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功能

45/59
需求

23/55
版本合并

1/2
设计

6/9
相关的问题
错误 #1735: 数据准备中，插件获取方法版本过时，无法兼容VIS4.2，导致获取的参数错误 行为
错误 #2972: AI 分支，扫描结束，左map图缺陷未画完成 行为
错误 #2973: AI分支，检测聚焦方式选择主动聚焦，检测时，大Z高度获取不对 行为
错误 #3234: 测量点设置数字+L或R,结果界面roi没生效 行为
错误 #3270: 【DB - 报表详情】- 【检测参数】-【任务：已扫描条带/总条带】显示不正确 行为
错误 #3271: 【DB检测】 - 经常会出现检测处理进度为：100%，但是检测任务不能结束，任务状态一直处于：检测中... 行为
错误 #3526: AI分支合并-VIS主干合并到VIS4.4.1 行为
错误 #3597: AI模式，缺陷分类 不良设置 设置缺陷阈值 满足阈值条件 缺陷结果显示良品 行为
错误 #3607: 无图形-Ai ，设置圆形检测区域，拟合聚焦 设置自动生成拟合点，无法生成 行为
错误 #3709: AI连续检测，计算单元不结束 行为
错误 #3811: AI缺陷结果未按用户自定义等级分类，现在固定死了，属于AI类型 行为
错误 #3843: 点击工具栏【系统设置】 - 弹窗提示：“计数不能小于0，参数名：count” 行为
错误 #4067: CD程式：在晶圆结构map图中选择一个die后，点击增加到检测Die按钮，报错“cannot found view with key ‘Setup_SubstrateMap’” 行为
错误 #4068: CD程式的检测结果页面，没有放大到全屏的时候部分字符截断，且图片显示太大部分信息显示不了 行为
错误 #4069: 在历史数据中选择CD和套刻的检测结果，点击结果导出按钮，打开的文件中CD检测结果部分的recipe名称和日期时间不正确 行为
错误 #4073: 优化建议：检测完了后右击recipe名称，下面的小map图会自动显示此recipe对应的检查die 行为
错误 #4082: CD测量的快速测量页面，鼠标放到测量点的输入框上时，显示[ttCDMeasurePoints] 行为
错误 #4085: 使用CD类型历史数据中结果导出的文件中recipe name不应该为空 行为
错误 #4087: 优化建议：对CD类型的历史检测结果进行结果导出操作，生成的文档中部分参数和检测结果数据顺序杂乱 行为
错误 #4149: V4.3.8.9171和V4.4.1版本，CD测量过程中，测量点输入数字+CL和数字+CR后，测量结果中对应线不正确 行为
错误 #4170: 【AI检测 】- 【导出参数设置】- 导出文件名称重复：AddTimeExtension，实际导出结果中，GDS名称重复时处理逻辑不对（目前是新的GDS加了时间扩展，正确的应该是旧的GDS加时间扩展备份） 行为
错误 #4178: AI检测类型 - 导入GDS图，GDSMark点标定，DieMark偏移标定界面优化 行为
错误 #4181: AI检测类型 - Recipe参数良率过低时终止检测、缺陷过多时终止检测不生效 行为
错误 #4197: 显示CD测量结果的时候，VIS中间的相机视口图标是被选中状态，应该是下面的测量结果图标变成已选中状态 行为
错误 #4204: AI检测 - 小map图上绘制的缺陷没有根据自定义缺陷形状绘制 行为
错误 #4213: AI检测 - 小map图上绘制的缺陷颜色不正确：(如果设置了缺陷区间用区间颜色，如果没有设置缺陷区间用自定义缺陷颜色) 行为
错误 #4220: Die上支持多个ROI - ①添加Die测量点名称重复 ②选择一个测量点，无法删除 （7249） 行为
错误 #4221: AI检测 - 对应的Review不执行 行为
错误 #4222: AI检测 - 查看历史检测数据，左侧小map图上缺陷绘制的颜色和形状错误 行为
错误 #4224: Die上支持多个ROI无法启动检测，报错信息↓日志截图 行为
错误 #4229: Die上支持多个ROI - 测量点匹配时找不到Mark点（通过相机视口观察，匹配时移动到的测量点位不对） 行为
错误 #4231: AI检测 - 多die检测情况下，在vis左下角map图上绘制的缺陷位置不正确 行为
错误 #4237: AI检测 - 缺陷数为0的情况下，检测任务无法自动终止 行为
错误 #4240: CD测量 - ROI框选区域和实际检测框选区域有偏差 行为
错误 #4241: CD测量 - 测量点位定位方式：根据相对偏移定位，检测报错 行为
错误 #4242: 套刻测量报错 行为
错误 #4246: Die上支持多个ROI - 多个测量点，越往后的测量点位置越不准确 行为
错误 #4255: 算法设置里设置的测量点是：1TD,1BD, 但测量结果显示不正确 行为
错误 #4259: CD一个die多ROI测量，添加了5个测量点位，检测结果少了一个点位 行为
错误 #4269: CD测量 - ROI框选区域有多条线 ①设置的索引值未生效 ②测量方向错误 行为
错误 #4272: 在JOB管理页面复制已有的job粘贴成新的job后，成功打开新的job，再进入JOB管理页面找不到新的JOB 行为
错误 #4273: AI检测 - 导出的GDS图存放路径不正确（没有考虑文件掩码设置的路径分割） 行为
错误 #4280: 测量结果中黄色线标记的内矩形和ROIEditor中ROI框选区域标记的四条边对应的矩形不一致 行为
错误 #4305: AI检测 - 查看历史检测数据，检测区域绘制不正确（检测区域多die） 行为
错误 #4329: 算法设置的MeasurePoint中配置同方向，且前面的数字大于后面的数字的时候，测量结果中测量线和字符标记OK，但是线宽为0，实际是有距离的 行为
错误 #4335: CD快速测量页面MeasurePoint中填写的两个数，第一个数不是0的时候，线宽测量结果都是0 行为
错误 #4336: CD测量过程中软件异常闪退 行为
错误 #4337: CD测量时相机曝光时间会自动调整，没有用采集Golden时的相机曝光时间（目前发现JAI相机有这个问题） 行为
错误 #4341: CD测量设置 - 新增CD光源平均亮度策略，无法保存 行为
错误 #4342: 优化：CD检测类型 - 进入检测Die设置界面，根据die定位，如果有已添加的Die测量点，应该默认选中第一个测量点 行为
错误 #4352: 测量结果中显示了CD手工测量结果对应的折线图 行为
错误 #4353: 测量结果的折线图中只显示自动测量的结果，但是右侧测量结果分析的数据包含了手工测量结果 行为
错误 #4355: 记录条数是合计的自动测量结果和手工测量结果的总条数，但是记录条数所在位置的左边和上面的数据都只记录自动测量结果 行为
错误 #4364: 打开CD测量手工测量页面，使用MeasurePoint默认的L1,L2进行测量，测量结果中显示1和2，不带方向字符L 行为
错误 #4365: 选中已有的套刻类型的自动测量结果，打开CD测量手工测量页面，框选ROI后点击替换当前按钮，选中的套刻类型的自动测量结果显示0,0，且报错 行为
错误 #4367: 测量结果是以ROI大小显示的，但是测量菜单中的ROI大小并未选中 行为
错误 #4370: 进入recipe设置页面，添加一个Die测量点，再删除这个Die测量点，然后点击程式测量按钮，在程式测量页面点击测量和替换当前按钮分别报不同的错误信息 行为
错误 #4371: 当前CD测量结果包含自动测量和手工测量的结果，点击导出按钮后打开的文档中会显示手工测量结果，但下面的数据分析不包含手工测量的数据，建议导出操作只导出自动测量的结果 行为
错误 #4373: 点击设置菜单中的WaferType按钮后报错 行为
错误 #4379: 启动检测结束后，CD和套刻测量结果正常显示，但是图中不显示对应数字和方向字符（偶现） 行为
错误 #4380: AI检测类型 - 数据分析按照Area分组，SPC柱状图区间单位显示不正确 行为
错误 #4403: 建议取消结果界面自定义缺陷类型名称下面的下划线 行为
错误 #4405: 历史数据页面点击不是本次执行的历史数据后会自动跳转到缺陷结果界面，再返回历史数据页面，点击新执行的数据不会跳转到缺陷结果界面，建议可以保持统一。 行为
错误 #4406: 融合recipe勾选缺陷合并，但是没有生效 行为
错误 #4407: 融合的recipe导出的数据只包含第二个recipe的数据（map路径导出文件） 行为
错误 #4409: map路径设置中，“设置map文件名称”选中“Cover”，只导出了第一个recipe的文件 行为
错误 #4456: 在系统设置勾选默认缺陷高亮为对角线，在程式执行过程中（没有出现缺陷的情况下）高亮显示的是面积 行为
错误 #4457: 系统设置中【缺陷分组】选择面积，map导出的缺陷数据，没有按照面积分组，是以对角线进行分组的 行为
错误 #4458: RoiEditor1.2恢复多边形和魔法棒功能，从RoiEditor1.1合并过来 行为
错误 #4469: 检测任务完成后（成功），Recipe字体颜色显示红色错误（待检测、检测中、检测成功、检测失败；对应的颜色分别为：Black、Blue、Green、Red） 行为
错误 #4470: 检测任务状态为：检测完成，但处理进度为78.95%，任务无法终止 行为
错误 #4471: 检测参数未勾选Map图显示详细缺陷，检测完成后左侧map图缺陷绘制颜色不正确（ok die应该显示绿色，bad die 应该显示红色） 行为
错误 #4483: 建议把未定义的自定义缺陷类型名称，由原本显示的“99”改为“unknow” 行为
错误 #4485: DG检测类型，vis缺陷结果右侧缺陷类型显示不正确(应该显示缺陷的自定义名称) 行为
错误 #4488: Recipe界面新增缺陷分类设置，无法选择自定义缺陷类型 行为
错误 #4495: 缺陷结果界面：偶现无法查看上一个下一个缺缺陷，有时还会弹出“未将对象引用到实例” 行为
错误 #4496: 缺陷结果界面：根据缺陷类型筛选缺陷，查看缺陷图排列顺序不对（例如：共60张缺陷图，当前缺陷是第30张，显示： 30/60，点击查看上一张缺陷图，查看不了，点击查看下一张缺陷图，显示第26张，26/60） 行为
错误 #4497: ai程式：map导出路径设置，勾选map图导出，输出日志会报错，处理一下报错信息，不应该报错 行为
错误 #4498: 建议把【map参数预设】界面的【取消】按钮和【确认】按钮交换一下位置，不然会误操作 行为
错误 #4500: NG检测类型，vis缺陷结果右侧缺陷类型显示不正确(应该显示缺陷的自定义名称) 行为
错误 #4501: DG检测类型：Recipe界面缺陷分类设置 - 只保留默认自定义缺陷类型，检测结果显示不正确 行为
错误 #4503: DG前道检测异常 行为
错误 #4508: DG检测类型，缺陷数为0的情况下，左侧map图绘制不正确（不勾选map图显示缺陷时，没有把ok die标记出来） 行为
错误 #4511: 将缺陷显示区域放大，自定义名称和区间展示没有做自适应，详情见描述截图 行为
错误 #4514: 系统选项 - 点击Map格式设置，报错：未将对象引用设置到对象的实例（4.4.1_Test） 行为
错误 #4517: MAP文件导出路径下的CD类型和套刻类型的文件中recipe名称为空，且position拼写错误 行为
错误 #4526: Recipe界面设置了基准Z轴，但采集Golden时未启用，检测时启用了 行为
错误 #4528: 优化：打开软件，未选择程式的情况下，导航的图标删减优化（红色框选不保留） 行为
错误 #4530: 创建DG检测的程式，点击Recipe设置，报错：cannot get specified Setting，详细报错日志见↓截图 行为
错误 #4534: vis缩小的时候，缺陷的平台坐标会显示不全 行为
错误 #4535: DG检测，Core为MIissDefect的缺陷类型，没有按照自定义缺陷类型归类 行为
错误 #4536: AI检测类型的历史数据，没有放到Grid历史里，而是放到了NoGird历史里 行为
错误 #4538: Recipe参数设置良率过多终止检测，当检测过程中扫描缺陷数量达到阈值时，任务状态显示的是手动停止，但是线阵扫描仍在继续 行为
错误 #4539: DG检测类型，缺陷结果界面良率显示不正确 行为
错误 #4548: CD检测 - 检测Die设置，删除Die测量点时有点耗时（可在CD机台复现） 行为
错误 #4560: 安装包4.4.1.9648，点击【系统设置】有报错提示，点击弹窗提示框【确定】后系统闪退 行为
错误 #4562: 软件重启后，如果打开JOB管理界面过快，查看最近打开的JOB，经常会出现：不存在最近打开的JOB问题 行为
错误 #4569: 在vis屏幕缩小的情况下，vis执行的过程中打开输出日志，执行完成，关闭日志的时候，vis也会最小化。 行为
错误 #4570: CD测量，偶发线宽测量失败 行为
错误 #4571: 打开一个CD测量的JOB,进入Recpie界面，点击程式测量报错：无法访问已释放的对象 行为
错误 #4573: VIS4.4.1 AI模式 缺陷总数，与实际的缺陷总数不对应 行为
错误 #4575: 套刻高度差测量报错，复现步骤见详细描述 行为
错误 #4576: DG检测，任务状态为检测完成，但处理进度为0%，检测任务无法终止 行为
错误 #4580: 双光路同时检测，第二个recipe扫描进度未更新 行为
错误 #4585: AI检测类型 - 点击VIS左侧小map图上的缺陷,右侧缺陷结果无法切换至该缺陷 行为
错误 #4586: AI检测类型 - 缺陷结果image显示优化：左侧image应该显示该张图上的所有缺陷，右侧image显示当前具体某个缺陷的放大图 行为
错误 #4592: 安装包V4.4.1.9680打开旧程式，启动检测，日志提示对准失败，手动点击对准测试又OK（偶现） 行为
错误 #4594: 无图形程式启动后，计算单元报错，无法正常结束 行为
错误 #4595: 点击系统设置，系统闪退，出现一次，事件查看器日志见描述截图 行为
错误 #4596: 安装包V4.4.1.9680，CD手工测量结果在折线图中显示，在最大值和最小值中也显示 行为
错误 #4598: 拟合聚焦，采集mark，勾选均匀分布Mark，点自动生成报错 行为
错误 #4605: AI检测类型 - 缺陷类型为【传输线短路】的缺陷，在vis缺陷结果界面框选位置不正确 行为
错误 #4613: AI检测 - 多die的情况下，缺陷结果界面良率显示不正确 行为
错误 #4615: AI检测 - 多die检测的情况下，缺陷结果不正确（目前只会有一个die可以被检测出缺陷，其它die也是有缺陷的，但没有被检测出来） 行为
错误 #4620: 优化：创建setup时，如果配置的数据源存储路径不存在，应该给出提示（目前：程式创建成功后，数据直接放到了软件安装目录下） 行为
错误 #4626: 建议选择到自定缺陷类型没数据的时候，可以给个提示 行为
错误 #4629: Grid类型的缺陷结果界面，查看筛选条件下的缺陷，文案提示优化，提示文案见↓详细描述 行为
错误 #4630: 针对DG检测类型的缺陷进行Review失败，错误日志见截图 行为
错误 #4633: CD:在历史数据中打开手动停止的数据，会一直处于加载中 行为
错误 #4634: 在cd检测过程中没有找mark时会有弹窗提示，点击弹窗的'停止'，运行日志会报错 行为
错误 #4639: 查看AI检测历史结果未兼容BMP缺陷图片 行为
错误 #4654: 对准失败后，点击mark点移动到指定位置的时候，vis的主动聚焦按钮是打开的，但是msg没有主动聚焦的动作，截图在描述详情中 行为
错误 #4659: MSG进程关闭情况下启动VIS，出现MSG插件初始化失败（必现） 行为
错误 #4661: DG检测结果界面Golden图不显示 行为
错误 #4664: NG Grid类型的缺陷结果界面，查看筛选条件下的缺陷，文案提示优化，提示文案见↓详细描述 行为
错误 #4665: 优化：数据库创建脚本中系统参数ACS可控制小Z，默认不要勾选 行为
错误 #4666: Map图没有根据导出项设置导出（ 条件：Map类型C001，导出项勾选Map图导出） 行为
错误 #4668: 无图形检测异常（复现场景：map结构从预览图改为自动布局） 行为
错误 #4669: 优化：系统参数里有两处3D参数设置，如果用不到可以考虑隐藏起来 ①【平台偏移量】 - 3D检测Z坐标基准 ②【系统镜头】- 【镜头类型】 - 启用3D 行为
错误 #4679: GD；保存的缺陷图是jpg格式的 行为
错误 #4680: ai程式检测界面中，字段【处理进度】会出现16.669999999这样的数字 行为
错误 #4688: Recipe界面部分参数翻译问题，截图↓ 行为
错误 #4689: 查看系统设置、web报表、PLC配置均报错 行为
错误 #4692: CD测量结果界面点击【导出】，有错误弹窗提示，详情见描述截图 行为
错误 #4699: 已注册快捷键弹窗，【操作名称】字段显示错误 行为
错误 #4700: 点【工具】 - 【3D扫图】报错 行为
错误 #4702: 点击【比较】按钮打开Beyond compare 报错 行为
错误 #4706: DG检测类型 - 根据缺陷Review，Review过程中，会出现缺陷采图失败的情况 行为
错误 #4707: 【创建晶圆结构】页面不点击确认，直接点击返回按钮时候，系统会给出保存扫描图片的位置，详细步骤见描述 行为
错误 #4713: DG检测，Map图上详细缺陷没有按照系统设置的自定义缺陷形状和颜色绘制（如果设置了缺陷尺寸区间，颜色按照尺寸区间设置的颜色） 行为
错误 #4715: DG前道检测，Recipe参数勾选Map图显示详细缺陷，检测完成后，map图非检测Die上不应该有缺陷绘制 行为
错误 #4716: Grid类型，多Recipe检测，检测结束后，无法通过右键点击Recipe切换检测结果 行为
错误 #4719: 前道采集Golden图失败 行为
错误 #4737: DG程式检测完成后，点击查看之前的历史记录，然后当前结果的历史记录，Golden图和缺陷图显示不正确 行为
错误 #4742: DG前道检测 - 晶圆整片检测时缺陷结果不正常，整片检测和部分检测对比图见↓详细描述 行为
错误 #4743: 数据迁移 - AI检测的缺陷数据无法迁移 行为
错误 #4748: 设置Mask size后，重新打开job，Mask size显示错误（显示了默认预设值） 行为
错误 #4749: 设置Map旋转角度不生效 行为
错误 #4751: 数据迁移 - CD测量的数据无法迁移 行为
错误 #4771: DB检测数据要支持迁移 行为
错误 #4776: 软件重启，ACS每次会初始化回零-TEST分支 行为
错误 #4777: 删除cd golden图后，启动检测时候，日志报出“索引超出范围” 行为
错误 #4787: 程式打开的时候会roi list会保留之前的信息，显示在底图上。 行为
错误 #4788: 绘制roi的时候可以按Ctr+Z取消绘制，但是roi list没有删除，会导致roi会报错 行为
错误 #4789: roi list 排序问题，详情见描述 行为
错误 #4790: roi id和measure Point绑定问题，详情见描述 行为
错误 #4797: 套刻程式执行过程中，计算单元提示“index was outside the bounds of the array”(roi不进行绑定的情况) 行为
错误 #4825: DG检测类型 - 后道无法检测 行为
错误 #4826: 设置MAP选转角度90°，重启软件打开DG检测程式，晶圆结构显示异常 行为
错误 #4827: 建议，希望点击roi的时候列表对应的数据应该被选中，并且能够执行删除操作 行为
错误 #4828: roi选中的时候建议高亮（点击列表数据的时候高亮很明显，建议可以保持一致） 行为
错误 #4829: 左记选中roi后，roi区域比较暗，点击任一空白处后roi区域会变动的比较亮 行为
错误 #4831: cd算法没有按照绑定的roi进行计算，详情见描述 行为
错误 #4834: 算法设置页面：把左边那个对应的边从'L'改为“R”，执行完之后，再把它改为''L‘，修改不成功，页面也没有任何提示 行为
错误 #4858: 插件编辑页面将一个参数的值设置为空或者含有特殊符号，点击OK按钮后报错 行为
错误 #4860: ChinaVision00的插件编辑页面多了两个名为checkFlip的checkbox 行为
错误 #4861: CD ：roi绘制错误会，详情见备注描述 行为
错误 #4862: 添加多个roi之后，程式启动之后，计算单元会报出“Index out of range” 行为
错误 #4864: 算法配置错误后会引起程式测量的错误，详情见描述 行为
错误 #4865: 优化：建议插件编辑页面是否有分割线，按钮确定和取消的名称和格式都统一 行为
错误 #4866: roi在测试过程中会出现“空引用”的报错弹窗，暂时还不能稳定复现，在测试过程中出现 行为
错误 #4877: 刚进入TDI插件编辑页面，不勾选Simulate，显示参数Pic Path，勾选再取消勾选Simulate后，又不显示参数Pic Path，前后不一致 行为
错误 #4878: 建议：roi list列表建议加个滚动条展示数据 行为
错误 #4883: 客户端扫描时间和SPC检测时间 建议统一 4.4.1TEST 行为
错误 #4886: id绑定校验错误，详情见描述 行为
错误 #4888: AI检测 - 缺陷结果界面不显示缺陷图 行为
错误 #4889: LampBox编辑页面多了光源类型的参数和选项 行为
错误 #4890: CD测量结果界面，点OpenPath和CopyPath按钮无效 行为
错误 #4892: 针对AI检测缺陷Review，Review没有执行 行为
错误 #4901: 查看历史检测数据，缺陷分类区间不显示 行为
错误 #4946: 夹具弹窗界面问题 行为
错误 #4972: 优化，DG缺陷过多的情况下缺陷图片数据会自动换行，显示不太好看，建议保持在一行 行为
错误 #4979: 优化：VIS和CalcUnit，当core版本不一致时，启动检测后应该给出提示 行为
错误 #4980: DG检测，error日志里出现MySQL的报错信息 行为
错误 #4981: 启用10X镜头检测时，error日志里一直打印InitializePlugins:no ICalibrate or ICalibrate is error 行为
错误 #5001: 通过VIS控制面板切换镜头报错，报错后出现LLC驱动异常 行为
错误 #5061: 4.4.1 Core完整路径 行为
错误 #5149: 前道检测，点击MAP图上的DIE 会显示这个DIE上的所有缺陷ROI，建议改成点击不同的DIE区域显示这个DIE上的某张缺陷图 行为
错误 #5170: 4.4.1.10264安装包，执行程式检测时候报错，.net6插件还没有完全合完。 行为
错误 #5171: 安装包V4.4.1.10264，在控制台中开启反射光，后面的数值置灰无法修改 行为
错误 #5172: VIS4.4.1对应的CalcAgent需要打新包 行为
错误 #5195: 1.打开cd程式，vis报错，点击【JOB】按钮也会报错 2.打开无图形程式，进入详情界面的时候系统也会报错（其中某个程式） 行为
错误 #5200: 初始化JAI相机插件报错 行为
错误 #5203: cd测量结果精度丢失 行为
错误 #5210: 将已有的CD手动测量结果进行替换当前操作后，测量结果下面的数据分析和记录条数中会有手动测量的数据 行为
错误 #5215: CD类型的程式，进入RoiEditor页面修改设置并保存成功后，直接对Die测量点的golden图进行更新操作，再次点击算法设置按钮进入RoiEditor页面，刚刚保存的修改没有体现，仍是修改之前的配置。 行为
错误 #5229: DG双recipe程式，spc打开之后只显示第二个recipe数据 行为
错误 #5253: CD类型的程式检测完了后，图片没有显示最后一个测量结果对应的线宽标记 行为
错误 #5254: 4.4.1.10300安装包：DB检测，系统报错 行为
错误 #5255: 选中CD测量结果中最后一行，点击删除按钮成功删除这行数据后，标记测量结果数目的输入框中仍显示的是删除之前的No. 行为
错误 #5259: 4.4.1.10300安装包，套刻算法绑定roi后，程式测量的结果页面没有显示roi区域（roi绑定不对应情况下） 行为
错误 #5339: 4.4.1.10300安装包，设置按照面积划分缺陷区间，但是map图上颜色是按照对角线划分的 行为
错误 #5430: 合并套刻相关改动到RoiEditor1.2 行为
错误 #5436: 单击recipe名称（无论Grid和NoGrid类型）报错，报错详情请见以下描述中的截图 行为
错误 #5461: settings表为空时，VIS系统设置的数据分析部分缺陷尺寸区间的值不是默认值，应该默认为空 行为
错误 #5478: 不启用插件RoiEditor，插件初始化完成后，无法登录进入软件 行为
错误 #5479: VIS4.4.1每次软件重启后，平台都会执行home动作（安装包VIS4.4.1.10362） 行为
错误 #5485: [检测任务]错误日志分析 行为
错误 #5486: ACS.SPiiPlusNET.ACSException: Motion cannot start because the motor is disabled（VIS4.4.1.10362） 行为
错误 #5487: 欧姆龙面阵相机丢帧（VIS4.4.110362） 行为
错误 #5489: 插件初始化过程中打印的error日志 行为
错误 #5492: 任务连续检测过程中出现异常，error日志见截图 行为
错误 #5503: 任务取消检测，会有错误日志输出 行为
错误 #5507: VPFPGA Focus插件问题：提醒类弹窗弹出后，无法关闭 行为
错误 #5508: 优化：AI检测 - 导出缺陷Excel表格：①删除Defect Type列 ②User Defect Type标题改成Type 行为
错误 #5509: LineSensor.GetDllVersion Failed (VIS4.4.1.10362) 行为
错误 #5518: 系统参数中，旋转中心参数丢失（#5053功单解决过该问题，VIS4.4.1.10542版本上该功能又丢失了） 行为
错误 #5527: DG检测结果，缺陷数量与map图上绘制的缺陷数量不一致，且查看上一个缺陷下一个缺陷时，只能看到一个框选的缺陷 行为
错误 #5528: 前道算法参数 第三个条带算法参数和其它条带不一致，修改完之后，重新再打开编辑软件，参数不生效，可能存在缓存（roieditor 1.2 10476） 行为
错误 #5529: 创建晶圆结构，开始扫描图像时，光源关闭后未打开 行为
错误 #5530: Review镜头与对准策略镜头不一致时，没有做校验 行为
错误 #5534: VIS运行时间久了之后，对准会变得很慢，导致其他依赖对准的步骤报超时 行为
错误 #5547: Using camera: serial: 749A4001, name: TS5MSGV-36M, interface: GigEVision（IKap面阵相机） 行为
错误 #5558: Array cannot null.(Parameter bytes) 行为
错误 #5567: 创建晶圆结构时，勾选保存条带图，扫描完成后，Z:\Tornado4.2Data\ 相关路径下并没有保存的条带图 行为
错误 #5568: 点击【创建晶圆结构】扫图结束后，点击【返回】或者其它按钮，报错：A generic error occurred in GDI+ 行为
错误 #5571: SPC报表：1.一张缺陷图超过2000个缺陷合并，MAP怎么显示 ，2.按照DIE/缺陷图 上下翻页 3.鼠标点击缺陷图中某个缺陷，右边缺陷放大图实时跳转，显示缺陷信息 4.MAP 图支持放大比例导出 5.下一页按钮与下载【Download】留间隙，容易误点 行为
错误 #5573: V4.4.1_Test编译环境，点击插件管理弹窗报错“Object reference not set to an instance of an object.” 行为
错误 #5589: V4.4.1_Test编译环境，选择任意Die测量点后，打开相机视口然后点击golden图右边的更新按钮，弹窗报错“A generic error occurred in GDI+.” 行为
错误 #5596: 根据缺陷跳转的到spc,显示的是融合界面，但是缺陷图片是是属于具体的recipe的，是否应该跳转到确切的recipe界面 行为
错误 #5616: 通过缺陷图跳转到spc页面后，spc没有显示样片等级，任务信息显示的不是具体recipe信息 行为
错误 #5617: 跳转程序和文件做适配，只有点击缺陷图片的才显示，点击文件这个不要显示，因为显示了也跳转不过去 行为
错误 #5628: 4.4.1test获取map上传路径失败，提示获取路径失败 行为
错误 #5630: 调用Vinci.ImageHelper.Save时，如果文件名包含.，会被识别为含有后缀报错 行为
错误 #5647: 打开7月31号的缺陷图片，spc会提示缺陷不存在，但是能打开的 行为
错误 #5648: 点击导出报表，报错 行为
错误 #5654: 1.建议增加当前晶圆尺寸 2.设置完当前尺寸，重新打开程式，Mask size 默认会显示系统预设的尺寸 导致尺寸不一致 提示晶圆要重置 行为
错误 #5661: 通过缺陷图跳转到spc,spc报错 行为
错误 #5664: 【讨论】圆形检测区域检测完成后缺陷图片会保存检测区域以外的图片，点击这样图片跳转的时候会提示缺陷图不存在 行为
错误 #5666: 插件初始化，数据库备份服务提示不正确（数据库7天备份一次 测试版本：VIS_4.4.1_Test 10612） 行为
错误 #5675: 现在每点击一次缺陷图都会打开新的页面，这样会打开很多页面。交互感不好，希望能在原有的页面加载刷新，显示新的数据 行为
错误 #5676: 通过DG的缺陷图跳转到spc,map图上没有标记出缺陷的位置 行为
错误 #5681: 面阵相机插件初始化失败，点【忽略】进入软件，VIS界面显示不正常 行为
错误 #5691: 【创建晶圆结构】 - 扫描条带图的起始位置不正确，导致最后一个条带没有把晶圆结构扫全 行为
错误 #5702: [检测任务]代码拉取编译工具测试 行为
错误 #5703: 复制依赖项失败：The path is empty.(Paramter 'path') 行为
错误 #5707: 通过缺陷图跳转到spc后，该页面返回Task列表，重新选择新的任务，浏览器标题名称没有跟随变化。 行为
错误 #5708: 打包工具下载4.4.1test出现失败提示 行为
错误 #5709: 编译工具 下载VIS4.3.9TEST提示编译失败 请联系开发处理 行为
错误 #5714: JAI、欧姆龙、IKAP面阵相机，检测前未确认相机是否可用 行为
错误 #5718: 3d导出excel也需要小数点保持后3位 行为
错误 #5720: 3d量测 1.存图不生效建议隐藏，2.报表不生效建议隐藏 3.打开、复制路径 地址需要加载到存放3D bin文件路径 行为
错误 #5721: 3d量测历史记录不需要显示在检测历史结果里 行为
错误 #5722: 量测历史结果 ，先打开其他类型的结果 再打开3D结果，图像出现异常 行为
错误 #5724: 3D 检测页面 点击打开/复制 跳转到我的电脑， 需要跳转到3D bin文件目录 行为
错误 #5725: map图上选择Die采集Golden报错：未将对象引用到实例 行为
错误 #5735: 环形光问题：扫描的时候环形光不开，对准和采集golden时环形光都开的 行为
错误 #5736: [检测任务]被动聚焦（触发模式）失败后，相关逻辑处理 行为
错误 #5742: 3D测高 正常检测结束 recipe状态应该显示绿色 行为
错误 #5743: AppSettings.josn中，FileSizeLimitMBytes参数设置后没有生效 行为
错误 #5813: 3D 量测结果 图形显示有黑框异常 行为
错误 #5830: 备份服务未安装，点击两次登录 登录失败 报错 行为
错误 #5832: 打开量测历史数据提示数据被清理 或不存在。其实数据未清理，返回速度的有点慢 行为
错误 #5833: 检测页面，打开量测历史记录，出现颜色蒙层 行为
错误 #5834: 3D error 日志处理 行为
错误 #5835: 测高不需要显示偏移值 行为
错误 #5836: 球心偏移值不对 行为
错误 #5837: 4.4.1 创建NO_GRID CD流程 功能需要完善 行为
错误 #5848: 3D框选检测区域不生效 行为
错误 #5855: 机台：3D 软件版本4.4.1_test 多recipe 3D和DG检测异常中断 行为
错误 #5863: 报表缺陷过多 pics会跨行显示 行为
错误 #5872: AI检测 - 进程返回非零退出代码: -1073740791. [error_output]: GDS文件导出失败 行为
错误 #5875: AI检测 - 计算单元无法结束 行为
错误 #5878: 在打开一个缺陷定位的基础上，再点击同一个任务的其他缺陷图片跳转spc，spc刷新后，浏览器没有弹出来 行为
错误 #5882: 已经打开过的任务，但是登录过期了再选择缺陷图片跳转,spc登录后没有显示该缺陷的信息 行为
错误 #5889: 设备断电后再上电，启动VIS线阵扫图失败，复现步骤见详细描述↓ 行为
错误 #5904: 框选了不检测区域后，再去扫描条带图的时候不应该在map图上显示扫描颜色 行为
错误 #5908: 数据服务执行报错，删除sql语法错误 行为
错误 #5911: Logger.Error记录的日志，其中确定报错原因的，是否要记录到Alarm.Log中 行为
错误 #5912: StandardACSSetting.exe，Module.PluginSetting.exe 在VIS_4.4.1.10554 安装包，VIS_4.4.1_Test 下均打不开 行为
错误 #5932: 绘制的不检测区域要显示在导出的map图上和spc的报表上 行为
错误 #5946: 在 缺陷图跳转到spc的基础上重新再Task列表选择任务，进入任务详情界面后，根据缺陷图片名称查询的输入框还存在 行为
错误 #5949: 根据缺陷图跳转到spc后，在点击上一个任务，下一个任务的箭头时候，会提示没有任务 行为
错误 #5964: 数据分析设置按照面积划分区间，vis没有生效 行为
错误 #5971: recipe成组检测，recipe2的检测区域没有显示，被recipe覆盖了 行为
错误 #5979: 拷贝缺陷图片路径的时候整个缺陷文件夹会闪一下 行为
错误 #5981: 一个浏览器同时打开两个机台的任务，其中一个是缺陷图跳转的，在缺陷图跳转的页面中复制缺陷图片路径输入，该显示缺陷的视口会变成其他机台的 行为
错误 #6006: 程序限制一下只打开一个 行为
错误 #6014: 4.4.1.11118，打开程式报错（3D机台，job:本源cd） 行为
错误 #6064: 【工具】 - 【线阵扫图】 - 扫图时没有切线阵光路 行为
错误 #6069: 通过测试部署工具编译的测试包打不开 行为
错误 #6082: VIS4.4.1覆盖安装时，VIS.dll.config文件不应该被拷贝 行为
错误 #6098: iris机台：vis4.4.1.11139有一个线阵相机初始化失败，但是vis启动界面没有提示插件加载失败，error有错误日志 行为
错误 #6121: 持续检测经常会出现切换光路失败的情况（光路切换失败，当前检测任务会Aborted） 行为
错误 #6122: 持续检测，偶现检测任务无法结束的情况 行为
错误 #6124: 勾选硬触发后，重启软件后，直接运行程式，会在对准的时候报错（如果先运行不勾选硬触发模式，运行完成后再勾选硬触发，这个情况下不会报错） 行为
错误 #6143: 点安装包（VIS_4.4.1.11244）目录下的插件管理Module.PluginSetting报错 行为
错误 #6187: AI检测，计算单元起不来（ VIS4.4.1.11362 - CalcUnit_4.4.1.11124） 行为
错误 #6240: 持续检测会出现线面切换不到位情况，导致检测对准失败 行为
错误 #6254: 根据缺陷图片跳转到spc后，修改自定义缺陷名字后（由H到A），然后在筛选条件中选择H，没有选中自动缺陷的名字 行为
错误 #6262: vis点击启动备份服务，会重新加载并重置 BackupService4.4.josn文件 行为
错误 #6264: 通过缺陷图片跳转详情界面后，修改自定义缺陷后重新结算样片等级，等级没有更新 行为
错误 #6275: 在任务详情页面选择缺陷图片跳转，会提示这个任务不存在，但是跳转成功了。正常打开的数据报表，如果不需要做是不是同一个任务的检验，那就需要全部去掉 行为
错误 #6308: 选择目标路径后，可以默认选择该路径。第二次打开后程序后，直接显示 行为
错误 #6309: 拉取迁移之后的空文件夹数据，弹窗提示的路径错误 行为
错误 #6312: 缺陷文件夹没有图片数据的时候，迁移之后不会给数据库backup_bath设置标识 行为
错误 #6319: 1.程式检测完后，vis占用缺陷图和golden图（DG程式）导致迁移不能正常迁出来 2.不能正常迁移出来的图片数据为脏数据，后续如何处理（因为整个文件夹已经正常迁移出去了，数据库也标识为迁移成功，只留下了被占用图片） 行为
错误 #6325: 插件管理：VPFPGA Focus00，点击ATF Param报错 行为
错误 #6326: 插件弹窗优化 行为
错误 #6334: 【检测任务】- 测量基片厚度，调整暗场激光高度 行为
错误 #6343: 连续检测，平整度没通过，提示后运行任务没结束运动平台停一会儿才开始二次的任务 行为
错误 #6345: 暗场高度调节应该不是最佳位置 行为
错误 #6347: 传感器光点在板子上，扫描出现轴故障，重新移入扫描还是轴故障，没有重新置位 行为
错误 #6349: AI检测类型 - 跨天检测，算法会抛异常（VIS_4.1.1.11612） 行为
错误 #6357: 【暗场高度】按钮使用后页面卡顿 行为
错误 #6360: DG检测 - 计算单元有异常日志抛出（VIS4.4.1.11612 ~ CalcUnit_4.4.1.11124） 行为
功能 #890: NuGet 包：Vinci.FileSaver FTP部分方法未实现 行为
功能 #2528: 4.3.4 2D检测时配置文件设的defect,切换为3D程式，左map图不能选中点击，3D没有适配这个mapselectmode 行为
功能 #2917: Map合并 - map类型、格式相同，map文件名称不同时，是否需要支持合并（待讨论） 行为
功能 #3410: 调研有哪些依赖不支持并处理掉 行为
功能 #3609: AI传图接口修改，传小图改为传条带图,升级算法接口 行为
功能 #3674: SPC支持AI模式 行为
功能 #3866: AI模式，缺陷坐标转换为GDS坐标 行为
功能 #3976: VIS4.4.0合并VIS4.4.1_AI 行为
功能 #3988: 设计用户分类的字典文件 行为
功能 #4119: CD支持一个die上多个ROI 行为
功能 #4120: 后台代码：CD测量支持一个Die上多个ROI 行为
功能 #4132: 切换数据库从Mysql到PgSql 行为
功能 #4133: 新增pgsql的实体类，数据库操作 行为
功能 #4134: 将calcunit中相关的mysql切换成pgsql 行为
功能 #4135: 将plugins中相关的mysql切换成pgsql 行为
功能 #4136: 将vis中相关的mysql切换成pgsql 行为
功能 #4184: 在CDGolden图列表的每项中增加相机R轴 行为
功能 #4189: Goldren图旋转R轴并保存R轴信息 行为
功能 #4192: 设计配置参数的文件 行为
功能 #4193: 设计变量服务类和常量 行为
功能 #4303: 在系统参数中的大小分组功能上添加选项（面积或对角线长度） 行为
功能 #4306: 将所有就得cach数据放到新表中，明文显示 行为
功能 #4339: Gird类型检测界面，导航栏改造 行为
功能 #4381: NoGrid 检测结果界面，数据展示区域改造 行为
功能 #4420: 在本源的adapter上增加导出excel功能 行为
功能 #4455: 无图型检测 行为
功能 #4465: 移植 Die2Golden 检测功能 行为
功能 #4466: 移植IRIS检测功能 行为
功能 #4467: 移植3D检测功能 行为
功能 #4468: 移植DB检测功能 行为
功能 #4494: 将多次检测功能开放出来作为正式功能 行为
功能 #4513: 4.4 插件编辑框全部改成wpf，不允许使用Infragistics 行为
功能 #4515: 当数据库Setting表为空时，获取默认系统参数 行为
功能 #4543: AI 数据从NoGrid类型改成Grid类型 行为
功能 #4544: Grid缺陷数据结构整改 行为
功能 #4601: IRIS 检测结果页面修改功能 行为
功能 #4603: 所有图片保存获取使用png 后缀，使用统一的方法 行为
功能 #4608: SimpleCV中配准方法，支持预加载模型方式 行为
功能 #4610: CalcUnit、Picasso、Plugins项目 图片存取改为PNG格式，统一使用Vinci.ImageHelper中静态方法 行为
功能 #4612: VIS 、DataPrepare图片存取改为png格式，使用Vinci.ImagHelper 行为
功能 #4638: 缺陷图片格式改为PNG,历史结果界面兼容之前的BMP格式 行为
功能 #4794: 测试 dotnet6.0 行为
功能 #4837: 汇总逻辑升级 行为
功能 #4988: [开发]添加bining模式 行为
功能 #5053: 迁移旋转中心参数设置，放在系统参数中，与平台旋转放在一起 行为
功能 #5338: [开发]检测前面阵相机确认是否正常 行为
功能 #5371: [开发] 第一阶段开发，晶圆上分为多个区域，每个区域内部die是相同的 行为
功能 #5387: 新套刻算法界面开发V4.4.1 行为
功能 #5498: [开发] 通过缺陷图片反向再map图上定位缺陷 行为
功能 #5502: [开发]测试部署工具 行为
功能 #5713: [开发]Vinci.Log 可设置保留天数 行为
功能 #5766: [开发]安装时旧参数使用新结构保存 行为
功能 #5806: [开发]线阵和面阵光路切换 行为
功能 #5840: [开发]删除ACS插件 行为
功能 #5845: [开发]无图型检测区域，添加不检测区域（可设定多个） 行为
功能 #5959: [开发]review 支持彩色相机 行为
功能 #6167: [开发] 物镜切换和平台移动时，限制控制面板中其它动作执行 行为
功能 #6191: 【检测任务】数据迁移服务测试 行为
功能 #6210: 【检测任务】自动计算相对于圆中心的偏移 行为
需求 #2320: Core侧新增缺陷类型 行为
需求 #2691: DG模式，划片道很大的片子，只采集Die区域图片 行为
需求 #2798: vis db流程逻辑梳理 行为
需求 #2800: VIS4.4+ 扫描逻辑&线阵插件参数升级 行为
需求 #2821: 左map图与reicpe里面导入路径下的map文件不一致时，目前是继续执行，应该报错 行为
需求 #3040: NoGrid类型统一 行为
需求 #3112: Adapter开发 , Map导出路径 行为
需求 #3304: Review功能优化 行为
需求 #3337: 【消息推送】追加操作类click事件的消息推送 行为
需求 #3404: [需求] 对准中的配准算法改为SimpleCV中方法后，修改预加载模型方法 行为
需求 #3409: VIS 改成 .net 6.0. 行为
需求 #3799: 4.4.0 NoGrid类型与Core交互接口更新后，旧版本不检测区域的逻辑不再适用，需要开发新的逻辑 行为
需求 #3987: AI 关联用户缺陷分类 行为
需求 #4048: Picasso.Auto.Parameter.SystemSettings改造 行为
需求 #4065: CD支持检测模式 行为
需求 #4101: CD支持Die上多个ROI 行为
需求 #4117: VIS.exe.config文件进行拆分，将配置项的内容单独生成配置文件 行为
需求 #4131: MySql 切换为PGsql 行为
需求 #4191: 创建Variable Service 行为
需求 #4274: CD支持Die上多ROI - ①测量点支持更新 ②添加测量点自动在当前视口采集一张Golden图 行为
需求 #4295: 汇总recipe 支持 NG以外的类型 行为
需求 #4296: VIS_4.4 弃用System_caches表，开发Json序列化的cache表，VIS所有缓存都改为新的cache表 行为
需求 #4334: VIS_4.4.1 结果界面修改 行为
需求 #4338: 检测结果界面改造 行为
需求 #4454: 无图形改造 行为
需求 #4464: 支持4.3版本所有检测类型 行为
需求 #4475: 数据库创建脚本清除脏数据后，针对settings表的读取会导致错误，需处理 行为
需求 #4493: 将多次检测功能开放出来作为正式功能，供客户和测试使用 行为
需求 #4512: 4.4 插件编辑框全部改成wpf，不允许使用Infragistics 行为
需求 #4542: Grid 缺陷数据结构整改 行为
需求 #4600: IRIS 检测结果界面需要能单独查看各表面的缺陷数据 行为
需求 #4602: 公司的测试机台实现循环多次检测，保证各环境长期运行正常 行为
需求 #4647: 针对不同检测类型的Recipe参数整理优化 行为
需求 #4712: 4.4.1 Review适配多光路，同时检测 行为
需求 #4830: [需求] 汇总逻辑升级 行为
需求 #4987: 添加bining模式 行为
需求 #4989: 晶圆上分为多个区域，每个区域内部die是相同的 行为
需求 #5016: 通过缺陷图片反向再map图上定位缺陷 行为
需求 #5052: 迁移旋转中心参数设置，放在系统参数中，与平台旋转放在一起 行为
需求 #5099: 控制面板，打开光源时自动设置亮度、曝光功能升级 行为
需求 #5183: DIE比较大的晶圆 怎么做程式。比如20X镜头检测长宽25mm*25mm芯片 行为
需求 #5337: 检测前确认硬件是否正确，再执行检测 行为
需求 #5363: AI 模式，截取图片，减少图片大小 行为
需求 #5370: Grid类型，需要在Steup添加汇总recipe。 行为
需求 #5501: 测试部署工具 行为
需求 #5712: Vinci.Log 可设置保留天数 行为
需求 #5804: 线阵和面阵光路切换 行为
需求 #5839: 删除ACS插件 行为
需求 #5844: 无图型检测区域，添加不检测区域（可设定多个） 行为
需求 #5958: review 支持彩色相机 行为
需求 #5966: AI 提升检测速度 行为
需求 #6080: 系统参数，哪些需要重启，如何做到强制重启 行为
需求 #6101: 不同的检测类型，Recipe参数区分开 行为
需求 #6149: 在某些场景下，建议VIS界面增加半透明蒙版（提示正在执行的操作），禁止界面有其它交互动作 行为
需求 #6150: 基板厚度测量，调整暗场激光高度 行为
版本合并 #4408: 4.4.1 合并到 4.4 行为
版本合并 #4994: 合并4.1 test 到 m4主干 行为
设计 #4108: 细化CD支持一个die上多个ROI 行为
设计 #4109: 细化后台代码：CD测量支持一个Die上多个ROI 行为
设计 #4340: NoGrid 检测结果界面，数据展示区域改造 行为
设计 #4582: 任务的Aborted 状态，给出更详细原因 行为
设计 #5146: [设计] 晶圆上分为多个区域，每个区域内部die是相同的 行为
设计 #5307: [设计] 通过缺陷图片反向再map图上定位缺陷 行为
设计 #5335: [设计]SPC列表，缺陷个数统计显示 行为
设计 #6081: [设计]系统参数，哪些需要重启，如何做到强制重启 行为
设计 #6151: [设计] 基板厚度测量，调整暗场激光高度 行为

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