为 功能 #4791: [开发]VIS 显示备份，清理，迁移工具的日志 行为 功能 #4792: [开发]备份工具添加mysqldump 行为 功能 #4931: 将旋转中心设置从VIS.exe.config配置文件移植到系统设置里 行为 功能 #4957: 平台旋转模式，如果平台旋转中心未设置，给出警告提示：平台旋转中心未设置 行为 功能 #5140: [开发] 提升检查速度 行为 功能 #5291: [开发] SPC 添加导出功能 行为 功能 #5953: [开发] 提升检查速度 行为 需求 #2449: 3D 提升速度，显示详细缺陷 行为 需求 #2712: VIS软件中参数、参数名称中英文混搭（从客户易用性角度考虑，要么纯英文、要么尽可能的纯中文） 行为 需求 #2723: IRIS 线面偏移量，目前只适用单个面线阵相机与面阵面阵相机，需要再增加可配置项，目前5X景深，另一个面缺陷定位，一个相机视口可看见，但存在偏移。 行为 需求 #2737: 存图逻辑保存ok and ng,检测结果只有OK die，【显示图片】不能显示图片 行为 需求 #2739: 平台相对定位易用性优化 行为 需求 #2843: 针对无图形、IRIS、DB的Review功能 行为 需求 #2865: CD 支持GDS 行为 需求 #2903: NoGrid 类型 以及 IRIS 升级 行为 需求 #2996: 两个 DG Recipe 同时检 行为 需求 #2999: 添加用户操作日志 行为 需求 #3001: 升级ROIEditor 行为 需求 #3034: 3d 升级 行为 需求 #3042: 1.前道采集Golden后，自动裁剪掉不属于Die以外的部分； 2. 后道框选Golden时，只能使用"Die"尺寸roi，不支持修改 行为 需求 #3051: IRIScore分支合入主干core 行为 需求 #3172: 采图的时候，需要把对准偏移量Z计算到采图里面 行为 需求 #3202: 3D传感器部署文档 行为 需求 #3333: 软件预对准模块开发 行为 需求 #3449: Setup界面批量修改Recipe检测区域/检测Die 行为 需求 #4015: 拟合聚焦结果界面，期望能快速筛选出Z的最大最小值 行为 需求 #4037: 晶圆结构选项卡增加Mark标记功能，支持带有M标记的map文件导入导出 行为 需求 #4761: 备份工具添加mysqldump 每周一次，单线程，热备份，清理工具添加数据库备份文件清理（保留2个备份文件） 行为 需求 #4762: VIS 显示备份，清理，迁移工具的日志（每次执行只有一条，不需要显示详细错误信息） 行为 需求 #4967: 提升检查速度 行为 需求 #5231: SPC 添加导出功能 行为 版本合并 #3282: 4.3.8 第1阶段合并 行为 版本合并 #3388: 4.3.8 第2阶段合并 行为 设计 #2493: 旧的好达版本添加检查中加载map文件功能 行为 设计 #2693: 无图形检查区域可以选择圆形 行为 设计 #2694: IRIS 上下检测区域可以选择不同检测区域 行为 设计 #2714: 无图形对准设置 行为 设计 #2727: 3d 彩图 增加图示 行为 设计 #2867: 设计支持GDS的CD检测模式 行为 设计 #2951: 平台相对定位易用性 行为 设计 #2997: recipe如何设定可以同时检 行为 设计 #2998: 两个recipe同时检的数据如何设计 行为 设计 #3000: 用户操作日志 行为 设计 #3002: 升级ROIEditor，算法参数使用单独C#窗口 行为 设计 #3035: 3d 圆径测量 行为 设计 #3110: 前后道Golden框选裁剪功能修改 行为 设计 #3334: 设计：软件预对准模块开发 行为 设计 #3349: 3D map导出设计 行为 设计 #3423: 4.3.8：Setup界面批量修改Recipe检测区域/检测Die的方案设计 行为 设计 #5139: [设计] 提升检查速度 行为 设计 #5232: [设计] SPC 添加导出功能 行为
4.3.9 打开 91% 678 问题 (628 已关闭 — 50 打开) 相关的问题 功能 #2672: VIS框架增加动态修改界面布局接口（菜单、ToolBar） 行为 功能 #3450: ACS peg相关修改 行为 功能 #3466: 3D 取消速度设定，改用自动计算方式获取最佳扫描速度 行为 功能 #3467: 3d 取消像元大小设定，改用获取或自动计算方式，从插件获取 行为 功能 #3468: 新自研ATF 改造为插件 行为 功能 #3469: 支持CalcAgent 1.1 行为 功能 #3480: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为 功能 #3520: 菜单按钮合理分类 行为 功能 #3521: 添加常用菜单按钮快捷键 行为 功能 #3524: 删除【WaferType】按钮 行为 功能 #3796: 开发统一的3d数据的格式，导入导出方式统一 行为 功能 #3833: 单点的WDI ATF插件 行为 功能 #3948: GrayCD算法参数页面逻辑优化 行为 功能 #3955: Support joystick开发 行为 功能 #3957: KSP功能开发 行为 功能 #3958: KHP功能开发 行为 功能 #3959: 建立 KPS 行为 功能 #3978: CD支持图片测量 行为 功能 #4012: 合并4.4.0 分类功能 行为 功能 #4126: 手动CD测量界面也使用与算法界面相同的UI 行为 功能 #4154: 开发：测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为 功能 #4155: 开发：测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为 功能 #4254: 开发圆测量功能 行为 功能 #4361: 增强圆测量功能，阈值被采用 行为 功能 #4589: 算法设置界面图层ROI支持复制移植到ROI Editor1.1 行为 功能 #4607: 新套刻算法界面开发 行为 功能 #4667: 解决检测过程中，cpu占用过多的几个应用 行为 功能 #4822: [开发] 使用ATF 做被动聚焦功能 行为 功能 #4884: [开发] cd不同线宽标定 行为 功能 #4912: [开发] 优化VIS控制面板 行为 功能 #4940: [开发]平台旋转，圆中心参数修改 行为 功能 #5013: CD套刻新增OVL_Item字段，弃用Str_MeasurePoint字段 行为 功能 #5083: [开发]55所高度测量功能升级 行为 功能 #5212: 软件调试模式下的连续检测次数设置迁移至夹具设置弹窗里，删除Debug中对应功能 行为 功能 #5217: [开发] VIS V4.3.9界面中间竖列的图标分布不太合理 行为 功能 #5240: [开发] 55所CD机台光源添加对应逻辑 行为 功能 #5311: [检测任务]DB支持CD测量 行为 功能 #5373: [开发]矩形测量功能 行为 功能 #5413: [开发] cd不同线宽标定 行为 功能 #5433: [开发] CD测量时使用基于图像清晰度的被动聚焦 行为 功能 #5566: [开发] 光源模块：移除用户选择光源类型颜色和能量，只给出枚举选择 行为 功能 #5685: [开发]CD圆测量实现自动测量 行为 功能 #5688: [开发] recipe 参数和图片保存时另外保存一份到E盘 行为 功能 #5689: [开发] ZipData 支持CD数据迁移 行为 功能 #5694: [开发] DPU 保存检测结果，以及定时清理结果 行为 功能 #5716: [开发]系统参数界面中移除所有二级弹窗 行为 功能 #5765: [开发] cd光标定 行为 功能 #5791: [开发]矩阵键盘显示优化 行为 功能 #5796: [开发]开发MSG Sensor 插件 行为 功能 #5810: [开发]添加平台真空异常报警 行为 功能 #5827: [开发]CD自动判定横线或竖线，并且应用在结果计算和显示上 行为 功能 #5828: [ROIEditor] CD自动判定横线或竖线，并且应用在结果计算和显示上 行为 功能 #5886: 开发 物镜关联光源类型 行为 功能 #5897: [开发]添加每个点位自有的cog值，在测量中使用，使用开关控制 行为 功能 #5917: [开发] 被动聚焦改造 行为 功能 #5931: [开发] 各点被动聚焦改造 行为 功能 #5954: [开发] 测量时被动聚焦使用测量的ROI 行为 功能 #5955: [开发] CD查询记录优化 行为 功能 #5956: [开发] CD 检测，支持无配准模式 行为 功能 #5977: [开发]矩阵键盘优化，添加基板选择功能 行为 功能 #6030: [开发] 控制面板被动聚焦功能添加ROI功能 行为 功能 #6085: [开发]CD 相对测量点位改造 行为 功能 #6168: [开发]CD 可导入相对测量点位 行为 功能 #6169: [开发]线宽标定数据导入导出，用户可选择导入不同线宽标定数据 行为 功能 #6192: 【检测任务】基于sensor插件的主动聚焦功能测试 行为 功能 #6217: [开发]CD手动测量后弹出确认框 行为 功能 #6218: [开发]移入之后将z调整到基板焦面 行为 功能 #6219: [开发]MSG传感器，实现主动聚焦效果 行为 功能 #6220: [开发]坐标点改造 行为 功能 #6221: [开发]recipe界面改造 行为 功能 #6224: [开发]自动光源 行为 功能 #6261: [开发]CD和其DB文件支持3点对准，设定涨缩 行为 功能 #6321: [开发]CD 面阵相机畸变矫正方法 行为 功能 #6335: [开发]涨缩方式改造 行为 功能 #6397: 对准设置、die尺寸粗略计算、Die尺寸精细计算、框选旋正、两点旋正时用的平台坐标改为用映射坐标 行为 功能 #6414: [开发] 针对不同的光源，添加不同光源和物镜下做平场校正 行为 功能 #6427: [开发]测量用的ROI，如果没有更新，可以持续使用 ，不同类型的ROI，要区分保存，ROI旋转的ROI也是一样，将旋转功能给到测量界面 行为 功能 #6428: [开发]CD手动测量界面简化改造 行为 功能 #6450: CD测量 - 根据相对坐标偏移，不勾选HasGolden，算法要支持线宽、圆测量 行为 功能 #6461: [开发] 光源参数，自动光源改造 行为 功能 #6474: [开发] 测量界面将winform替换为WPF 行为 功能 #6475: [开发]添加自动光源功能 行为 功能 #6482: CD标定界面添加删除和插入标定数据功能 行为 功能 #6489: 【Picasso_4.1】使用4.3对应ProcessManagement代码修改Picasso.Process 行为 功能 #6504: [开发]CD 被动后使用被动结果测量 行为 功能 #6505: [开发]CD 多线测量，测量结果显示改造 行为 功能 #6665: [开发]为圆直径添加补偿功能 行为 功能 #6785: [开发]cd测量使用12bit的图片 行为 功能 #6789: [开发]手动测量程序需要简化界面，界面中需要包含角度校正、亮度校正、ROI框选，threshold等信息 行为 需求 #2703: 合理分配以及规范VIS的菜单栏功能按钮。 行为 需求 #2705: 插件参数修改改为不用需重启VIS 行为 需求 #2708: 针对不同的光源，添加不同光源下所做平场校正，聚焦用户参数等 行为 需求 #2785: 多recipe自动合并map文件功能 行为 需求 #2840: SPC与Review结合 行为 需求 #2968: 开关按钮面板 行为 需求 #3007: C001类型需要支持没有M标识的map文件，可以合并map数据 行为 需求 #3028: 未设置"自定义分类"参数时的处理逻辑 行为 需求 #3097: Roi Editor根据Recipe类型限制可用算法 行为 需求 #3451: 3d数据的格式，导入导出方式统一 行为 需求 #3460: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为 需求 #3462: CD算法参数界面逻辑优化 行为 需求 #3523: 【菜单栏】-【设置】-【WaferType】，如果晶圆类型设置界面中的参数用不到了，建议删除【WaferType】按钮 行为 需求 #3538: CD 检测，支持无配准模式 行为 需求 #3554: 2D检测 roi框选 建议 支持自动框选小球功能 行为 需求 #3565: 测量类:CD、3D测量支持右键切换检测结果 行为 需求 #3930: Support joystick 行为 需求 #3931: 开发Custom Keys 行为 需求 #3937: 2d 圆测量 行为 需求 #3939: 导入图片CD测量 行为 需求 #3991: cd光标定 行为 需求 #3993: cd设定算法参数时，显示算法设定效果 行为 需求 #3994: cd不同线宽标定 行为 需求 #3995: cd和3d抽象出一些公共部分 行为 需求 #4039: 3D检测 ①建议量测结果和map 做成联动形式 ②量测默认会保存Bmp格式图片，针对晶圆Die比较多的产品，量测完会等待几分钟生成Bmp图片才能结束流程，建议增加是否保存Bmp图片按钮。 行为 需求 #4141: 测量模块添加测量工具集 行为 需求 #4693: 使用ATF 做被动聚焦功能 行为 需求 #4796: 55所聚焦插件 行为 需求 #4887: 优化VIS控制面板 行为 需求 #4893: ZipData 支持CD数据迁移 行为 需求 #4915: 55所高度测量功能升级,结合PLC文档中相关描述 行为 需求 #4939: 平台旋转，圆中心参数修改 行为 需求 #4965: TP测量自动化 行为 需求 #5068: CD查询记录优化 行为 需求 #5142: VIS V4.3.9界面中间竖列的图标分布不太合理 行为 需求 #5239: 55所CD机台光源添加对应逻辑 行为 需求 #5366: 光源类型与颜色，同步ATF用户参数 行为 需求 #5367: CD实现圆测量，矩形测量功能 行为 需求 #5372: 矩形测量功能 行为 需求 #5432: CD测量时使用基于图像清晰度的被动聚焦 行为 需求 #5456: CD圆测量实现自动测量 行为 需求 #5457: 光源模块：移出用户选择光源类型颜色和能量，只给出枚举选择 行为 需求 #5674: CD测量时，使用基于MSG信号和图像清晰度的被动聚焦 行为 需求 #5686: recipe 参数和图片保存时另外保存一份到E盘 行为 需求 #5693: DPU 保存检测结果，以及定时清理结果 行为 需求 #5715: 系统参数界面中移除所有二级弹窗 行为 需求 #5790: 矩阵键盘优化，添加基板选择功能 行为 需求 #5795: 开发MSG Sensor 插件 行为 需求 #5809: 添加平台真空异常报警 行为 需求 #5826: CD自动判定横线或竖线，并且应用在结果计算和显示上 行为 需求 #5887: 根据矩阵键盘需要显示的字符，自动生成包含固定样式字符的对应图片，以供矩阵键盘显示使用 行为 需求 #5916: 被动聚焦改造 行为 需求 #6044: CD 相对测量点位改造 行为 需求 #6108: 线宽标定数据导入导出，用户可选择导入不同线宽标定数据 行为 需求 #6130: 光源插件切换不存在的光源耗时慢 行为 需求 #6170: CD手动测量改造 行为 需求 #6320: CD 面阵相机畸变矫正 行为 需求 #6352: 对准完成后，控制面板切换低倍镜，点击左下角GDS-Map图点位，报错：未找到与当前镜头一致的对准策略 行为 需求 #6416: 测量用的ROI，如果没有更新，可以持续使用 ，不同类型的ROI，要区分保存，ROI旋转的ROI也是一样，将旋转功能给到测量界面 行为 需求 #6421: CD测量 - 平台定位方式：根据Die定位，期望 ①双击Die测量点可定位 ②鼠标放到ROI测量点，可以显示相对偏移坐标 行为 需求 #6443: CD测量 - 根据相对坐标偏移，不勾选HasGolden，期望支持线宽、圆、套刻(目前仅支持线宽测量) 行为 需求 #6462: CD_GDS测量 - 选择DP文件，筛选逻辑优化（建议加筛选重置按钮） 行为 需求 #6508: 保存聚焦结果图片供测量使用 行为 需求 #6561: CD 多线测量，GrayThresholdPrecent模式时，添加返回所有测量的边缘 行为 需求 #6590: ControlSystem功能需求 行为 需求 #6605: 打开面阵相机软件，然后启动VIS进入软件，期望可以正常切换镜头，切换光源（ 方便做平场校正） 行为 需求 #6664: 圆测量方法升级 行为 需求 #6708: 【框选旋正】、【两点旋正】菜单按钮逻辑调整 行为 需求 #6784: cd测量使用12bit的图片 行为 需求 #6788: 手动测量程序需要简化界面，界面中需要包含角度校正、亮度校正、ROI框选，threshold等信息 行为 设计 #2969: 开关按钮面板 行为 设计 #3452: 3d数据的格式，导入导出方式统一 行为 设计 #3461: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为 设计 #3463: CD算法参数界面逻辑优化 行为 设计 #3715: pdf 生成添加SubstrateID 行为 设计 #3883: 将条带图拼接为完整的晶圆图案 行为 设计 #3964: CD支持图片测量（附畸变校正） 行为 设计 #4144: 测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为 设计 #4145: 测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为 设计 #4462: 整理新的套刻算法设定逻辑 行为 设计 #5004: [设计]55所高度测量功能升级,结合PLC文档中相关描述 行为 设计 #5458: [设计]光源模块：移出用户选择光源类型颜色和能量，只给出枚举选择 行为 设计 #5792: [设计]添加基板选择功能 行为 设计 #6046: [设计]CD 相对测量点位改造 行为 设计 #6136: [设计]线宽标定数据导入导出，用户可选择导入不同线宽标定数据 行为
4.4.0 打开 97% 440 问题 (423 已关闭 — 17 打开) 相关的问题 功能 #3516: 开发光源模块 行为 功能 #3527: 清理Picasso 弃用代码 行为 功能 #3528: 清理VIS弃用代码，清理CalcUnit弃用代码 行为 功能 #3534: 无图形删除die的概念 行为 功能 #3536: 升级自定义缺陷分类 行为 功能 #3548: VIS&计算单元 3D部分废弃代码清理 行为 功能 #3549: VIS&计算单元 DB部分废弃代码清理 行为 功能 #3550: VIS&计算单元 DG部分废弃代码清理 行为 功能 #3551: VIS&计算单元 NG部分废弃代码清理 行为 功能 #3552: VIS&计算单元 CD部分废弃代码清理 行为 功能 #3553: VIS&计算单元 AI部分废弃代码清理 行为 功能 #3568: Grid和NoGrid的晶圆结构/MAP布局 拆分到两个项目中 行为 功能 #3571: 检测任务与基片关联 行为 功能 #3580: 所有Setup类型和Recipe类型增加对应的MainJob 行为 功能 #3585: Picasso.Auto 项目排除Winform和WPF相关代码 行为 功能 #3598: CD测量页面移除winform相关页面 行为 功能 #3599: CD测量页面移除winform相关页面-相机控件和菜单工具更改 行为 功能 #3624: 4.4.0 NG模式，检测结果处理界面，缺陷图上框选缺陷改为WPF绘图 行为 功能 #3627: IRIS返回结构&接口升级 行为 功能 #3643: SPC报表内绘制缺陷Map图，需要支持缺陷自定义颜色和形状 行为 功能 #3656: NG畸变矫正功能开发 行为 功能 #3672: NG 类型MAP导出 行为 功能 #3713: 4.4.0 增加汇总Recipe对应的结果处理界面 行为 功能 #3714: 4.4.0 散射模型系数标定工具针对 明场开发 行为 功能 #3717: 汇总Recipe功能开发 行为 功能 #3747: 4.4.0 InspectionTaskItemCompleted 事件中的Exception入参需要包含详细的错误信息 行为 功能 #3792: 4.4.0 对准前，先计算并移动Z轴至主动聚焦行程内 行为 功能 #3798: 4.4.0 NG结果处理界面，点击缺陷图上缺陷，更新缺陷详细以及右侧缺陷放大图片 行为 功能 #3800: 4.4.0 计算单元闪退重扫的逻辑优化 行为 功能 #3804: 优化：无图形Review，Recipe参数界面只保留一个ReviewFlag参数，放到左侧 行为 功能 #3813: 检测框架中的RedoException（重扫）针对多Recipe同时检测修改 行为 功能 #3827: VIS 界面显示是否是Admin权限启动 行为 功能 #3829: 获取所有可用插件功能优化 行为 功能 #3834: Z轴预计算增加其他方案 行为 功能 #3848: 检测结果文件夹的跨天问题 行为 功能 #3849: 移除加减速区域设定 行为 功能 #3853: 日志管理与分析 行为 功能 #3863: VIS界面、SPC界面和导出模块，MAP图旋转功能开发 行为 功能 #3868: 主动聚焦插件聚焦参数保存，VIS recipe中可选择不同聚焦参数文件 行为 功能 #3877: 【Recipe界面】- 【缺陷分类设置】- 启用默认预设模板 行为 功能 #3894: NoGrid MAP导出改为使用Adapter模式，增加缺陷坐标转化为用户坐标系下坐标的功能 行为 功能 #3895: NoGrid MAP导出改为使用Adapter模式，增加缺陷坐标转化为用户坐标系下坐标的功能 行为 功能 #3898: 缺陷分类设置 - 缺陷范围大小要支持输入小数，例：0.2~0.5，0.5~1 行为 功能 #3902: 4.4.0 自定义缺陷分类允许输入小数 行为 功能 #3905: 4.4.0 自定义缺陷分类，缺陷颜色改为RGBA形式存储 行为 功能 #3908: FPGA版本自研主动聚焦插件，添加串口接收离焦量和Z坐标功能 行为 功能 #3912: VIS缺陷结果界面，可查看自定义缺陷的尺寸及数量（条形图或者数据表样式） 行为 功能 #3934: 优化：修改Mask Size后，提示用户要重置map结构 行为 功能 #3953: 4.4 IRIS检测类型完善 行为 功能 #3954: 晶圆结构上添加显示隐藏的功能 行为 功能 #3956: 4.4.0 保存条带图增加图片格式以及筛选功能 行为 功能 #3962: 设定4.4.0的打包服务 行为 功能 #3982: 4.4.0 ProductRecipe界面增加缺陷合并距离参数 行为 功能 #3989: ATF监测功能，按照条带存储离焦量和Z坐标 行为 功能 #4007: VIS汇总recipe支持缺陷合并 行为 功能 #4013: 系统设置中缺陷区间新增颜色设置 行为 功能 #4019: 4.4.0 NG结果界面根据区间和颜色修改显示逻辑 行为 功能 #4020: 4.4.0 VIS汇总结果显示时，根据配置，合并其他Recipe中距离相近的缺陷 行为 功能 #4023: 将导出的缺陷图片调整为一张缺陷放大图+缺陷信息 行为 功能 #4031: VIS4.4.0 SPC1.2 缺陷类型增加三个空心形状 行为 功能 #4070: NoGrid Map统一 行为 功能 #4223: 开发暗场激光插件 行为 功能 #4257: 开发明场激光器插件 行为 功能 #4430: 非扫描状态，限制暗场激光最大能量 行为 功能 #4855: [开发]合并的缺陷结果修改 行为 功能 #4879: [开发]添加缺陷类型是否启用 行为 功能 #4880: [开发]spc汇总 行为 功能 #4881: [开发]合并的缺陷结果修改 行为 功能 #4943: [开发] Web上Aborted分类细化，例如：人员手动停止，设备异常停止 行为 功能 #4973: [开发]开发并升级数据服务4.4 行为 功能 #4974: [开发]开发并升级ZipData 4.4 行为 功能 #4975: [开发] Review Recipe 添加筛选和限制 行为 功能 #4976: [开发] 缺陷坐标逻辑改造 行为 功能 #4977: [开发] 面阵相机拆分 行为 功能 #4990: 未启用的缺陷类型，在级别设定中不应被关注或修改 行为 功能 #4999: [开发]SPC任务列表改成Job列表，打开后内部可以选择任务 行为 功能 #5043: 激光能量看一下是什么问题 行为 功能 #5044: 确定一下这个是不是从采集卡获取的 行为 功能 #5067: [开发]光源模块改造 行为 功能 #5072: [开发]报警界面与信号灯联动提示 行为 功能 #5073: [开发]SPC上3个窗口自定义显示 行为 功能 #5137: [开发]软件部署检查表4.4 行为 功能 #5206: [开发]线阵光标定 行为 功能 #5207: 线阵相机的面阵模式开发 行为 功能 #5304: [开发] 激光光源业务逻辑升级 行为 功能 #5315: [开发]Review可以配置不同ATF聚焦参数文件，可设置基准Z轴坐标 行为 功能 #5365: [开发]整理Review设计文档，迁移到版本功能中 行为 功能 #5374: [开发] SPC列表，缺陷个数统计显示 行为 功能 #5396: [开发] 整理光源模块相关文档，迁移到版本功能文件夹 行为 功能 #5398: 整理相关文档 行为 功能 #5412: [开发] 无图型参考点z轴坐标与xy坐标分开设定 行为 功能 #5452: [开发] 每天点检模块开发 行为 功能 #5453: [开发]生产界面错误信息提示框内容优化 行为 功能 #5497: [开发] 检测结果显示或导出关键检测参数 行为 功能 #5574: 修改找焦面功能 行为 功能 #5575: 改造ATF数据记录功能 行为 功能 #5690: 思考并完成ATF使用小z的情况，被动聚焦Make0功能的实现 行为 功能 #5719: 4.4.0_Test部分功能合并到4.4.0打包测试 行为 功能 #5740: 显示采用统一的参数 行为 功能 #5773: 研究需求 行为 功能 #6292: 缺陷合并 行为 功能 #6339: [开发]相对坐标的正负号，按客户需求更改 行为 功能 #6378: 相对坐标的正负号，按客户需求更改 行为 功能 #6402: 开发对应功能 行为 功能 #6472: 合并4.4.0 test到4.4.0 行为 需求 #1756: VIS升级.Net 6 行为 需求 #2648: ROI editor 升级 行为 需求 #2702: 创建job、setup、recipe操作优化，建议按树形结构层级添加，显示的时候也按照层级显示，只显示Job对应的Setup 行为 需求 #2900: 建议后期创建无图形或IRIS双面检测，设置好Z轴焦面0，0点默认作为mark点，中心点默认为参考die，die尺寸以中心点往外扩展（夹具中心就是0点位置，放片需要在中心点） 行为 需求 #3152: 自定义缺陷分类设置界面，加个自定义缺陷排序的功能，选中一行，上移、下移 行为 需求 #3171: 检测聚焦方式选择拟合，对于异常拟合的点位，拟合结束后，希望软件在拟合结果列表页支持删除拟合die 行为 需求 #3173: CD检测 算法层需要支持多区域框选ROI，一个ROI可以测试多个测量点位 （航天13所项目） 行为 需求 #3174: 对于阵列式的晶圆，不检测集中几行die，需要对检测结果进行处理，不让它显示在检测结果里 行为 需求 #3238: 开发光源模块 行为 需求 #3407: 取消检测速度和加减速区域设定，取消速度设定 行为 需求 #3456: 无图型缺陷合并功能 行为 需求 #3458: 无图形成组检测 行为 需求 #3473: 无图形检测功能优化升级 行为 需求 #3477: 无图形检测支持手动Review 行为 需求 #3490: B/S报表，缺陷分类显示调整（针对有图形） 行为 需求 #3532: 无图形 支持畸变矫正 行为 需求 #3533: 无图形删除die的概念 行为 需求 #3535: 升级自定义缺陷分类 行为 需求 #3541: 缺陷返回结构&接口升级 行为 需求 #3567: 所有Setup类型和Recipe类型增加对应的MainJob，用于处理不同类型独特的界面，检测流程 行为 需求 #3576: 多个recipe，如何计算分类类别 行为 需求 #3832: 报表显示需要将透射和反射合并为同一个报表 行为 需求 #3862: MAP图旋转, 导出客户相对坐标 行为 需求 #3876: 【Recipe界面】- 【缺陷分类设置】- 启用默认预设模板 行为 需求 #3880: ToDesk免费时长用完后无法连接现场环境 行为 需求 #3928: 上海传芯 - 平台坐标和相对坐标单位要改成um 行为 需求 #3941: 3000U缺陷map优化 行为 需求 #3942: 检测结果增加离焦量曲线 行为 需求 #3974: 导出的缺陷表格里需要加一个缺陷汇总 行为 需求 #3984: 缺陷分布图 - 通过形状区分缺陷类型，颜色区分缺陷大小区间 行为 需求 #4011: 将导出的缺陷图片调整为一张缺陷放大图+缺陷信息 行为 需求 #4215: 3000U机台暗场激光器插件开发 行为 需求 #4833: Review 升级 行为 需求 #4853: 合并的缺陷结果修改 行为 需求 #4854: SPC上3个窗口自定义显示 行为 需求 #4871: Web上Aborted分类细化，例如：人员手动停止，设备异常停止 行为 需求 #4872: 报警界面与信号灯联动提示 行为 需求 #4873: SPC任务列表改成Job列表，打开后内部可以选择任务 行为 需求 #4951: 线阵光标定 行为 需求 #4952: 开发并升级数据服务4.4 行为 需求 #4958: 透射光下线面阵相机检查，是否正确收图（灰度值不总为0） 行为 需求 #5066: 光源模块改造 行为 需求 #5136: 软件部署检查表4.4 行为 需求 #5155: 激光光源业务逻辑升级 行为 需求 #5160: SPC列表，缺陷个数统计显示 行为 需求 #5205: 检测结果显示或导出关键检测参数 行为 需求 #5262: Review可以配置不同ATF聚焦参数文件，可设置基准Z轴坐标 行为 需求 #5263: 报表界面缺陷图右下角添加比例尺，缺陷图统一比例显示，可缩放 行为 需求 #5264: 系统设置缺陷尺寸区间颜色，改为选取的方式 行为 需求 #5364: 整理Review设计文档，迁移到版本功能中 行为 需求 #5380: 每天点检模块开发 行为 需求 #5411: 无图型参考点z轴坐标与xy坐标分开设定 行为 需求 #5441: 生产界面错误信息提示框内容优化 行为 需求 #5771: VIS软件小版本迭代，数据库有新增字段，更新软件前需给出数据库更新脚本 行为 需求 #5957: 无图型缺陷增加OldDefectType字段 行为 需求 #6338: 相对坐标的正负号，按客户需求更改 行为 需求 #6471: 合并4.4.0_Test相关功能至VIS 4.4.0安装包 行为 版本合并 #3960: 4.4.0版本合并打包 行为 设计 #2954: 确认缺陷（同storm） 行为 设计 #3239: 研究光源模块实现方式 行为 设计 #3408: 取消检测速度和加减速区域设定，取消速度设定 行为 设计 #3457: 无图型缺陷合并功能 行为 设计 #3542: 有图形前道/后道缺陷返回结构&接口升级 行为 设计 #3543: 无图形返回结构&接口升级 行为 设计 #3544: AI类型检测返回结构&接口升级 行为 设计 #3545: DB类型检测返回结构&接口升级 行为 设计 #3546: 3D类型检测返回结构升级 行为 设计 #3547: CD类型返回结构升级 行为 设计 #3575: 研究 NoGrid 支持畸变矫正 功能 行为 设计 #3846: 和材质相关的一些参数的配置和使用 行为 设计 #3847: MAP图旋转 行为 设计 #4869: [设计] Review 升级 行为 设计 #4870: [设计]SPC上3个窗口自定义显示 行为 设计 #4876: [设计]报警界面与信号灯联动提示 行为 设计 #4882: [设计]SPC任务列表改成Job列表，打开后内部可以选择任务 行为 设计 #5138: [设计]线阵光标定 行为 设计 #5300: [设计]Review可以配置不同ATF聚焦参数文件，可设置基准Z轴坐标 行为 设计 #5434: [设计] 检测结果显示或导出关键检测参数 行为 设计 #5506: [设计] 系统设置缺陷尺寸区间颜色，改为选取的方式 行为 设计 #5682: 显示采用统一的参数 行为 设计 #6147: 研究需求 行为
4.4.1 打开 86% 491 问题 (415 已关闭 — 76 打开) 相关的问题 功能 #890: NuGet 包：Vinci.FileSaver FTP部分方法未实现 行为 功能 #2528: 4.3.4 2D检测时配置文件设的defect,切换为3D程式，左map图不能选中点击，3D没有适配这个mapselectmode 行为 功能 #2917: Map合并 - map类型、格式相同，map文件名称不同时，是否需要支持合并（待讨论） 行为 功能 #3410: 调研有哪些依赖不支持并处理掉 行为 功能 #3609: AI传图接口修改，传小图改为传条带图,升级算法接口 行为 功能 #3674: SPC支持AI模式 行为 功能 #3866: AI模式，缺陷坐标转换为GDS坐标 行为 功能 #3976: VIS4.4.0合并VIS4.4.1_AI 行为 功能 #3988: 设计用户分类的字典文件 行为 功能 #4119: CD支持一个die上多个ROI 行为 功能 #4120: 后台代码：CD测量支持一个Die上多个ROI 行为 功能 #4132: 切换数据库从Mysql到PgSql 行为 功能 #4133: 新增pgsql的实体类，数据库操作 行为 功能 #4134: 将calcunit中相关的mysql切换成pgsql 行为 功能 #4135: 将plugins中相关的mysql切换成pgsql 行为 功能 #4136: 将vis中相关的mysql切换成pgsql 行为 功能 #4184: 在CDGolden图列表的每项中增加相机R轴 行为 功能 #4189: Goldren图旋转R轴并保存R轴信息 行为 功能 #4192: 设计配置参数的文件 行为 功能 #4193: 设计变量服务类和常量 行为 功能 #4303: 在系统参数中的大小分组功能上添加选项（面积或对角线长度） 行为 功能 #4306: 将所有就得cach数据放到新表中，明文显示 行为 功能 #4339: Gird类型检测界面，导航栏改造 行为 功能 #4381: NoGrid 检测结果界面，数据展示区域改造 行为 功能 #4420: 在本源的adapter上增加导出excel功能 行为 功能 #4455: 无图型检测 行为 功能 #4465: 移植 Die2Golden 检测功能 行为 功能 #4466: 移植IRIS检测功能 行为 功能 #4467: 移植3D检测功能 行为 功能 #4468: 移植DB检测功能 行为 功能 #4494: 将多次检测功能开放出来作为正式功能 行为 功能 #4513: 4.4 插件编辑框全部改成wpf，不允许使用Infragistics 行为 功能 #4515: 当数据库Setting表为空时，获取默认系统参数 行为 功能 #4543: AI 数据从NoGrid类型改成Grid类型 行为 功能 #4544: Grid缺陷数据结构整改 行为 功能 #4601: IRIS 检测结果页面修改功能 行为 功能 #4603: 所有图片保存获取使用png 后缀，使用统一的方法 行为 功能 #4608: SimpleCV中配准方法，支持预加载模型方式 行为 功能 #4610: CalcUnit、Picasso、Plugins项目 图片存取改为PNG格式，统一使用Vinci.ImageHelper中静态方法 行为 功能 #4612: VIS 、DataPrepare图片存取改为png格式，使用Vinci.ImagHelper 行为 功能 #4638: 缺陷图片格式改为PNG,历史结果界面兼容之前的BMP格式 行为 功能 #4794: 测试 dotnet6.0 行为 功能 #4837: 汇总逻辑升级 行为 功能 #4988: [开发]添加bining模式 行为 功能 #5053: 迁移旋转中心参数设置，放在系统参数中，与平台旋转放在一起 行为 功能 #5338: [开发]检测前面阵相机确认是否正常 行为 功能 #5371: [开发] 第一阶段开发，晶圆上分为多个区域，每个区域内部die是相同的 行为 功能 #5387: 新套刻算法界面开发V4.4.1 行为 功能 #5498: [开发] 通过缺陷图片反向再map图上定位缺陷 行为 功能 #5502: [开发]测试部署工具 行为 功能 #5713: [开发]Vinci.Log 可设置保留天数 行为 功能 #5766: [开发]安装时旧参数使用新结构保存 行为 功能 #5806: [开发]线阵和面阵光路切换 行为 功能 #5840: [开发]删除ACS插件 行为 功能 #5845: [开发]无图型检测区域，添加不检测区域（可设定多个） 行为 功能 #5959: [开发]review 支持彩色相机 行为 功能 #6167: [开发] 物镜切换和平台移动时，限制控制面板中其它动作执行 行为 功能 #6191: 【检测任务】数据迁移服务测试 行为 功能 #6210: 【检测任务】自动计算相对于圆中心的偏移 行为 功能 #6487: [开发]缺陷结果中添加对角线参数 行为 功能 #6507: [开发]IRIS 膜框设定作为预设项，用户可以快速选择 行为 功能 #6562: 该加单位都加上单位 行为 功能 #6563: 分析实现需求 行为 功能 #6588: 合并功能 行为 功能 #6660: [开发]UI框架上按钮添加OperationLog, 常用菜单按钮需要固定在菜单栏中 行为 需求 #2320: Core侧新增缺陷类型 行为 需求 #2691: DG模式，划片道很大的片子，只采集Die区域图片 行为 需求 #2798: vis db流程逻辑梳理 行为 需求 #2800: VIS4.4+ 扫描逻辑&线阵插件参数升级 行为 需求 #2821: 左map图与reicpe里面导入路径下的map文件不一致时，目前是继续执行，应该报错 行为 需求 #3040: NoGrid类型统一 行为 需求 #3112: Adapter开发 , Map导出路径 行为 需求 #3337: 【消息推送】追加操作类click事件的消息推送 行为 需求 #3404: [需求] 对准中的配准算法改为SimpleCV中方法后，修改预加载模型方法 行为 需求 #3409: VIS 改成 .net 6.0. 行为 需求 #3799: 4.4.0 NoGrid类型与Core交互接口更新后，旧版本不检测区域的逻辑不再适用，需要开发新的逻辑 行为 需求 #3987: AI 关联用户缺陷分类 行为 需求 #4048: Picasso.Auto.Parameter.SystemSettings改造 行为 需求 #4065: CD支持检测模式 行为 需求 #4101: CD支持Die上多个ROI 行为 需求 #4117: VIS.exe.config文件进行拆分，将配置项的内容单独生成配置文件 行为 需求 #4131: MySql 切换为PGsql 行为 需求 #4191: 创建Variable Service 行为 需求 #4274: CD支持Die上多ROI - ①测量点支持更新 ②添加测量点自动在当前视口采集一张Golden图 行为 需求 #4295: 汇总recipe 支持 NG以外的类型 行为 需求 #4296: VIS_4.4 弃用System_caches表，开发Json序列化的cache表，VIS所有缓存都改为新的cache表 行为 需求 #4334: VIS_4.4.1 结果界面修改 行为 需求 #4338: 检测结果界面改造 行为 需求 #4454: 无图形改造 行为 需求 #4464: 支持4.3版本所有检测类型 行为 需求 #4475: 数据库创建脚本清除脏数据后，针对settings表的读取会导致错误，需处理 行为 需求 #4493: 将多次检测功能开放出来作为正式功能，供客户和测试使用 行为 需求 #4512: 4.4 插件编辑框全部改成wpf，不允许使用Infragistics 行为 需求 #4542: Grid 缺陷数据结构整改 行为 需求 #4600: IRIS 检测结果界面需要能单独查看各表面的缺陷数据 行为 需求 #4602: 公司的测试机台实现循环多次检测，保证各环境长期运行正常 行为 需求 #4647: 针对不同检测类型的Recipe参数整理优化 行为 需求 #4712: 4.4.1 Review适配多光路，同时检测 行为 需求 #4830: [需求] 汇总逻辑升级 行为 需求 #4987: 添加bining模式 行为 需求 #4989: 晶圆上分为多个区域，每个区域内部die是相同的 行为 需求 #5016: 通过缺陷图片反向再map图上定位缺陷 行为 需求 #5052: 迁移旋转中心参数设置，放在系统参数中，与平台旋转放在一起 行为 需求 #5099: 控制面板，打开光源时自动设置亮度、曝光功能升级 行为 需求 #5183: DIE比较大的晶圆 怎么做程式。比如20X镜头检测长宽25mm*25mm芯片 行为 需求 #5337: 检测前确认硬件是否正确，再执行检测 行为 需求 #5363: AI 模式，截取图片，减少图片大小 行为 需求 #5370: Grid类型，需要在Steup添加汇总recipe。 行为 需求 #5501: 测试部署工具 行为 需求 #5712: Vinci.Log 可设置保留天数 行为 需求 #5804: 线阵和面阵光路切换 行为 需求 #5839: 删除ACS插件 行为 需求 #5844: 无图型检测区域，添加不检测区域（可设定多个） 行为 需求 #5958: review 支持彩色相机 行为 需求 #5966: AI 提升检测速度 行为 需求 #6080: 系统参数，哪些需要重启，如何做到强制重启 行为 需求 #6101: 不同的检测类型，Recipe参数区分开 行为 需求 #6149: 在某些场景下，建议VIS界面增加半透明蒙版（提示正在执行的操作），禁止界面有其它交互动作 行为 需求 #6150: 基板厚度测量，调整暗场激光高度 行为 需求 #6486: 缺陷结果中添加对角线参数 行为 需求 #6494: 合并4.4.1_Test相关功能至VIS 4.4.1安装包 行为 需求 #6506: IRIS 膜框设定作为预设项，用户可以快速选择 行为 需求 #6659: UI框架上按钮添加OperationLog, 常用菜单按钮需要固定在菜单栏中 行为 版本合并 #4408: 4.4.1 合并到 4.4 行为 版本合并 #4994: 合并4.1 test 到 m4主干 行为 设计 #4108: 细化CD支持一个die上多个ROI 行为 设计 #4109: 细化后台代码：CD测量支持一个Die上多个ROI 行为 设计 #4340: NoGrid 检测结果界面，数据展示区域改造 行为 设计 #4582: 任务的Aborted 状态，给出更详细原因 行为 设计 #5146: [设计] 晶圆上分为多个区域，每个区域内部die是相同的 行为 设计 #5307: [设计] 通过缺陷图片反向再map图上定位缺陷 行为 设计 #5335: [设计]SPC列表，缺陷个数统计显示 行为 设计 #6081: [设计]系统参数，哪些需要重启，如何做到强制重启 行为 设计 #6151: [设计] 基板厚度测量，调整暗场激光高度 行为
4.4.2 打开 应支持北极星相关功能 82% 47 问题 (30 已关闭 — 17 打开) 相关的问题 功能 #6569: [开发]无图型，IRIS横向扫描功能 行为 功能 #6570: [开发]D2G 后道横向扫描功能 行为 功能 #6625: [开发]拟合聚焦使用啊α坐标 行为 功能 #6666: [开发] Review功能优化 行为 功能 #6711: [开发]支持相关功能 行为 需求 #963: [需求] 光源插件逻辑存在的问题 行为 需求 #1480: [需求] 物镜模块改造 行为 需求 #1761: [需求] 提供JOB被修改时间和人员的信息 行为 需求 #2787: 压缩计算单元安装包大小 行为 需求 #3304: Review功能优化 行为 需求 #6568: 晶圆横向扫描 行为 需求 #6710: Secs/Gem 支持 行为 需求 #6758: 新版本VIS打开旧版本Job时，自动复制一份出来再升级 行为 需求 #6759: 从ViewModel中获取当前Setup的数据版本 行为
4.5.0 打开 30% 7 问题 (1 已关闭 — 6 打开) 相关的问题 功能 #5705: [开发]苏科思平台开发 行为 功能 #6113: [开发] 部署4.5软件，能够看面阵相机，能够移动平台 行为 功能 #6662: [开发] 按指定区域收图，并保存到本地 行为 功能 #6663: [开发] 调试修改4.5代码，与图片服务交互，达到扫描指定区域，并正确收图功能 行为 需求 #5148: 对准前小Z搜索焦面功能，启用项加到系统参数枚举中 行为 需求 #5704: 苏科思平台开发 行为 需求 #6112: 部署4.5软件，能够看面阵相机，能够移动平台 行为