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相关的问题
错误 #3531: 只有小Z机台cd 做检测 ，5X作为粗对准 100X精对准，5X对准点聚焦、框选完 小Z回零 ，再用100X聚焦 ，导致100X无法聚焦。 行为
错误 #3566: 3D机台改为高精度后，采集Golden报错 行为
错误 #4058: 3D检测插件返回频率为浮点型，导致检测失败 行为
错误 #4123: 平台移动时相机视口卡顿，不流畅 行为
错误 #4182: 优化：拟合聚焦采集Mark点，选择Mark尺寸，加个下拉框，可选择预设好的尺寸，可手动输入尺寸 行为
错误 #4198: 检测平台在运动 没有禁用摇杆使用 行为
错误 #4199: 如果摇杆是这样固定，调用X、Y平台方向需要反一下，摇杆操作需要与相机视口移动方向一致 行为
错误 #4200: 操作VIS 软件摇杆使用，相机视口画面移动有顿挫感，打开相机软件 操作摇杆，没有顿挫感 行为
错误 #4201: 切换镜头，摇杆默认中速 行为
错误 #4202: 软件退出，摇杆使用自动关闭失效 行为
错误 #4282: 使用手工测量工具替换不同类型的当前测量结果时，测量结果要么失败要么错误 行为
错误 #4294: 由于自动测量结果可以替换，手工测量结果不可以替换，所以手工测量结果和自动测量结果页面建议分开显示，当前显示在一个页面区分不了 行为
错误 #4313: 开始检测后，CD界面需要增加蒙层。禁止操作 行为
错误 #4327: 在两点中心测量页面点击Point1，再在已有的测量结果中双击X和Y都是0的结果，数据加载到两点中心测量页面，ID显示正确，但是X和Y为空，不显示数值，点击确定按钮有计算结果 行为
错误 #4328: 两点中心测量页面，当前双击圆测量的测量结果作为其中一个point的数据时报错类型不匹配，建议可以成功添加圆测量的XY数据作为两点中心测量其中一个点的数据 行为
错误 #4349: 在两点中心测量页面，选中Point2，再双击测量结果中CD线宽测量的结果，没有任何反应 行为
错误 #4366: 关闭软件确认弹窗没有置顶，会被软盘遮住，导致无法进行任何操作 行为
错误 #4368: 优化：建议加一个控制软盘打开和关闭的按键 行为
错误 #4369: 切换摇杆速度挡位按键，只能切换N和H档，L档丢失 行为
错误 #4372: 软盘切至5X镜头，然后启动CD测量（50X镜头），软件会自动切换至50X镜头，但软盘上显示当前使用镜头不正确 行为
错误 #4377: 点击【移入】在平台移入的过程中再点击前后左右移动，系统会报错 行为
错误 #4382: 通过控制面板：①右键点击移入（打开真空后移入平台） 或者 ②右键点击移出（移出平台后关闭真空），软盘上显示的真空状态不正确 行为
错误 #4410: 测试RoiEditor兼容性 行为
错误 #4444: VIS_4.3.9_ToolSet分支，手动套刻测量参数界面优化 行为
错误 #4445: 打开软件出现插件读取失败的情况（偶现） 行为
错误 #4572: CD测量 - Recipe界面点击程式测量，报错：NoMarkMatchLayer，复现步骤见详细描述 行为
错误 #4621: CalcAgent1.1无法自动启动CalcUnit V4.3.9 行为
错误 #4627: CD测量，实际检测区域和ROI框选区域有偏差 行为
错误 #4628: CD手动测量页面和ROIEditor中的GrayCD算法页面不一致 行为
错误 #4632: 登录界面，部分字符串显示错误，手动切换中英文后才可以正常显示 行为
错误 #4636: 当前有两个Die测量点ROI1和ROI2，删除测量点ROI1，原先的测量点ROI2自动变成ROI1，但golden图显示错误，显示的还是已删除的原先测量点ROI1的golden图 行为
错误 #4644: 圆测量参数：最小面积、最大面积阈值卡控错误（测量圆面积在当前阈值范围内，圆测量失败） 行为
错误 #4655: CD测量 - Die测量点添加超过10个，测量结果和测量点位对应关系错乱 行为
错误 #4681: CD测量 - 算法设置如果将测量点方向选错，测量结果界面异常（这种情况下应该显示测量失败，而不是出现异常界面） 行为
错误 #4683: 通过软盘打开摇杆，摇杆控制不生效 行为
错误 #4685: 点击矩阵键盘上的摇杆控制按键无效 行为
错误 #4691: VIS已注册快捷键异常，打开根目录Ctrl+Shift+V、打开Setup文件夹Ctrl+Shift+S、打开Recipe文件夹Ctrl+Shift+G,文件夹会重复打开 行为
错误 #4753: 畸变校正弹窗内外未自适应 行为
错误 #4754: 点击Distorted image按钮，报错:"未将对象引用设置到对象的实例" 行为
错误 #4755: 点【畸变矫正测试】按钮后，窗口应该切换至畸变矫正测试界面 行为
错误 #4758: 计算畸变校正时，偶现报错："函数执行超时，计算失败！" 行为
错误 #4804: 优化：畸变校正-重置视图后，建议清空ROI 行为
错误 #4894: 配置好算法设置后，点击【程式测量】提示“序列不会包含任何序列” 行为
错误 #4899: 点击recipe名称不可以切换当前recipe的检测结果 行为
错误 #4919: 将MeasurePoint的第一行左ROI关联ROI后，测量结果中没有从指定的ROI中取测量线，还是从图中最左边的ROI取测量线的 行为
错误 #4920: ROI List中有多个ROI，启动检测后测量结果失败，查看VIS的日志报错“Index out of range” 行为
错误 #4924: 删除已有的golden图，重新采图并进行算法设置，启动检测后检测失败，查看VIS日志报错“索引超出范围。必须为非负值并小于集合大小” 行为
错误 #4927: 套刻程式启动检测后测量中和测量完了后显示测量结果的时候，VIS中间列的图标选中的是相机图标，应该选中的是测量图标 行为
错误 #4969: 【系统设置】 - 平台旋转中心为空的情况下，点击确认按钮不应该报错 行为
错误 #4992: 测量结果的折线图中只显示自动测量的结果，但是右侧的测量结果分析的数据包含了手工测量结果 行为
错误 #5049: 在已有的recipe中重新添加一个Die测量点和golden图，并在算法设置中依次配置inner图层和outer图层，未关联ROI，检测失败，计算单元日志提示错误信息“The given key ‘Right’ was not present in the dictionary.” 行为
错误 #5054: 重新添加Die测量点和golden图，正确配置InOverlay算法并框选对应ROI，启动检测后检测失败，日志文件报错“索引超出范围。必须为非负值并小于集合大小。” 行为
错误 #5071: 偶现：圆测量结果超出参数设定范围（例如：最大像素面积） 行为
错误 #5104: 手动测量结果页面的序号不是从1开始，是用自动测量结果页面中最大的序号加1后的数值显示的 行为
错误 #5105: 切换到手动测量结果页面时，折线图和数据分析的数据仍保留自动测量的结果 行为
错误 #5106: 右击recipe名称，自动测量页面显示自动测量结果，使用CD手动测量生成手动测量结果后，点击自动测量按钮切换到自动测量页面，发现已有的自动测量结果没了 行为
错误 #5108: CD和套刻测量结束后，自动测量页面中选中的是最下面的序列最大的那行数据，但标记第几张图片的数值是1 行为
错误 #5127: 套刻程式启动检测后，配准成功后，一直卡住不继续测量 行为
错误 #5141: DB支持CD测量 - 创建数据准备，无法修改测量参数 行为
错误 #5147: CD手动测量 - 圆测量结果不正确 行为
错误 #5159: 3D的检测输出目录由3DRaw变更为InspectDefectImgs 行为
错误 #5163: CD测量 - 点【程式测量】报错：“未将对象引用设置到对象的实例”，自动测量结果也被清掉 行为
错误 #5167: 基片翘曲度检查参数 - ①安全高度阈值、平整点位坐标无法输入负值 ②删除平整点位坐标，仅剩一个坐标点位时无法删除 行为
错误 #5173: CD测量 - Die上多测量点，只要有测量点测量失败，左下角map图上的die应该用红色标记（目前检测发现：die上多测量点，最后一个测量点成功用绿色标记，最后一个测量点失败用红色标记）M3、M4均需要修改 行为
错误 #5186: 晶圆结构重置后，检测Die超出晶圆结构，点击Recipe进入设置界面，提示文案优化：晶圆结构已更改，检测die超出晶圆结构范围 行为
错误 #5187: CD测量 - ATF被动聚焦，测量点出现虚焦情况（手动移到该测量点位置，执行被动聚焦，可以找到清晰的焦面） 行为
错误 #5191: 导入文件建议以excel表格导入 行为
错误 #5192: 导出文件应该可以到文件夹的下一级，并且可以自定义保存的文件名称 行为
错误 #5193: CD 圆手动测量，中心店坐标显示0,0 导致后面ROI位置不对 行为
错误 #5202: JAI相机 - CD测量时关闭自动曝光 行为
错误 #5204: 建议：只要软件不退出，手动测量结果不要自动清空 行为
错误 #5209: CD测量 - 无法删除或清空手动测量数据 行为
错误 #5211: CD测量 - 手动测量结果会叠加显示 行为
错误 #5223: 4.3.9_Test每次软件重启后，平台都会执行home动作 行为
错误 #5224: DB支持CD测量，测量参数的存放路径不正确，导致所有支持CD测量的数据准备都读取这一个CDJson文件 行为
错误 #5225: DB支持CD测量，测量报错，测量任务无法终止 行为
错误 #5226: DB支持CD测量，测量参数设置界面要支持最新的ROI 行为
错误 #5257: CD手动测量，报错：序列号不包含任何元素（测水平线宽必现） 行为
错误 #5258: CD手动测量 - 手动测量结束后，页面切到自动测量结果了 行为
错误 #5260: 对准的时候，矩阵键盘可以切换镜头，移出平台的操作 行为
错误 #5261: 对准后不关闭弹窗，点击stick按钮虽然是off状态，但仍可操作遥杆 行为
错误 #5270: 多次删除已有的golden图重新采图或者更新golden图操作后，启动检测失败，日志报错“索引超出范围。必须为非负值并小于集合大小。”（偶现） 行为
错误 #5285: 矩阵键盘，点home键时，再点击平台移出或移入，home键一直显示run状态 行为
错误 #5297: 三色灯显示不正确：就绪状态、运行状态、异常指示灯状态，灯塔均显示黄色 行为
错误 #5298: 矩阵键盘按键及摇杆禁止操作场景：①对准过程中 ②检测过程中 ③平台Home、移入、移出过程中 ④镜头切换过程中 行为
错误 #5299: 镜头切换，键盘按键上状态显示变换：①未使用显示off ②切换过程中显示run ③切换结束显示（成功on，失败off） 行为
错误 #5305: CD算法设置里面切换一下golden图层软件会闪退，再次打开之后还会复制算法图层 行为
错误 #5306: CD测量结果，手动测量替换报错 行为
错误 #5310: DB支持CD测量 - 导入DP报错，调用的目标发生了异常 行为
错误 #5323: 删除CD测量算法测参，AutoAngle自动矫正选项 行为
错误 #5324: CD测量阈值默认50 行为
错误 #5341: 用了相对偏移检测后，再点die定位，下面不显示golden图 行为
错误 #5342: CD历史检测结果，重复性导出，excel表格排版修改 行为
错误 #5343: 隐藏CD参数，AutoAngle 行为
错误 #5345: 【程式测量】替换功能报错 行为
错误 #5352: CD使用【根据Die定位】检测，会判断【根据相对偏移定位】检测的检测镜头 行为
错误 #5353: 对准异常，点停止无效 行为
错误 #5357: 选择CD001光源模块，只配置透射光插件，重启软件点击卡顿，不能正常使用 行为
错误 #5360: CD测量 - 查看历史测量数据，map图未更新 行为
错误 #5368: CD一个die上多个测量点，golden图光源类型不同，测量中，光源不会切换 行为
错误 #5376: V4.3.9_TEST编译环境启动的VIS，点击退出按钮，再在确认弹窗中点击Yes按钮，页面卡住不继续动作了 行为
错误 #5377: 3D打开历史记录报错 行为
错误 #5388: 焦点检测过后再次点击没有执行动作 行为
错误 #5392: 系统设置删除一条安全高度记录，【焦点检测】点击无效 行为
错误 #5395: 点击程式测量按钮进行测量后，测量结果在手动测量页面第一行时，其序号却显示为M2 行为
错误 #5399: 平整度不合适，软件检测报异常，再点就【焦点检测】无效 行为
错误 #5402: 选择检测介质，只能切一次才能选到想要的介质上面走焦点检测，建议选中某个后点确认按钮 行为
错误 #5403: 界面问题：①字体显示不全；②无效参数。 行为
错误 #5404: 选择一个点位删除，提示让选择一个点位 行为
错误 #5407: CD类型的程式，点击程式测量的替换当前按钮或者CD手动测量页面的替换当前按钮，都不会替换已选中的手动测量结果，而是新生成一条测量结果 行为
错误 #5409: CD类型的程式有两个Die测量点，第2个套刻算法对应的测量点ROI2提示未找到Mark，手动点击跳过按钮，检测完了后自动测量结果页面没有测量点ROI2的测量结果 行为
错误 #5414: 启用uv光进行检测，对准完后，任务异常结束 行为
错误 #5415: 编辑InOverlay套刻算法，界面显示空，无法编辑也无法重新选择 行为
错误 #5421: Table 'tornado_db.system_settings' doesn't exist，排查一下哪里调用了这张表（VIS4.3） 行为
错误 #5425: 手动测量结果页面已经有多个测量结果，选中M1后在CD手动测量窗口或者程式测量窗口点击替换当前按钮，替换后的M1结果显示在最下面一行 行为
错误 #5427: 选中手动测量结果中任意1条数据进行删除操作后，左边的图片仍是已删除的结果对应的图片 行为
错误 #5437: 1.未选中状态，移入也能做寻点检测；2.选中某个基片，平台不移出点移入也能做寻点检测 行为
错误 #5438: 基片选择窗口有时会遮挡启动窗口，导致界面无法操作 行为
错误 #5439: 软件运行中，也可以切换基片类型 行为
错误 #5440: 新增基片，提示名称重复，界面显示未有重复名称 行为
错误 #5444: 单位显示的不对，应是mm 行为
错误 #5445: 基片选择窗口可以打开多个 行为
错误 #5446: 点位选择，选择一个点位有时会连带别的点位一块选上；选中一个点位，有时按删除无效 行为
错误 #5447: 新增基板类型没有对命名做限制 行为
错误 #5448: 移出的时候系统没有设为【未选择】，再次移入会报未选择基板 行为
错误 #5504: 55所gds cd功能检测报聚焦超时 行为
错误 #5512: 选中任意一个CD手动测量结果进行程式测量的替换当前操作，一直等待计算单元返回，不继续动作 行为
错误 #5514: 先选中手动测量结果中的M1（对应算法是GrayCD算法的），再点击Die测量点ROI2（对应算法也是GrayCD算法）的程式测量的替换当前操作，仍提示“没有选择相同类型的测量结果进行替换” 行为
错误 #5522: GDS支持CD测量，Golden信息：光源类型、曝光、亮度、颜色不允许手动修改 行为
错误 #5525: 在系统设置里面添加样片信息，样片类型页面显示为空 行为
错误 #5526: vis里面的Picasso.Alg这个库和GrayCD这个界面的版本不匹配，cd算法层为空 行为
错误 #5543: JAI面阵关闭硬件后重置ROI 行为
错误 #5549: 弹窗内容重复 行为
错误 #5552: 已选择基片，平台移入后报未选择基片 行为
错误 #5553: 日志里面没有打印测高点位的数据 行为
错误 #5555: 移入界面有错误框弹出 行为
错误 #5560: vis测量结果为0，日志里面显示有结果 行为
错误 #5570: 平台移入状态下未勾选【基片切换】选择【基板】，再勾选上【基片切换】点移入会扫描点位，测高完成后移出平台，基片页面重新打开还是被置灰 行为
错误 #5582: 读到的基板限位值和设置的不一致 行为
错误 #5592: Picaaso.Alg，Picaaso.UI版本不匹配，套刻算法图层缺少roi坐标 行为
错误 #5593: 光源插件隐藏光源颜色设置 行为
错误 #5595: CD测量报错：平整检查阈值错误（系统设置 - 并未勾选检查基片平整度） 行为
错误 #5597: cd手动测量报【序列不包含任何元素】 行为
错误 #5607: VIS切换被动聚焦环境(基于图像清晰度)，GDS支持CD测量时，没有执行被动聚焦 行为
错误 #5608: VIS对准镜头、检测镜头和数据准备程式保持一致，检测时报错：检测镜头与数据准备检测镜头不一致！（数据准备编辑对准镜头从10X变成5X后，重新标记Mark点、重新框选测量区域保存，VIS重新选择DP可复现） 行为
错误 #5612: 套刻测量在map图上的显示没和线宽测量做区分（之前显示的是回字形） 行为
错误 #5618: 系统设置光源类型，uv光曝光给的上限时间不够使用 行为
错误 #5624: 首次打开软件，面板没有显示光源类型（系统设置里面默认光源是勾选的） 行为
错误 #5625: 修改 曝光时间后，点【历史设置】恢复记录，有错误弹窗 行为
错误 #5626: 不勾选透色白光，以前的job对准（用了透射白光）仍可以对准成功 行为
错误 #5627: 150x切5x时画面会过曝一下，然后再恢复正常 行为
错误 #5636: vis打开后，直接点移入报错（系统设置勾选【切换基片】） 行为
错误 #5638: 选择基片，启动检测，异常结束，报找不到基片配置信息 行为
错误 #5639: 内容显示不全，单位冗余 行为
错误 #5640: 不勾选【切换基片】重启软件后，移入平台会报未选择基片 行为
错误 #5641: 【选择基片】窗口打开后，修改平整度阈值，选择基板移入，报高度不在传感器测量范围，再次移出移入选择同一个板子又报了安全 行为
错误 #5643: 通过控制面板关闭光源失败 行为
错误 #5645: CD程式，拷贝一个Recipe，打开Recipe更新某个测量点偏移，报错：未将对象引用设置到对象实例 行为
错误 #5649: 新4.3.9test程式测量保错 行为
错误 #5662: 新编译版本系统设置里光源类型参数不能编辑修改 行为
错误 #5663: 自动测量，图片不清晰；检测结束后，点击【对准测试】报错 行为
错误 #5668: 【讨论】测高结束后，移出平台，点击移动到Mark点位，可以移动，移动之前没有加判断 行为
错误 #5711: CD采集golden图像正常，测量过程中图像过曝 行为
错误 #5734: 检测结果跳过一个，检测不结束 行为
错误 #5744: cd检测完成，右键切换检测结果map图没有跟着变 行为
错误 #5745: cd配准失败，会跳过测量点1 行为
错误 #5750: CD测量 - 执行CD测量每天会创建一个空的tbl_inspection_result表 行为
错误 #5752: CD测量数据迁移，数据库tbl_inspection_cd_new表中的测量数据未迁出 行为
错误 #5763: 无法查看已迁移走的CD测量历史数据，且加载框不会消失 行为
错误 #5764: VIS_4.3.9Test数据服务弹窗同步V3 行为
错误 #5778: [检测任务]矩阵键盘 行为
错误 #5782: dp文件选择的是从查询日期的筛出来的文件，确认后报错 行为
错误 #5785: 摇杆启用的图标黑色的摇杆图标 行为
错误 #5786: 平台IN和OUT按钮，点击后，先显示黄色字体，表示在动作中，等成功到达移入点位或移出点位时，IN或OUT会显示绿底黑字 行为
错误 #5787: 检测异常 蜂鸣响起 解除告警无效 行为
错误 #5808: 启动检测时对准失败，提示光源类型不一致 行为
错误 #5811: 移入移出 导致导致键盘倍镜状态没了 行为
错误 #5812: 矩阵键盘禁止铃不生效 行为
错误 #5814: [检测任务]CD测量速度 行为
错误 #5820: 切换镜头报错 行为
错误 #5824: 连续检测，中途acs异常需要home 行为
错误 #5829: 在“threshold"输入小数，有错误框弹出 行为
错误 #5831: 聚焦方式多了一个选项 行为
错误 #5846: 重复性导出历史测量数据时，“生成数据中...”加载框不消失（偶现频率比较高） 行为
错误 #5847: 重复性导出结果，Operator名称显示不正确 行为
错误 #5858: cd的DB模式，对准和当前应用的光源参数一样，报光源不一致 行为
错误 #5859: 4.3.9 die to golden检测结果翻页后报错 行为
错误 #5861: 提示内容词语重复 行为
错误 #5865: 内容显示不全 行为
错误 #5866: 【被动聚焦mark0】要放到被动聚焦下面 行为
错误 #5868: cd测量完成后结果定位，只移动xy, z没动，定位时要加上z 行为
错误 #5869: 移入移出按钮要放大 行为
错误 #5885: 输入框的位置需要全部对齐一下 行为
错误 #5888: 检测成功的点位在map图上也被标记红色 行为
错误 #5891: CD测量点采图时，出现OneShot wait too long，*****ResetFocus imgCur == null 行为
错误 #5899: 系统设置保存的时候提示：10x不能为未启用光源 行为
错误 #5901: 采集golden后offset的值是零 行为
错误 #5902: 打开真空，点移入也报真空异常 行为
错误 #5905: 无真空，执行对准、检测动作、镜头切换，无判断提示并且动作可以照常进行 行为
错误 #5913: 控制面板：R轴角度输入框输入 1 ，回车R轴旋转1°，输入框内值变成0.221 行为
错误 #5914: 第一个点位跳过检测 行为
错误 #5915: DB支持CD测量 - 打印Error日志，见下截图↓ 行为
错误 #5934: CD线宽标定 - 导入标准线宽数据比较多的情况下，页面无法滚动导致无法生成保存数据 行为
错误 #5935: 兼容自定义缺陷信息一栏的数据，比如自定义缺陷名称等 行为
错误 #5936: 执行3D检测报错：无法达到目标灰度，请检查光源或参数设置（检测版本：VIS4.3.9_Test ） 行为
错误 #5943: 无真空报了真空异常，但是镜头可以切换 行为
错误 #5944: cd检测结果上面会出现有两个光标，检测结果就会无法选中 行为
错误 #5948: 手动圆测量 - 最小圆度设0.1，圆测量结果正常，最小圆度设置其它值，圆测量失败 行为
错误 #5961: 手动圆测量 - 参数阈值目前无法设置为0，要支持设置为0 行为
错误 #5962: 光源模块设置点击报错 行为
错误 #5963: 程式测量调用无配准图层算法测量失败，报内存不足（磁盘还有93G) 行为
错误 #5968: 【系统设置】- 【镜头设置】 - 【面阵视场像素】文案描述多了一个像素 行为
错误 #5969: 采集两个golden图设置无配准，勾选平均光源亮度，测量点位2报找不到mark 行为
错误 #5970: cd测量勾选使用光源亮度，测量点位1的光源亮度时光源还没打开（对准完成后关闭光源）测量结果不对 行为
错误 #5982: vis初始化成功，报真空异常 行为
错误 #5984: 3D高度测量 - Recipe参数勾选仅测量，测量结束后没有显示高度测量结果 行为
错误 #5991: 进入Recipe设置界面全屏后，返回按钮丢失 行为
错误 #5996: 安装计算单元，配置文件多 两个反斜杠 行为
错误 #5998: 软件退出后，矩阵键盘的AF和PF按钮还处于高亮状态 行为
错误 #5999: 启动软件后，点击矩阵键盘光源按钮，光源打不开 行为
错误 #6007: 对准执行被动聚焦及测量使用被动聚焦，控制面板被动没有高亮 行为
错误 #6011: 平台移入状态 - 要禁止通过键盘切换基板 行为
错误 #6012: 真空开着的情况下启动软件，键盘真空按钮不是打开状态 行为
错误 #6018: 移入移出状态，真空异常，可以移动xy ,切换镜头，对准，移动到mark，定位等 行为
错误 #6019: 无片子，移入报真空异常，移入平台异常，重新放上片子移入还报移入平台异常 行为
错误 #6021: 真空正常，移入平台后，Z限位还是零(没勾选系统设置里面的切换基板） 行为
错误 #6024: 系统参数 - 勾选切换基片或夹具，平台移出状态，不选择基片，点击【IN】按键，按钮一直处于移入中状态，键盘上左右按键均点击无相应了 行为
错误 #6026: 系统参数 - 勾选切换基片或夹具，VIS界面选择基片，控制面板点平台移入，测距失败后，键盘的【IN】按钮一直高亮（移入中状态），导致其他按钮无法正常使用 行为
错误 #6027: 平台移入状态 - 不能切换基板，但已选择的基板，键盘按钮应该是高亮状态 行为
错误 #6028: 勾选切换基板，夹具上有片子，点移入报真空异常（真空正常） 行为
错误 #6029: 真空异常，Z限位置为零，重启软件后，初始化acs msg失败（z还是被置为0） 行为
错误 #6031: 初始化成功，报真空异常 行为
错误 #6032: 启动软件，线阵相机插件初始化失败（ 非UI线程全局异常） 行为
错误 #6045: Roieditor分版本放入环境变量对应文件夹中，VIS需根据版本修改读取路径 行为
错误 #6049: 移出状态，真空异常，基片选择窗口，不能选择基片，点击没反应，并且不选择片子也可以做移入动作 行为
错误 #6050: 测量完成后，上传map文件的时候有报错信息 行为
错误 #6057: 圆测量后，选择数据点击【结果导出】导出的是空白文件 行为
错误 #6059: 测距失败，移出状态，选择其他基板，点移入，没执行移入动作并且还提示已失败 行为
错误 #6060: z超过限位，error里面有日志输出，vis状态栏中也重复输出 行为
错误 #6061: 真空异常之后，重启软件，无片子，移入平台不报真空异常，PLC返回的是true 行为
错误 #6062: 打开基片选择窗口选择板子后，关闭窗口，点移入，提示选择板子，但是再打开基片窗口，是有选择板子的 行为
错误 #6063: 测距完成，平台状态还是移出状态 行为
错误 #6065: 圆测量图层没有绘制roi检测区域的时候，点击程式测量，会有弹窗报错 行为
错误 #6067: 被动聚焦硬触发模式 - 控制面板处点击【被动聚焦】聚焦异常 行为
错误 #6068: 1.结果导出，y的数值取错了，详见截图，2.将圆度和直径的值显示在导出结果中，去掉文件中没有用到的“radious”3.结果小数取值和vis保持一致，取一样的位数 行为
错误 #6070: roi框选圆形roi,程式测量的时候提示“序列不包含任何匹配元素” 行为
错误 #6071: 测距完成，界面还是置灰状态，没有释放 行为
错误 #6072: 已是移入状态，点击移入后置灰页面后又释放，此时置灰有点多余 行为
错误 #6075: 不勾选【切换夹具或基片】点移入提示要打开基板选择窗口 行为
错误 #6076: 手动测量窗口，点击被动聚焦，框选ROI后，被动聚焦按钮卡死 行为
错误 #6077: 字没显示全 行为
错误 #6078: 对准失败报“camera one shot failed" 行为
错误 #6079: 移入状态，真空正常，点击启动有时会报真空异常(判读有时会不正确），读取DM1101,返回的是false 行为
错误 #6084: 没有框选roi的提示可以加上图层的名字，或者去掉前面的数组标号 行为
错误 #6086: 切换程式，修改roi之后，启动程式测量会有弹窗错误 行为
错误 #6088: 点击【被动】按钮后，不框选ROI，打开别的job，被动按钮还是高亮状态 行为
错误 #6090: 点击【被动】按钮后，没框选roi,提示框消失后，可以做别的动作例如框选旋正，移动平台，被动按钮还是高亮状态 行为
错误 #6091: 平台移入状态，应该是禁止切换基板的，目前通过键盘按键和VIS基板选择弹窗均可以切换基板 行为
错误 #6092: 未选择基片，点移入按钮，提示语优化：请选择基片 行为
错误 #6093: 平台移出状态 - 通过键盘选择基板，然后点【IN】移入按键，一直提示：请打开基片选择窗口 行为
错误 #6094: 对准测试报错：Camera one shot failed 行为
错误 #6099: 测量的时候再点测量，测量结果会多份 行为
错误 #6100: 【移入】按钮方块看着像缺少边 行为
错误 #6103: 一个die上测量两个点位，分别是横线条和竖线条，检测完成，map图上die是红色的 行为
错误 #6104: 套刻不支持定位（定位没带z) 行为
错误 #6106: 算法设置勾选了Auto，自动测量、程式测量，测线宽，有时测的结果不对 行为
错误 #6107: InOverlay算法参数界面 - 隐藏参数LoopCount、SampleNumber，界面调整见↓截图 行为
错误 #6109: 控制面板点击【移入按钮】弹出基片选择弹窗，点【x】关闭弹窗，不应该报：Waiting 行为
错误 #6110: 2025-9-12 18:50开始CD持续检测 ，到2025-9-13 08:57一直报chuck真空异常 行为
错误 #6111: 4.3.9tag测量db的cd测量，插件使用的是sensor，默认用主动聚焦，启动检测报找不到mark，应该没有这个提示语，而是聚焦插件的问题 行为
错误 #6118: 切换光源，控制面板可切换至RE365,但键盘不可以 行为
错误 #6119: 在KeyboardConfig.json文件中，设置AF按键不可见，但矩阵键盘上【AT按键】依然可见 行为
错误 #6126: 查看CD测量历史数据，经常会报数据被清理或不存在 行为
错误 #6127: 查看CD历史数据太慢了，70多个测量点，查询要时间要16~17秒 行为
错误 #6128: 移入测距结果ok,启动检测又报不平整，两次结果不一致 行为
错误 #6131: 软件盘点移入，测距完成不会改变移入状态 行为
错误 #6134: 结果导出的圆直径显示错误 行为
错误 #6137: 优化：将CD算法参数设置为默认，建议弹窗提示确认：是否将当前参数设置为默认？【确认】or 【取消】 行为
错误 #6141: 手动测量，只有最后一条数据可以定位，其余不行 行为
错误 #6142: 测量结果界面，鼠标悬停显示的提示内容是半径radius，并且显示的数值是X轴的值 行为
错误 #6145: 不勾【HasGolden】做程式测量结果显示了行列 行为
错误 #6154: cd的db模式也显示了【HasGolden】，之前的【应用当前设置参数】页面没了 行为
错误 #6155: cd_gds模式检测,提示roi尺寸错误 行为
错误 #6158: CD测量根据相对偏移定位 - 设置的光源类型在测量过程中并未生效 行为
错误 #6164: 算法设置，1.圆最大面积现在只能输入9999 2.相关属性参数放到一起，3.参考手动测量roi，设置各个参数的默认值 行为
错误 #6185: cd启动检测，任务中间停止，点击【结果导出】会报“集合已修改” 行为
错误 #6186: 启动页面片子状态是一直是缺失（无在位传感器），建议先不显示此项 行为
错误 #6194: 工具【cd标定】按钮点击报错 行为
错误 #6195: 根据相对偏移采集golden启动检测，测量的点位的位置不对 行为
错误 #6198: 软件退出，反射光源未关闭 行为
错误 #6199: 根据die定位检测完成切到相对定位原来roi框选的图不正常（缩放比例变了） 行为
错误 #6200: 点击roi后，移动平台再框选roi,roi 按钮就一直绿色状态 行为
错误 #6201: 手动测量替换当前数据点取消后，原数据也不存在了 行为
错误 #6203: 双击相对偏移点位，手动测量后，点击定位移动的位置不对 行为
错误 #6204: 基于sensor主动聚焦，db_cd测量报没配置插件 行为
错误 #6205: cd_gds测量、根据die检测测量，检测位置都不正确 行为
错误 #6206: 点击平台移入报错：①移动异常 ②移入平整度检测异常 ③Stage in error ，复现步骤见详细描述 行为
错误 #6207: CD测量 - 采集Gloden图时记录的光源类型枚举值错误，导致检测时提示：对准光源和Golden光源不一致 行为
错误 #6208: ①CD测量结束后，测量点在Map图上的绘制位置不正确 ②添加检测点位，点位在map图上绘制的位置不正确 行为
错误 #6209: 控制面板打开主动聚焦，手动测量再点聚焦，面板主动被动都高亮显示 行为
错误 #6211: 手动测量导出数据，全部勾选，导出后只有后面四条数据 行为
错误 #6212: 手动测量 - 选择聚焦，框选ROI，点击测量，被动聚焦完成后，没有测量结果 行为
错误 #6213: CD测量 - hasGolden，程式测量报错：序列不包含任何元素 行为
错误 #6225: 【系统设置】- 不勾选切换基片或者夹具，启动软件后，点【移入】按钮，平台移入后报错：Z轴超过了限位 行为
错误 #6227: cd标定，【导出所有】导出后报“已生成”提示语不合适 行为
错误 #6228: 线宽标定，导出后，再导入，报错 行为
错误 #6231: 标定黑色竖线，计算导出导入后，其他3种类型也分别导入了 行为
错误 #6233: 编辑CD_GDS文件，点击【下一步】报错：设计文件未指定或者不存在！（使用版本：DataPrepare_1.0_trunk_0918） 行为
错误 #6234: CD_GDS检测模式，对准后导入DP文件报错：对准和GDSMark坐标偏差过大 行为
错误 #6236: 线宽标定，导入标定文件测量结果没有应用上 行为
错误 #6237: CD测量 - 根据die定位，检测时点位不正确 行为
错误 #6239: 新机台无入口配置map类型，导致导出功能无法使用 行为
错误 #6241: Recipe界面，双击【程式测量】按钮，软件闪退 行为
错误 #6242: 打开软件，首次进入Recipe界面，点击【程式测量】，报错程式测量失败：发生一个或多个错误 行为
错误 #6244: cd测量sensor被动聚焦步数步长调过后采图仍不清晰 行为
错误 #6245: cd当前已有导入数据，导入标准文件后没有确认框 行为
错误 #6247: 查看CD历史测量数据，测量点位在小map图上绘制位置不正确 行为
错误 #6248: 勾hasgolden和不勾hasgolden【程式测量】按钮弹出后界面不统一 行为
错误 #6249: 勾了hasgolden【程式测量】替换计算单元在等待返回 行为
错误 #6250: 手动测量 - 测量完成弹窗确认测量结果报错:序列不包含任何匹配元素（复现步骤：启动软件，首次执行手动测量） 行为
错误 #6251: 软件重启后，点击历史数据，双击加载后，定位测量数据，定位位置不对 行为
错误 #6252: VIS界面最小化后再打开，线宽标定类型的tab栏丢失 行为
错误 #6255: 查看CD历史数据定位的时候，光源打不开 行为
错误 #6256: 手动测量 - 勾选聚焦，测量过程中切换自动测量和手动测量tab，报错：未将对镜引用设置到对象的实例（必现） 行为
错误 #6257: cd两个recipe，第二个recipe成功测量几个点位后，停止，查看历史数据，报数据被清理或不存在 行为
错误 #6258: 手动测量回字形套刻，确认结果页面结果是0，0,确认后有具体数字（确认页面值不正确） 行为
错误 #6259: 启用主动聚焦，勾选hasGolden，自动测量时整个VIS界面卡死 行为
错误 #6260: 优化：套刻测量结果显示不全 行为
错误 #6263: 导入标定文件后，清空数据，再导入标准文件，线性度还显示已计算 行为
错误 #6267: 3mark点对准，map图上少绘制了一个mark标记 行为
错误 #6268: CD测量 - 根据相对坐标偏移定位，实际测量结果并不是在设定的基板测量点位进行测量的 行为
错误 #6269: 平台移入报真空异常 行为
错误 #6270: CD测量 - 导入数据准备报错：ROI框选区域超过视口大小 行为
错误 #6271: 沿着X轴正方向移动坐标，相机视口下看的画面是往左下角移动的 行为
错误 #6272: 对准测试 - 粗对准5X，精对准50X，50X镜头下主动聚焦还没聚清楚就开始报对准失败 行为
错误 #6273: CD测量启用主动聚焦，聚焦过程中会出现Z轴超限位的情况 行为
错误 #6274: 优化：创建支持CD测量的数据准备，如果测量参数未设置，点【完成】按钮时给出提示 行为
错误 #6276: 画面过曝后，灰度值设低后自动亮度不能调整画面还是过曝 行为
错误 #6282: 控制面板切换光源类型，曝光值出现错乱 行为
错误 #6283: 自动测量检测完成后切到手动测量（无测量数据），切了两次，自动测量第一条数据显示窗口是黑图 行为
错误 #6287: 【检测任务】控制面板处可控制光源能量 行为
错误 #6288: 测量标定范围外的线宽，测量值为负数 行为
错误 #6289: 更改控制面板上的光源能量后采集golden或框选Roi，测量时用的还是系统设置里面的亮度 行为
错误 #6290: 编辑数据准备文件报错（偶现） 行为
错误 #6291: 控制面板切换光源，从透射White切反射White时，透射光未关闭 行为
错误 #6293: 平台移出，切换Job/Recipe后，需要：①R轴回零 ②置空对准状态 ③还原基板坐标原点 行为
错误 #6294: 检测启动前，每个样片启动阶段校验磁盘空间是否大于50GB，否则报错不给检测 行为
错误 #6295: CD_GDS测量，对准完成后，双击map图上的点位出现轴限位的情况（考虑坐标系转换问题） 行为
错误 #6296: 3Mark对准 - 对准过程中移动到对准点后，面阵视口下没有刷新当前点位的显示画面 行为
错误 #6297: 控制面板亮度变0，导致自动测量光标定从0开始，标定会失败 行为
错误 #6303: 启用两点对准，需要清空涨缩值 行为
错误 #6304: CD_GDS测量 - 编辑测量区域：放大GDS图框选测量区域，复位后查看框选的测量区域不正确 行为
错误 #6305: 套刻【程式替换】，取消后原结果没有了 行为
错误 #6306: 正交性标定计算结果不正确 行为
错误 #6307: 软键盘上【主动聚焦】、【被动聚焦】能同时打开 行为
错误 #6311: 报表点击报错；存图按钮也没反应 行为
错误 #6323: 通过点击map图定位，定位方式不正确 行为
错误 #6324: CD_GDS测量 - 选择DP文件弹窗，点击【Cancle】按钮无效 行为
错误 #6331: 首次通过测试编译工具拉取4.3.9_Test代码，编译不成功 行为
错误 #6340: 通过平台相对移动，移动坐标不正确 行为
错误 #6341: 优化：手动测量 - 判断自动亮度状态是否打开，如果是打开状态，记录状态，测量时先关闭自动亮度，测量完成后再打开自动亮度 行为
错误 #6344: 优化：①启动检测时，如果对准光源和采Golden光源不一致时，应该在检测前校验给出提示，不要在检测中抛异常 ②根据相对坐标偏移，不勾选hasGolden，框选ROI时，如果当前光源与对准光源不一致，给出提示：当前光源和对准光源不一致 行为
错误 #6351: 对准完成后，点击移动到参考点，R轴回零了 行为
错误 #6352: 对准完成后，控制面板切换低倍镜，点击左下角GDS-Map图点位，报错：未找到与当前镜头一致的对准策略 行为
错误 #6359: CD_GDS测量 - 采集Golden信息，亮度值无法更新保存 行为
错误 #6363: CD测量 - Job中包含多个Recipe，测量完成后查看历史数据，只有第一个Recipe可查看历史数据，其余Recipe查看历史数据时报错：数据被清理或不存在 行为
错误 #6364: 手动测量 - 不需判断是否做过对准，也不需要判断当前光源和对准光源是否一致 行为
错误 #6370: 输出状态栏 - 实现基板坐标和平台坐标的显示转换 行为
错误 #6371: 插件Plugins.PLC.Keyence.dll的MD5值，通过测试编译工具打的包和手动打的包不一致 行为
功能 #2672: VIS框架增加动态修改界面布局接口（菜单、ToolBar） 行为
功能 #3450: ACS peg相关修改 行为
功能 #3466: 3D 取消速度设定，改用自动计算方式获取最佳扫描速度 行为
功能 #3467: 3d 取消像元大小设定，改用获取或自动计算方式，从插件获取 行为
功能 #3468: 新自研ATF 改造为插件 行为
功能 #3469: 支持CalcAgent 1.1 行为
功能 #3480: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为
功能 #3520: 菜单按钮合理分类 行为
功能 #3521: 添加常用菜单按钮快捷键 行为
功能 #3524: 删除【WaferType】按钮 行为
功能 #3796: 开发统一的3d数据的格式，导入导出方式统一 行为
功能 #3833: 单点的WDI ATF插件 行为
功能 #3948: GrayCD算法参数页面逻辑优化 行为
功能 #3955: Support joystick开发 行为
功能 #3957: KSP功能开发 行为
功能 #3958: KHP功能开发 行为
功能 #3959: 建立 KPS 行为
功能 #3978: CD支持图片测量 行为
功能 #4012: 合并4.4.0 分类功能 行为
功能 #4126: 手动CD测量界面也使用与算法界面相同的UI 行为
功能 #4154: 开发：测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为
功能 #4155: 开发：测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为
功能 #4254: 开发圆测量功能 行为
功能 #4361: 增强圆测量功能，阈值被采用 行为
功能 #4589: 算法设置界面图层ROI支持复制移植到ROI Editor1.1 行为
功能 #4607: 新套刻算法界面开发 行为
功能 #4667: 解决检测过程中，cpu占用过多的几个应用 行为
功能 #4822: [开发] 使用ATF 做被动聚焦功能 行为
功能 #4884: [开发] cd不同线宽标定 行为
功能 #4912: [开发] 优化VIS控制面板 行为
功能 #4940: [开发]平台旋转，圆中心参数修改 行为
功能 #5013: CD套刻新增OVL_Item字段，弃用Str_MeasurePoint字段 行为
功能 #5083: [开发]55所高度测量功能升级 行为
功能 #5212: 软件调试模式下的连续检测次数设置迁移至夹具设置弹窗里，删除Debug中对应功能 行为
功能 #5217: [开发] VIS V4.3.9界面中间竖列的图标分布不太合理 行为
功能 #5240: [开发] 55所CD机台光源添加对应逻辑 行为
功能 #5311: [检测任务]DB支持CD测量 行为
功能 #5373: [开发]矩形测量功能 行为
功能 #5413: [开发] cd不同线宽标定 行为
功能 #5433: [开发] CD测量时使用基于图像清晰度的被动聚焦 行为
功能 #5566: [开发] 光源模块：移除用户选择光源类型颜色和能量，只给出枚举选择 行为
功能 #5685: [开发]CD圆测量实现自动测量 行为
功能 #5688: [开发] recipe 参数和图片保存时另外保存一份到E盘 行为
功能 #5689: [开发] ZipData 支持CD数据迁移 行为
功能 #5694: [开发] DPU 保存检测结果，以及定时清理结果 行为
功能 #5716: [开发]系统参数界面中移除所有二级弹窗 行为
功能 #5765: [开发] cd光标定 行为
功能 #5791: [开发]矩阵键盘显示优化 行为
功能 #5796: [开发]开发MSG Sensor 插件 行为
功能 #5810: [开发]添加平台真空异常报警 行为
功能 #5827: [开发]CD自动判定横线或竖线，并且应用在结果计算和显示上 行为
功能 #5828: [ROIEditor] CD自动判定横线或竖线，并且应用在结果计算和显示上 行为
功能 #5886: 开发 物镜关联光源类型 行为
功能 #5897: [开发]添加每个点位自有的cog值，在测量中使用，使用开关控制 行为
功能 #5917: [开发] 被动聚焦改造 行为
功能 #5931: [开发] 各点被动聚焦改造 行为
功能 #5954: [开发] 测量时被动聚焦使用测量的ROI 行为
功能 #5955: [开发] CD查询记录优化 行为
功能 #5956: [开发] CD 检测，支持无配准模式 行为
功能 #5977: [开发]矩阵键盘优化，添加基板选择功能 行为
功能 #6030: [开发] 控制面板被动聚焦功能添加ROI功能 行为
功能 #6085: [开发]CD 相对测量点位改造 行为
功能 #6168: [开发]CD 可导入相对测量点位 行为
功能 #6169: [开发]线宽标定数据导入导出，用户可选择导入不同线宽标定数据 行为
功能 #6192: 【检测任务】基于sensor插件的主动聚焦功能测试 行为
功能 #6217: [开发]CD手动测量后弹出确认框 行为
功能 #6218: [开发]移入之后将z调整到基板焦面 行为
功能 #6219: [开发]MSG传感器，实现主动聚焦效果 行为
功能 #6220: [开发]坐标点改造 行为
功能 #6221: [开发]recipe界面改造 行为
功能 #6224: [开发]自动光源 行为
功能 #6261: [开发]CD和其DB文件支持3点对准，设定涨缩 行为
功能 #6321: [开发]CD 面阵相机畸变矫正方法 行为
功能 #6335: [开发]涨缩方式改造 行为
需求 #2703: 合理分配以及规范VIS的菜单栏功能按钮。 行为
需求 #2705: 插件参数修改改为不用需重启VIS 行为
需求 #2708: 针对不同的光源，添加不同光源下所做平场校正，聚焦用户参数等 行为
需求 #2785: 多recipe自动合并map文件功能 行为
需求 #2840: SPC与Review结合 行为
需求 #2968: 开关按钮面板 行为
需求 #3007: C001类型需要支持没有M标识的map文件，可以合并map数据 行为
需求 #3028: 未设置"自定义分类"参数时的处理逻辑 行为
需求 #3097: Roi Editor根据Recipe类型限制可用算法 行为
需求 #3451: 3d数据的格式，导入导出方式统一 行为
需求 #3460: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为
需求 #3462: CD算法参数界面逻辑优化 行为
需求 #3523: 【菜单栏】-【设置】-【WaferType】，如果晶圆类型设置界面中的参数用不到了，建议删除【WaferType】按钮 行为
需求 #3538: CD 检测，支持无配准模式 行为
需求 #3554: 2D检测 roi框选 建议 支持自动框选小球功能 行为
需求 #3565: 测量类:CD、3D测量支持右键切换检测结果 行为
需求 #3930: Support joystick 行为
需求 #3931: 开发Custom Keys 行为
需求 #3937: 2d 圆测量 行为
需求 #3939: 导入图片CD测量 行为
需求 #3991: cd光标定 行为
需求 #3993: cd设定算法参数时，显示算法设定效果 行为
需求 #3994: cd不同线宽标定 行为
需求 #3995: cd和3d抽象出一些公共部分 行为
需求 #4039: 3D检测 ①建议量测结果和map 做成联动形式 ②量测默认会保存Bmp格式图片，针对晶圆Die比较多的产品，量测完会等待几分钟生成Bmp图片才能结束流程，建议增加是否保存Bmp图片按钮。 行为
需求 #4141: 测量模块添加测量工具集 行为
需求 #4693: 使用ATF 做被动聚焦功能 行为
需求 #4796: 55所聚焦插件 行为
需求 #4887: 优化VIS控制面板 行为
需求 #4893: ZipData 支持CD数据迁移 行为
需求 #4915: 55所高度测量功能升级,结合PLC文档中相关描述 行为
需求 #4939: 平台旋转，圆中心参数修改 行为
需求 #4965: TP测量自动化 行为
需求 #5068: CD查询记录优化 行为
需求 #5142: VIS V4.3.9界面中间竖列的图标分布不太合理 行为
需求 #5239: 55所CD机台光源添加对应逻辑 行为
需求 #5366: 光源类型与颜色，同步ATF用户参数 行为
需求 #5367: CD实现圆测量，矩形测量功能 行为
需求 #5372: 矩形测量功能 行为
需求 #5432: CD测量时使用基于图像清晰度的被动聚焦 行为
需求 #5456: CD圆测量实现自动测量 行为
需求 #5457: 光源模块：移出用户选择光源类型颜色和能量，只给出枚举选择 行为
需求 #5674: CD测量时，使用基于MSG信号和图像清晰度的被动聚焦 行为
需求 #5686: recipe 参数和图片保存时另外保存一份到E盘 行为
需求 #5693: DPU 保存检测结果，以及定时清理结果 行为
需求 #5715: 系统参数界面中移除所有二级弹窗 行为
需求 #5790: 矩阵键盘优化，添加基板选择功能 行为
需求 #5795: 开发MSG Sensor 插件 行为
需求 #5809: 添加平台真空异常报警 行为
需求 #5826: CD自动判定横线或竖线，并且应用在结果计算和显示上 行为
需求 #5887: 根据矩阵键盘需要显示的字符，自动生成包含固定样式字符的对应图片，以供矩阵键盘显示使用 行为
需求 #5916: 被动聚焦改造 行为
需求 #6044: CD 相对测量点位改造 行为
需求 #6108: 线宽标定数据导入导出，用户可选择导入不同线宽标定数据 行为
需求 #6130: 光源插件切换不存在的光源耗时慢 行为
需求 #6170: CD手动测量改造 行为
需求 #6320: CD 面阵相机畸变矫正 行为
设计 #2969: 开关按钮面板 行为
设计 #3452: 3d数据的格式，导入导出方式统一 行为
设计 #3461: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为
设计 #3463: CD算法参数界面逻辑优化 行为
设计 #3715: pdf 生成添加SubstrateID 行为
设计 #3883: 将条带图拼接为完整的晶圆图案 行为
设计 #3964: CD支持图片测量（附畸变校正） 行为
设计 #4144: 测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为
设计 #4145: 测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为
设计 #4462: 整理新的套刻算法设定逻辑 行为
设计 #5004: [设计]55所高度测量功能升级,结合PLC文档中相关描述 行为
设计 #5458: [设计]光源模块：移出用户选择光源类型颜色和能量，只给出枚举选择 行为
设计 #5792: [设计]添加基板选择功能 行为
设计 #6046: [设计]CD 相对测量点位改造 行为
设计 #6136: [设计]线宽标定数据导入导出，用户可选择导入不同线宽标定数据 行为

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