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需求

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相关的问题
错误 #3531: 只有小Z机台cd 做检测 ，5X作为粗对准 100X精对准，5X对准点聚焦、框选完 小Z回零 ，再用100X聚焦 ，导致100X无法聚焦。 行为
错误 #3566: 3D机台改为高精度后，采集Golden报错 行为
错误 #4058: 3D检测插件返回频率为浮点型，导致检测失败 行为
错误 #4123: 平台移动时相机视口卡顿，不流畅 行为
错误 #4182: 优化：拟合聚焦采集Mark点，选择Mark尺寸，加个下拉框，可选择预设好的尺寸，可手动输入尺寸 行为
错误 #4198: 检测平台在运动 没有禁用摇杆使用 行为
错误 #4199: 如果摇杆是这样固定，调用X、Y平台方向需要反一下，摇杆操作需要与相机视口移动方向一致 行为
错误 #4200: 操作VIS 软件摇杆使用，相机视口画面移动有顿挫感，打开相机软件 操作摇杆，没有顿挫感 行为
错误 #4201: 切换镜头，摇杆默认中速 行为
错误 #4202: 软件退出，摇杆使用自动关闭失效 行为
错误 #4282: 使用手工测量工具替换不同类型的当前测量结果时，测量结果要么失败要么错误 行为
错误 #4294: 由于自动测量结果可以替换，手工测量结果不可以替换，所以手工测量结果和自动测量结果页面建议分开显示，当前显示在一个页面区分不了 行为
错误 #4313: 开始检测后，CD界面需要增加蒙层。禁止操作 行为
错误 #4327: 在两点中心测量页面点击Point1，再在已有的测量结果中双击X和Y都是0的结果，数据加载到两点中心测量页面，ID显示正确，但是X和Y为空，不显示数值，点击确定按钮有计算结果 行为
错误 #4328: 两点中心测量页面，当前双击圆测量的测量结果作为其中一个point的数据时报错类型不匹配，建议可以成功添加圆测量的XY数据作为两点中心测量其中一个点的数据 行为
错误 #4349: 在两点中心测量页面，选中Point2，再双击测量结果中CD线宽测量的结果，没有任何反应 行为
错误 #4366: 关闭软件确认弹窗没有置顶，会被软盘遮住，导致无法进行任何操作 行为
错误 #4368: 优化：建议加一个控制软盘打开和关闭的按键 行为
错误 #4369: 切换摇杆速度挡位按键，只能切换N和H档，L档丢失 行为
错误 #4372: 软盘切至5X镜头，然后启动CD测量（50X镜头），软件会自动切换至50X镜头，但软盘上显示当前使用镜头不正确 行为
错误 #4377: 点击【移入】在平台移入的过程中再点击前后左右移动，系统会报错 行为
错误 #4382: 通过控制面板：①右键点击移入（打开真空后移入平台） 或者 ②右键点击移出（移出平台后关闭真空），软盘上显示的真空状态不正确 行为
错误 #4410: 测试RoiEditor兼容性 行为
错误 #4444: VIS_4.3.9_ToolSet分支，手动套刻测量参数界面优化 行为
错误 #4445: 打开软件出现插件读取失败的情况（偶现） 行为
错误 #4572: CD测量 - Recipe界面点击程式测量，报错：NoMarkMatchLayer，复现步骤见详细描述 行为
错误 #4621: CalcAgent1.1无法自动启动CalcUnit V4.3.9 行为
错误 #4627: CD测量，实际检测区域和ROI框选区域有偏差 行为
错误 #4628: CD手动测量页面和ROIEditor中的GrayCD算法页面不一致 行为
错误 #4632: 登录界面，部分字符串显示错误，手动切换中英文后才可以正常显示 行为
错误 #4636: 当前有两个Die测量点ROI1和ROI2，删除测量点ROI1，原先的测量点ROI2自动变成ROI1，但golden图显示错误，显示的还是已删除的原先测量点ROI1的golden图 行为
错误 #4644: 圆测量参数：最小面积、最大面积阈值卡控错误（测量圆面积在当前阈值范围内，圆测量失败） 行为
错误 #4655: CD测量 - Die测量点添加超过10个，测量结果和测量点位对应关系错乱 行为
错误 #4681: CD测量 - 算法设置如果将测量点方向选错，测量结果界面异常（这种情况下应该显示测量失败，而不是出现异常界面） 行为
错误 #4683: 通过软盘打开摇杆，摇杆控制不生效 行为
错误 #4685: 点击矩阵键盘上的摇杆控制按键无效 行为
错误 #4691: VIS已注册快捷键异常，打开根目录Ctrl+Shift+V、打开Setup文件夹Ctrl+Shift+S、打开Recipe文件夹Ctrl+Shift+G,文件夹会重复打开 行为
错误 #4753: 畸变校正弹窗内外未自适应 行为
错误 #4754: 点击Distorted image按钮，报错:"未将对象引用设置到对象的实例" 行为
错误 #4755: 点【畸变矫正测试】按钮后，窗口应该切换至畸变矫正测试界面 行为
错误 #4758: 计算畸变校正时，偶现报错："函数执行超时，计算失败！" 行为
错误 #4804: 优化：畸变校正-重置视图后，建议清空ROI 行为
错误 #4894: 配置好算法设置后，点击【程式测量】提示“序列不会包含任何序列” 行为
错误 #4899: 点击recipe名称不可以切换当前recipe的检测结果 行为
错误 #4919: 将MeasurePoint的第一行左ROI关联ROI后，测量结果中没有从指定的ROI中取测量线，还是从图中最左边的ROI取测量线的 行为
错误 #4920: ROI List中有多个ROI，启动检测后测量结果失败，查看VIS的日志报错“Index out of range” 行为
错误 #4924: 删除已有的golden图，重新采图并进行算法设置，启动检测后检测失败，查看VIS日志报错“索引超出范围。必须为非负值并小于集合大小” 行为
错误 #4927: 套刻程式启动检测后测量中和测量完了后显示测量结果的时候，VIS中间列的图标选中的是相机图标，应该选中的是测量图标 行为
错误 #4969: 【系统设置】 - 平台旋转中心为空的情况下，点击确认按钮不应该报错 行为
错误 #4992: 测量结果的折线图中只显示自动测量的结果，但是右侧的测量结果分析的数据包含了手工测量结果 行为
错误 #5049: 在已有的recipe中重新添加一个Die测量点和golden图，并在算法设置中依次配置inner图层和outer图层，未关联ROI，检测失败，计算单元日志提示错误信息“The given key ‘Right’ was not present in the dictionary.” 行为
错误 #5054: 重新添加Die测量点和golden图，正确配置InOverlay算法并框选对应ROI，启动检测后检测失败，日志文件报错“索引超出范围。必须为非负值并小于集合大小。” 行为
错误 #5071: 偶现：圆测量结果超出参数设定范围（例如：最大像素面积） 行为
错误 #5104: 手动测量结果页面的序号不是从1开始，是用自动测量结果页面中最大的序号加1后的数值显示的 行为
错误 #5105: 切换到手动测量结果页面时，折线图和数据分析的数据仍保留自动测量的结果 行为
错误 #5106: 右击recipe名称，自动测量页面显示自动测量结果，使用CD手动测量生成手动测量结果后，点击自动测量按钮切换到自动测量页面，发现已有的自动测量结果没了 行为
错误 #5108: CD和套刻测量结束后，自动测量页面中选中的是最下面的序列最大的那行数据，但标记第几张图片的数值是1 行为
错误 #5127: 套刻程式启动检测后，配准成功后，一直卡住不继续测量 行为
错误 #5141: DB支持CD测量 - 创建数据准备，无法修改测量参数 行为
错误 #5147: CD手动测量 - 圆测量结果不正确 行为
错误 #5159: 3D的检测输出目录由3DRaw变更为InspectDefectImgs 行为
错误 #5163: CD测量 - 点【程式测量】报错：“未将对象引用设置到对象的实例”，自动测量结果也被清掉 行为
错误 #5167: 基片翘曲度检查参数 - ①安全高度阈值、平整点位坐标无法输入负值 ②删除平整点位坐标，仅剩一个坐标点位时无法删除 行为
错误 #5173: CD测量 - Die上多测量点，只要有测量点测量失败，左下角map图上的die应该用红色标记（目前检测发现：die上多测量点，最后一个测量点成功用绿色标记，最后一个测量点失败用红色标记）M3、M4均需要修改 行为
错误 #5186: 晶圆结构重置后，检测Die超出晶圆结构，点击Recipe进入设置界面，提示文案优化：晶圆结构已更改，检测die超出晶圆结构范围 行为
错误 #5187: CD测量 - ATF被动聚焦，测量点出现虚焦情况（手动移到该测量点位置，执行被动聚焦，可以找到清晰的焦面） 行为
错误 #5191: 导入文件建议以excel表格导入 行为
错误 #5192: 导出文件应该可以到文件夹的下一级，并且可以自定义保存的文件名称 行为
错误 #5193: CD 圆手动测量，中心店坐标显示0,0 导致后面ROI位置不对 行为
错误 #5202: JAI相机 - CD测量时关闭自动曝光 行为
错误 #5204: 建议：只要软件不退出，手动测量结果不要自动清空 行为
错误 #5209: CD测量 - 无法删除或清空手动测量数据 行为
错误 #5211: CD测量 - 手动测量结果会叠加显示 行为
错误 #5223: 4.3.9_Test每次软件重启后，平台都会执行home动作 行为
错误 #5224: DB支持CD测量，测量参数的存放路径不正确，导致所有支持CD测量的数据准备都读取这一个CDJson文件 行为
错误 #5225: DB支持CD测量，测量报错，测量任务无法终止 行为
错误 #5226: DB支持CD测量，测量参数设置界面要支持最新的ROI 行为
错误 #5257: CD手动测量，报错：序列号不包含任何元素（测水平线宽必现） 行为
错误 #5258: CD手动测量 - 手动测量结束后，页面切到自动测量结果了 行为
错误 #5260: 对准的时候，矩阵键盘可以切换镜头，移出平台的操作 行为
错误 #5261: 对准后不关闭弹窗，点击stick按钮虽然是off状态，但仍可操作遥杆 行为
错误 #5270: 多次删除已有的golden图重新采图或者更新golden图操作后，启动检测失败，日志报错“索引超出范围。必须为非负值并小于集合大小。” 行为
错误 #5285: 矩阵键盘，点home键时，再点击平台移出或移入，home键一直显示run状态 行为
错误 #5297: 三色灯显示不正确：就绪状态、运行状态、异常指示灯状态，灯塔均显示黄色 行为
错误 #5298: 矩阵键盘按键及摇杆禁止操作场景：①对准过程中 ②检测过程中 ③平台Home、移入、移出过程中 ④镜头切换过程中 行为
错误 #5299: 镜头切换，键盘按键上状态显示变换：①未使用显示off ②切换过程中显示run ③切换结束显示（成功on，失败off） 行为
错误 #5305: CD算法设置里面切换一下golden图层软件会闪退，再次打开之后还会复制算法图层 行为
错误 #5306: CD测量结果，手动测量替换报错 行为
错误 #5310: DB支持CD测量 - 导入DP报错，调用的目标发生了异常 行为
错误 #5323: 删除CD测量算法测参，AutoAngle自动矫正选项 行为
错误 #5324: CD测量阈值默认50 行为
错误 #5341: 用了相对偏移检测后，再点die定位，下面不显示golden图 行为
错误 #5342: CD历史检测结果，重复性导出，excel表格排版修改 行为
错误 #5343: 隐藏CD参数，AutoAngle 行为
错误 #5345: 【程式测量】替换功能报错 行为
功能 #2672: VIS框架增加动态修改界面布局接口（菜单、ToolBar） 行为
功能 #3450: ACS peg相关修改 行为
功能 #3466: 3D 取消速度设定，改用自动计算方式获取最佳扫描速度 行为
功能 #3467: 3d 取消像元大小设定，改用获取或自动计算方式，从插件获取 行为
功能 #3468: 新自研ATF 改造为插件 行为
功能 #3469: 支持CalcAgent 1.1 行为
功能 #3480: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为
功能 #3520: 菜单按钮合理分类 行为
功能 #3521: 添加常用菜单按钮快捷键 行为
功能 #3524: 删除【WaferType】按钮 行为
功能 #3796: 开发统一的3d数据的格式，导入导出方式统一 行为
功能 #3833: 单点的WDI ATF插件 行为
功能 #3948: GrayCD算法参数页面逻辑优化 行为
功能 #3955: Support joystick开发 行为
功能 #3957: KSP功能开发 行为
功能 #3958: KHP功能开发 行为
功能 #3959: 建立 KPS 行为
功能 #3978: CD支持图片测量 行为
功能 #4012: 合并4.4.0 分类功能 行为
功能 #4126: 手动CD测量界面也使用与算法界面相同的UI 行为
功能 #4154: 开发：测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为
功能 #4155: 开发：测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为
功能 #4254: 开发圆测量功能 行为
功能 #4361: 增强圆测量功能，阈值被采用 行为
功能 #4589: 算法设置界面图层ROI支持复制移植到ROI Editor1.1 行为
功能 #4607: 新套刻算法界面开发 行为
功能 #4667: 解决检测过程中，cpu占用过多的几个应用 行为
功能 #4822: [开发] 使用ATF 做被动聚焦功能 行为
功能 #4884: [开发] cd不同线宽标定 行为
功能 #4912: [开发] 优化VIS控制面板 行为
功能 #4940: [开发]平台旋转，圆中心参数修改 行为
功能 #5013: CD套刻新增OVL_Item字段，弃用Str_MeasurePoint字段 行为
功能 #5083: [开发]55所高度测量功能升级 行为
功能 #5212: 软件调试模式下的连续检测次数设置迁移至夹具设置弹窗里，删除Debug中对应功能 行为
功能 #5217: [开发] VIS V4.3.9界面中间竖列的图标分布不太合理 行为
功能 #5240: [开发] 55所CD机台光源添加对应逻辑 行为
功能 #5311: [检测任务]DB支持CD测量 行为
需求 #2703: 合理分配以及规范VIS的菜单栏功能按钮。 行为
需求 #2705: 插件参数修改改为不用需重启VIS 行为
需求 #2708: 针对不同的光源，添加不同光源下所做平场校正结果 行为
需求 #2785: 多recipe自动合并map文件功能 行为
需求 #2840: SPC与Review结合 行为
需求 #2968: 开关按钮面板 行为
需求 #3007: C001类型需要支持没有M标识的map文件，可以合并map数据 行为
需求 #3028: 未设置"自定义分类"参数时的处理逻辑 行为
需求 #3097: Roi Editor根据Recipe类型限制可用算法 行为
需求 #3112: Map导出路径讨论 行为
需求 #3451: 3d数据的格式，导入导出方式统一 行为
需求 #3460: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为
需求 #3462: CD算法参数界面逻辑优化 行为
需求 #3523: 【菜单栏】-【设置】-【WaferType】，如果晶圆类型设置界面中的参数用不到了，建议删除【WaferType】按钮 行为
需求 #3538: CD 检测，支持无配准模式 行为
需求 #3554: 2D检测 roi框选 建议 支持自动框选小球功能 行为
需求 #3565: 测量类:CD、3D测量支持右键切换检测结果 行为
需求 #3930: Support joystick 行为
需求 #3931: 开发Custom Keys 行为
需求 #3937: 2d 圆测量 行为
需求 #3939: 导入图片CD测量 行为
需求 #3991: cd光标定 行为
需求 #3993: cd设定算法参数时，显示算法设定效果 行为
需求 #3994: cd不同线宽标定 行为
需求 #3995: cd和3d抽象出一些公共部分 行为
需求 #4039: 3D检测 ①建议量测结果和map 做成联动形式 ②量测默认会保存Bmp格式图片，针对晶圆Die比较多的产品，量测完会等待几分钟生成Bmp图片才能结束流程，建议增加是否保存Bmp图片按钮。 行为
需求 #4141: 测量模块添加测量工具集 行为
需求 #4693: 使用ATF 做被动聚焦功能 行为
需求 #4796: 55所聚焦插件 行为
需求 #4887: 优化VIS控制面板 行为
需求 #4893: ZipData 支持CD数据迁移 行为
需求 #4915: 55所高度测量功能升级,结合PLC文档中相关描述 行为
需求 #4939: 平台旋转，圆中心参数修改 行为
需求 #4965: TP测量自动化 行为
需求 #5068: CD查询记录优化 行为
需求 #5142: VIS V4.3.9界面中间竖列的图标分布不太合理 行为
需求 #5239: 55所CD机台光源添加对应逻辑 行为
设计 #2969: 开关按钮面板 行为
设计 #3452: 3d数据的格式，导入导出方式统一 行为
设计 #3461: Review 升级：支持图片上标出缺陷位置和缺陷信息 行为
设计 #3463: CD算法参数界面逻辑优化 行为
设计 #3715: pdf 生成添加SubstrateID 行为
设计 #3883: 将条带图拼接为完整的晶圆图案 行为
设计 #3964: CD支持图片测量（附畸变校正） 行为
设计 #4144: 测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为
设计 #4145: 测量工具集和旧的测量结果界面改造 行为
设计 #4462: 整理新的套刻算法设定逻辑 行为
设计 #5004: [设计]55所高度测量功能升级,结合PLC文档中相关描述 行为
设计 #5312: [设计] 针对不同的光源，添加不同光源下所做平场校正结果 行为

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