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错误

174/180
功能

77/87
需求

33/50
版本合并

1/1
设计

18/19
相关的问题
错误 #1559: DB 模式，缺陷检测结果，隔日以下功能项不能使用 行为
错误 #3578: VIS需要管理员启动；DPU重启后第一次连接MCU的MySql失败 行为
错误 #3610: 4.0无图连续检测有弹窗报错 行为
错误 #3611: 执行对准，报没有Mark 行为
错误 #3617: 【NG-导入预览图】检测异常 行为
错误 #3618: 编辑模式下切换job，打开后还保留编辑模式 行为
错误 #3619: 无图review的图片都有一根红线 行为
错误 #3620: 【自定义缺陷分类】 - 缺陷类型别名、等级别名需要做是否重复验证 行为
错误 #3621: 【自定义缺陷分类】 - 无图形检测完成后，检测结果没有显示所属缺陷等级和缺陷自定义分类 行为
错误 #3622: 【功能菜单】web报表选项卡丢失 [版本4.4.0] 行为
错误 #3623: 缺陷分类及不良设置，选择预设模板导入，提示：序列号不包含任何元素 行为
错误 #3625: 控制面板处无法切换光源颜色 [版本4.4.0] 行为
错误 #3636: 【用户自定义缺陷类型】没采用自定义的名字 行为
错误 #3637: 缺陷分类及不良设置 - 不同的缺陷类型，范围上下限判断错误 行为
错误 #3638: 无图形检测出的缺陷类型都属于more defect，【缺陷分类】里面选择的只有unknow类型,检测完成报的是NG 行为
错误 #3640: 缺陷检测结果，没用自定义别名，缺陷结果没用指定的颜色标记 行为
错误 #3641: 自定义缺陷新增A、B两行类型，检测结果属于B类型，而B类型没设缺陷等级阈值，检测结果报NG 行为
错误 #3644: 自定义缺陷形状Cross，绘制不出来 行为
错误 #3645: SPC无法添加已删除的用户名，报错：用户名重复 行为
错误 #3646: 不良品数量终止检测，超出设定阈值检测结果报的是undefined 行为
错误 #3647: 新增类型A、B，A类型设了缺陷阈值，B类型未设，检测结果按未设阈值的来判定 行为
错误 #3648: 检测任务完成后，报错：索引超出范围，必须为非负值并小于集合大小 行为
错误 #3649: 缺陷阈值添加了附加条件后，检测完成结果没有抛出 行为
错误 #3650: 4.4.0 DG检测，缺陷图没有框出缺陷 行为
错误 #3658: SPC报表，检测数据存在Review图片，缺陷确认面板不显示问题 行为
错误 #3659: 自定义缺陷，输入数字不正确后，多次点击退出后，页面会报错 行为
错误 #3662: vis4.4..0,点击加载iris历史数据报错 行为
错误 #3663: 别名输入框可以输入空格，且输入长度需要加限制 行为
错误 #3668: 4.4CD测量 没检测完就停止了 行为
错误 #3669: 4.4【程式测量】替换功能，配准完成后一直在等待返回结果 行为
错误 #3670: 【套刻】测量有高度差的类型，Mark图层不设置算法，退出会有提示 行为
错误 #3673: CD测量结果页面，【适应大小】按钮只针对当前选中的数据，别的数据还是r放大roi模式；套刻测量roi颜色单一，没弄颜色区分 行为
错误 #3677: 无图形缺陷数量为零，报的是未设置标准 行为
错误 #3679: 无图形多reicpe检测，缺陷map图会乱掉 行为
错误 #3681: Die to Golden前道检测，检测无法终止 行为
错误 #3682: CD找不到Mark，检测流程就结束了 行为
错误 #3689: 程式测量失败后，点【替换】会跳出报错弹窗，然后再启动检测，测量结果会多一条上个reicpe的检测结果 行为
错误 #3694: 测量根据die定位检测后，再加载历史会出现序列号排列混乱 行为
错误 #3699: review图片上的【type】需要显示出用户自定义的缺陷名称，并且去掉die的概念 行为
错误 #3701: 缺陷类型设置页面需要加上必填的校验 行为
错误 #3712: 【适应窗口】【ROI大小】切了几下，框选的边框会变粗 行为
错误 #3721: 【用户权限管理】 - 用Opetator角色登录VIS，报错：该用户所选角色不存在 行为
错误 #3726: 汇总Recipe选择样品等级判定方式时，没有优先显示方案别名 行为
错误 #3735: NG检测完成 map图上传失败 行为
错误 #3736: 输出窗口提示内容有错别字 行为
错误 #3738: NGmap图上传成功输出多条 行为
错误 #3739: 检测结果界面，others缺陷类型需要改成默认缺陷类型选择的名称 行为
错误 #3743: 【自定义缺陷】- 缺陷分类预设模板，模板下只有两行数据时，无法选中删除行数据 行为
错误 #3744: 【自定义缺陷分类】 - 首次安装VIS，自定义缺陷类型别名给个默认值 行为
错误 #3745: 导出文件夹不存在启动检测，输出map图上传成功，实际路径下并未有map图 行为
错误 #3748: 【Map文件导出】 - 设置文件掩码名称，结果文件名转义错误 行为
错误 #3749: 导出的Map文件自定义缺陷类型，只显示别名就可以了 行为
错误 #3755: 缺陷数量为零，检测不能结束 行为
错误 #3757: 新建job，fusion类型不启用导出路径，仍报错 行为
错误 #3761: 多个recipe检测，其中recipe中有缺陷为0情况下，汇总recipe导出的map数据为0 行为
错误 #3762: 修改样品等级判定方案阈值后，在SPC界面点Confirm重新计算样品等级，判定结果显示未实时刷新 行为
错误 #3763: 无图缺陷超过阈值，停止检测，上传的map文件缺陷数量与检测界面上的数量不一致 行为
错误 #3766: review图片上的【type】需要显示出用户自定义的缺陷名称，没有自定义的时候再显示默认的名字 行为
错误 #3769: 融合的spc，按照缺陷类型翻页，提示缺陷类型是第一个或者最后一个 行为
错误 #3771: 手动停止检测后，没有办法点击recipe名称进入recipe配置页面 行为
错误 #3773: 建议在recipe中的【缺陷设置】页面，增加Mousewheel事件 行为
错误 #3775: Setup为NoGrid类型，设置Map导出路径，报错：未将对象引用到对象实例，必现步骤见↓详细描述 行为
错误 #3778: CalcAgent1.1.0.7 - 期望配置文件中的默认参数值和安装时弹窗界面的参数保持一致 行为
错误 #3779: CalcAgent覆盖安装后（从1.0.0.2更新至1.1.0.7），服务无法手动停止 行为
错误 #3781: 选择Setup界面左下角map图导出，导出的map没有绘制缺陷 行为
错误 #3783: VIS控制面板处显示的面阵相机默认曝光值不正确 行为
错误 #3784: 软件打开一段时间后，会出现VIS和CalcAgent连接断开的情况（需要重启软件才行） 行为
错误 #3793: 有图形后道检测，Core报错 行为
错误 #3797: 无图形 - 框选圆形检测区域，检测过程中经常会出现条带图收齐重扫的问题 行为
错误 #3801: spc修改缺陷类型后，vis历史数据没有对应修改缺陷数目（vis需要再执行一次程式，之前修改的缺陷数目才会变化） 行为
错误 #3807: 多个recipe其中一个设置了【不良阈值数量（到一定数量后会终止检测）】，会有,map上传失败的提示 行为
错误 #3810: 终止review的时候，汇总结果会出现undefind 行为
错误 #3812: AI类型spc打开失败 行为
错误 #3824: UI 错误 行为
错误 #3825: 软限位未设定或不正确报错，且获取多次， 行为
错误 #3826: 取消一个检测任务，会有很多报错 行为
错误 #3835: 【数据服务】- 【参数备份】，点击【保存设置】按钮后，备份路径下只创建了一个空文件夹，没有真正执行数据备份 行为
错误 #3836: 【数据迁移】 - 迁移的数据没有放到ZippedData文件夹下（环境变量VPTEK_BACKUP指定目录下不存在ZippedData文件夹，需要自动创建） 行为
错误 #3844: 【系统设置】 - 【自定义缺陷】- 设置缺陷分类预设模板，无法选择预设模板 行为
错误 #3854: 检测异常 - 对准结束后任务就结束，日志打印 CalcAgentPost error，并且日志一直打印CalcAgentPost 行为
错误 #3856: NG检测 - 在对准完成前手动点击停止检测，软件异常，检测任务无法终止 行为
错误 #3864: NG用10X镜头检测，检测结束前提前减速了 行为
错误 #3870: 到达缺陷阈值后，停止检测，也应该停止条带图的扫描 行为
错误 #3887: 两个Recipe同时检测，扫描条带时间有时会很久 行为
错误 #3903: 程式检测结束后，Vis日志有时会有“CalcAgentPost error”错误信息 2.取消检测任务的时候，Vis日志也会有错误提示 行为
错误 #3904: 多recipe检测完成后，右击切换检测结果时，左侧小map切换检测缺陷的速度比较慢 行为
错误 #3909: map旋转90度后，spc会出现显示不全的情况 行为
错误 #3914: 4.4.0 最新Vinci.Auto版本，中途(对准、扫图等)停止检测，会跳过检测结束流程 行为
错误 #3916: 系统设置的自定义缺陷中，给H类型的缺陷颜色选择透明色，自动变成红色，且检测完了后map图中没有用红色标记H类型的缺陷 行为
错误 #3919: 自定义缺陷类型中自定义颜色的Advanced页面，在Name中输入16进制数，按回车键显示对应颜色，但下面选中的缺陷类型也会往下选中一行 行为
错误 #3920: 优化建议：自定义颜色的Palettes页面，建议删除STANDARD COLORS行和对应颜色，RECENT COLORS行和对应颜色建议放在第一行 行为
错误 #3921: 导出map格式检验的提示建议改为“请检查导出路径中的map类型和程式是否一致” 行为
错误 #3923: recipe设置的缺陷分类设置中，删除所有的缺陷类型配置行，点击返回按钮，再次点击recipe进入recipe设置页面，会显示系统设置中设为默认的自定义缺陷类型 行为
错误 #3924: recipe设置的缺陷分类设置中预设模板选择Normal，再点击导入按钮，成功导入normal模板对应的缺陷分类，点击返回按钮，再次进入recipe设置，缺陷分类设置中预设模板参数的值变成了Loose 行为
错误 #3926: 系统设置的自定义缺陷中预设模板的设为默认按钮，实际只是将当前配置的自定义缺陷类型设置为重置按钮的默认，而不是将当前模板和配置的自定义缺陷类型设置为默认模板，所以提示信息不正确 行为
错误 #3945: 关闭光源，切换镜头报错：给定关键字不在字典中 行为
错误 #3965: 保存条带图的格式选择jpeg，png格式，但是保存的是bmp格式 行为
错误 #3967: 修改保存条带图的数量，第一次执行的时候没有生效，需要在第二次执行的时候才会生效 行为
错误 #3968: 多次执行后，同一缺陷会出现缺陷亮度不一致的情况 行为
错误 #3970: 优化：map导出 - 目前不支持导出缺陷分布图、Review图，先将这两设置项隐藏 行为
错误 #3975: 在没有预设尺寸的情况下，选择Mark Size后，第一次点【自动布局】没有生成Map图，第二次点击的时候才会生成 行为
错误 #3977: 勾选膜框显示和取消膜框显示，都需要拖动一下左侧的小map图才会生效 行为
错误 #3985: 安装VIS_4.4.0.8901,软件无法启动 行为
错误 #3996: 主动聚焦插件部分丢失，在系统可用组件找不到 行为
错误 #3999: JAI相机插件，配置水平、垂直翻转无效 行为
错误 #4005: iris终止检测，汇总recipe的样片等级为“undefined”，应该为"ng" 行为
错误 #4010: iris:map导出，建议膜框加上 行为
错误 #4021: 缺陷尺寸区间中最后两个区间只输入区间数，未配置RGB颜色值，点击页面底部的确定按钮提示输入格式错误，但输入框下面的颜色图标最后却正常显示2个颜色和区间 行为
错误 #4022: 缺陷尺寸区间中数值输入前大后小、前后相同或等于0时，点击确定按钮保存成功，无错误提示 行为
错误 #4024: 修改缺陷类型的优先级后后，保存的等级文档没有立即生效 行为
错误 #4026: 缺陷合并之后，spc点击【select job】，提示任务打不开 行为
错误 #4030: 相邻位置的同形状缺陷颜色不一样时，VIS和SPC优先显示的颜色不一致。 行为
错误 #4043: 选择预设模版点击【导入】或者【新增】按钮，系统报错。（安装包） 行为
错误 #4044: 缺陷尺寸区间修改数值后点击确定按钮进行保存设置，在历史设置页面选择之前已保存的时间点进行恢复，不会恢复成之前已保存的设置，还是显示恢复前已保存的尺寸区间 行为
错误 #4045: 没有缺陷的情况下勾选合并缺陷，日志会报错（安装包） 行为
错误 #4046: 安装包V4.4.0.8996版本，在汇总recipe的设置页面，点击导出参数按钮，报错“未将对象引用设置到对象的实例” 行为
错误 #4050: 安装包V4.4.0.9011，点击recipe名称进入设置页面，先点击检测结果图标按钮查看检测结果，再点击recipe设置图标按钮，报错“The target recipient has already subscribed to the target message.” 行为
错误 #4052: 安装包V4.4.0.9011，【样片等级】点击自定义别名，但是不修改。保存完之后recipe中选择的默认缺陷类型没有了 行为
错误 #4053: 安装包V4.4.0.9011，进入recipe设置页面，再进入系统设置页面，直接点击确定按钮，recipe设置页面的缺陷类型都自动变成了A类，默认缺陷类型也自动清空了 行为
错误 #4055: 安装包V4.4.0.9011，缺陷尺寸区间已设置对角线小于18.4μm的缺陷应该为黄色，大于等于18.4μm的缺陷应该为绿色，但实际检测完了后的map图中对角线等于18.4μm却显示黄色 行为
错误 #4059: 安装包4.4.09011：切换参考点，点击【移动】，vis没有反应 行为
错误 #4061: 安装包V4.4.0.9055,创建新的job，点击recipe名称进入recipe页面的时候提示“指定转换无效”（只有新recipe第一次打开会报错） 行为
错误 #4062: 安装包4.4.0.9055：导出map图绘制缺陷的图形，需要和小map图绘制的缺陷图形一致 行为
错误 #4063: 安装包4.4.0.9055：导出map图绘制缺陷的颜色，需要和小map图绘制的缺陷颜色一致（区间颜色传给唐飞） 行为
错误 #4075: 安装包V4.4.0.9096，NoGrid类型的recipe正常检测完了后，修改汇总recipe的导出路径选择map类型为Grid的其他导出路径，启动检测后正常检测完了，再修改汇总recipe的导出路径选择map类型为NoGrid的导出路径，启动检测失败报错（如下图） 行为
错误 #4086: 导出缺陷excel表格数据中，[Defect Details]的数据和[Defect Summary]页面的数据不对应 行为
错误 #4110: 安装包【4.4.09136】在【系统设置】--【自定义缺陷】，修改缺陷排序后，执行程式。切换job，再次打开【系统设置】，点击【确定】时报错 行为
错误 #4118: 检测卡死 行为
错误 #4147: 检测结束后无法操作 行为
错误 #4158: VIS4.4安装包 - 【设置】菜单下的【数据服务】选项卡丢失 行为
错误 #4196: iris，数据准备点击【新建】报错，232机台提示”给定关键字不在字典中“ 行为
错误 #4212: 在没有设置区间颜色的情况下，导出的map图上没有绘制出缺陷。（应该取自定义缺陷配置的颜色） 行为
错误 #4214: DB没有兼容【Fusion】程式，如果不做兼容的话需要处理一下执行到Fusion时候的提示。他会提示“没有查询到检测结果”，这样不友好 行为
错误 #4217: SPC是否需要兼容DB,因为可以选择job数据 行为
错误 #4218: DB显示在监测区域列表中，需要从列表中去掉 行为
错误 #4230: VIS_4.4.0.9246安装包，聚焦插件被拆分成两个组的问题 行为
错误 #4234: DB程式执行完成后切换到无图形的程式，扫描的过程中会提示“”“条带图片未收集齐” 行为
错误 #4270: 修改Die尺寸小于外围尺寸，但依然会有弹窗提示：Die尺寸必须小于外围尺寸(偶现) 行为
错误 #4271: CD检测结果为0的时候，日志会报错，程序会卡住。 行为
错误 #4283: 导入gds图后，在spc切换缺陷类型，map图会变成空白 行为
错误 #4284: spc选择job数据，显示的缺失单个recipe数据 行为
错误 #4304: 选择"显示参考点"，导入预览图，或者gds图后，左则的小map图，没有显示参考点 行为
错误 #4343: spc数据列表针对ai程式影藏掉ng的显示 行为
错误 #4363: 不存在RoiEditor文件夹的情况下，VIS初始化插件后需要点击忽略才能登陆 行为
错误 #4404: 选中自定义缺陷类型名称后，再右键切换不同recipe结果界面，显示自定义缺陷名称区域会出现一个虚线框 行为
错误 #4460: 安装CalcAgent_1.1.0.10，服务无法启动，也无法映射驱动（个别dpu出现这个问题，2楼长飞机台可复现） 行为
错误 #4473: 执行拟合聚焦测试的时候，系统日志报错，错误详情见下面截图 行为
错误 #4741: 【工具】- 【数据备份】- 【保存设置】后，系统参数与插件表出现重复备份的情况 行为
错误 #4898: 系统设置先勾选ABC三个类型 检测完了之后，去勾选这三个选项，recipe显示类型为空，点击检测，类型显示的是旧数据。 行为
错误 #4906: 缺陷汇总结果，没有根据设定的缺陷规则合并 行为
错误 #4908: 缺陷处理 - 不启用缺陷合并，启动检测时，不需要验证合并的缺陷类型是否禁用 行为
错误 #4941: 偶现：ATF按照条带存储离焦量和Z坐标时报错 行为
错误 #4942: 优化：自检Recipe选择的自定义缺陷是否被禁用，建议在夹具模块弹出前校验 行为
错误 #5010: 系统闪退，详细步骤见描述 行为
错误 #5011: 一个job有两个recipe，执行到第二个recipe的时候手动停止检测，第一个recip的状态为“手动停止”，第二个为“aborted”。 行为
错误 #5038: Recipe界面不进行缺陷分类设置，只有默认自定义缺陷类型，检测结束后，①结果显示的自定义缺陷名称和系统设置的不一致 ②map图上的缺陷形状和系统设置不一致 行为
错误 #5040: 实际Review的图片数量和设置的Review缺陷数据量阈值条件不符 行为
错误 #5050: Review结果与实际设置的Review条件不符 行为
错误 #5055: Review条件下的缺陷类型被禁用后，重新选择缺陷类型，点【返回】按钮，缺陷类型参数无法保存 行为
错误 #5057: 系统设置 - 修改自定缺陷类型排序后，启动检测，检测结果缺陷类型排序不正确 行为
错误 #5058: 反射光缺陷与透射光缺陷根据缺陷规则合并后，融合结果里透射光下的缺陷不正确 行为
错误 #5059: 在没有做过预览图标定的vis中导入预览图后，执行程式，日志报出：序列不包含任何元素，是不是应该在点击启动后校验没有标定的这个问题（导入预览图的情况下） 行为
错误 #5060: 4.4.0 无图形Core完整路径 行为
错误 #5075: 双光路同时检测，B光路下的光源没有打开 行为
错误 #5081: 在vis检测过程中模拟闪退的情况，点击历史数据加载数据的时候显示“选中的任务状态为检测中，不能加载历史数据”，而且是在出现缺陷数据的时候闪退的是不是应该有缺陷数据的保存 行为
错误 #5082: 在job上新建个recip，执行程式的提示“System.ArgumentNullException: 值不能为 null。” 行为
错误 #5087: 数据迁移服务 - 未根据设定条件将检测数据迁移出来 行为
错误 #5089: 参数备份：Z:\VPTEKCONFIG路径下的【AtfConfigFiles】、【BackupServiceConfig_4.4】文件夹均需要做备份 行为
错误 #5091: 按照等级模板的定义，样片的等级应该为A等级，但是系统没有计算出样片等级 行为
错误 #5123: Review - 不勾选根据条件Review，启动Recipe自检时，不需要验证Review自定义缺陷是否被禁用 行为
错误 #5124: 每次软件重启后，平台都会执行home动作 行为
错误 #5151: 数据服务 - 检测数据已迁移完成，但弹窗依然显示检测数据迁移状态 行为
错误 #5165: 第一次初始化模拟相机模块，插件中的模拟相机参数不要给默认值，不然会导致只有A光路的机台，初始化插件的时候报错 行为
错误 #5243: 1.在【系统设置】--【塔灯设置】中设置【异常指示灯】为绿色，程式执行过程中红色的警示灯一直亮着，2.设置【异常指示灯】为黄色，异常结束时指示灯为红色（vis没有按照系统设置参数进行显示，机器的指示灯是对的） 行为
错误 #5286: 标定失败的提示建议改为“光标定失败，请检查检测参数是否设置正确”。2.recipe中光源为0的时候，点击【采集光标定参数】错误可以具体点比如说“检测光源不能为0” 行为
错误 #5288: 在亮度调整步长范围内，已经找到合适的光亮，就停止标定，取最优值就好。 行为
错误 #5303: 数据迁移异常：①部分数据迁移不出来 ②会重复迁移backup_path标记为1的数据 行为
错误 #5321: 启动检测报错：激光挡板遮蔽失败，已关闭激光光源，请关闭软件后联系维护人员 行为
错误 #5322: 软件启动检测报错 行为
错误 #5325: 双recipe检测，会出现第一个recipe进度为97.22%的情况，但是是已经完成的状态（偶显） 行为
功能 #2643: 分析：如何保持机台磁盘健康, 给出方案 行为
功能 #3516: 开发光源模块 行为
功能 #3527: 清理Picasso 弃用代码 行为
功能 #3528: 清理VIS弃用代码，清理CalcUnit弃用代码 行为
功能 #3534: 无图形删除die的概念 行为
功能 #3536: 升级自定义缺陷分类 行为
功能 #3548: VIS&计算单元 3D部分废弃代码清理 行为
功能 #3549: VIS&计算单元 DB部分废弃代码清理 行为
功能 #3550: VIS&计算单元 DG部分废弃代码清理 行为
功能 #3551: VIS&计算单元 NG部分废弃代码清理 行为
功能 #3552: VIS&计算单元 CD部分废弃代码清理 行为
功能 #3553: VIS&计算单元 AI部分废弃代码清理 行为
功能 #3568: Grid和NoGrid的晶圆结构/MAP布局 拆分到两个项目中 行为
功能 #3571: 检测任务与基片关联 行为
功能 #3580: 所有Setup类型和Recipe类型增加对应的MainJob 行为
功能 #3585: Picasso.Auto 项目排除Winform和WPF相关代码 行为
功能 #3598: CD测量页面移除winform相关页面 行为
功能 #3599: CD测量页面移除winform相关页面-相机控件和菜单工具更改 行为
功能 #3624: 4.4.0 NG模式，检测结果处理界面，缺陷图上框选缺陷改为WPF绘图 行为
功能 #3627: IRIS返回结构&接口升级 行为
功能 #3643: SPC报表内绘制缺陷Map图，需要支持缺陷自定义颜色和形状 行为
功能 #3656: NG畸变矫正功能开发 行为
功能 #3672: NG 类型MAP导出 行为
功能 #3713: 4.4.0 增加汇总Recipe对应的结果处理界面 行为
功能 #3714: 4.4.0 散射模型系数标定工具针对 明场开发 行为
功能 #3717: 汇总Recipe功能开发 行为
功能 #3747: 4.4.0 InspectionTaskItemCompleted 事件中的Exception入参需要包含详细的错误信息 行为
功能 #3792: 4.4.0 对准前，先计算并移动Z轴至主动聚焦行程内 行为
功能 #3798: 4.4.0 NG结果处理界面，点击缺陷图上缺陷，更新缺陷详细以及右侧缺陷放大图片 行为
功能 #3800: 4.4.0 计算单元闪退重扫的逻辑优化 行为
功能 #3804: 优化：无图形Review，Recipe参数界面只保留一个ReviewFlag参数，放到左侧 行为
功能 #3813: 检测框架中的RedoException（重扫）针对多Recipe同时检测修改 行为
功能 #3827: VIS 界面显示是否是Admin权限启动 行为
功能 #3829: 获取所有可用插件功能优化 行为
功能 #3834: Z轴预计算增加其他方案 行为
功能 #3848: 检测结果文件夹的跨天问题 行为
功能 #3849: 移除加减速区域设定 行为
功能 #3853: 日志管理与分析 行为
功能 #3863: VIS界面、SPC界面和导出模块，MAP图旋转功能开发 行为
功能 #3868: 主动聚焦插件聚焦参数保存，VIS recipe中可选择不同聚焦参数文件 行为
功能 #3877: 【Recipe界面】- 【缺陷分类设置】- 启用默认预设模板 行为
功能 #3894: NoGrid MAP导出改为使用Adapter模式，增加缺陷坐标转化为用户坐标系下坐标的功能 行为
功能 #3895: NoGrid MAP导出改为使用Adapter模式，增加缺陷坐标转化为用户坐标系下坐标的功能 行为
功能 #3898: 缺陷分类设置 - 缺陷范围大小要支持输入小数，例：0.2~0.5，0.5~1 行为
功能 #3902: 4.4.0 自定义缺陷分类允许输入小数 行为
功能 #3905: 4.4.0 自定义缺陷分类，缺陷颜色改为RGBA形式存储 行为
功能 #3908: FPGA版本自研主动聚焦插件，添加串口接收离焦量和Z坐标功能 行为
功能 #3912: VIS缺陷结果界面，可查看自定义缺陷的尺寸及数量（条形图或者数据表样式） 行为
功能 #3934: 优化：修改Mask Size后，提示用户要重置map结构 行为
功能 #3953: 4.4 IRIS检测类型完善 行为
功能 #3954: 晶圆结构上添加显示隐藏的功能 行为
功能 #3956: 4.4.0 保存条带图增加图片格式以及筛选功能 行为
功能 #3962: 设定4.4.0的打包服务 行为
功能 #3982: 4.4.0 ProductRecipe界面增加缺陷合并距离参数 行为
功能 #3989: ATF监测功能，按照条带存储离焦量和Z坐标 行为
功能 #4007: VIS汇总recipe支持缺陷合并 行为
功能 #4013: 系统设置中缺陷区间新增颜色设置 行为
功能 #4019: 4.4.0 NG结果界面根据区间和颜色修改显示逻辑 行为
功能 #4020: 4.4.0 VIS汇总结果显示时，根据配置，合并其他Recipe中距离相近的缺陷 行为
功能 #4023: 将导出的缺陷图片调整为一张缺陷放大图+缺陷信息 行为
功能 #4031: VIS4.4.0 SPC1.2 缺陷类型增加三个空心形状 行为
功能 #4070: NoGrid Map统一 行为
功能 #4223: 开发暗场激光插件 行为
功能 #4257: 开发明场激光器插件 行为
功能 #4430: 非扫描状态，限制暗场激光最大能量 行为
功能 #4855: [开发]合并的缺陷结果修改 行为
功能 #4879: [开发]添加缺陷类型是否启用 行为
功能 #4880: [开发]spc汇总 行为
功能 #4881: [开发]合并的缺陷结果修改 行为
功能 #4943: [开发] Web上Aborted分类细化，例如：人员手动停止，设备异常停止 行为
功能 #4973: [开发]开发并升级数据服务4.4 行为
功能 #4974: [开发]开发并升级ZipData 4.4 行为
功能 #4975: [开发] Review Recipe 添加筛选和限制 行为
功能 #4976: [开发] 缺陷坐标逻辑改造 行为
功能 #4977: [开发] 面阵相机拆分 行为
功能 #4990: 未启用的缺陷类型，在级别设定中不应被关注或修改 行为
功能 #4999: [开发]SPC任务列表改成Job列表，打开后内部可以选择任务 行为
功能 #5043: 激光能量看一下是什么问题 行为
功能 #5044: 确定一下这个是不是从采集卡获取的 行为
功能 #5067: [开发]光源模块改造 行为
功能 #5072: [开发]报警界面与信号灯联动提示 行为
功能 #5073: [开发]SPC上3个窗口自定义显示 行为
功能 #5137: [开发]软件部署检查表4.4 行为
功能 #5206: [开发]线阵光标定 行为
功能 #5207: 线阵相机的面阵模式开发 行为
功能 #5304: [开发] 激光光源业务逻辑升级 行为
功能 #5315: [开发]Review可以配置不同ATF聚焦参数文件，可设置基准Z轴坐标 行为
需求 #1756: VIS升级.Net 6 行为
需求 #2320: Core侧新增缺陷类型 行为
需求 #2648: ROI editor 升级 行为
需求 #2702: 创建job、setup、recipe操作优化，建议按树形结构层级添加，显示的时候也按照层级显示，只显示Job对应的Setup 行为
需求 #2900: 建议后期创建无图形或IRIS双面检测，设置好Z轴焦面0，0点默认作为mark点，中心点默认为参考die，die尺寸以中心点往外扩展（夹具中心就是0点位置，放片需要在中心点） 行为
需求 #3152: 自定义缺陷分类设置界面，加个自定义缺陷排序的功能，选中一行，上移、下移 行为
需求 #3171: 检测聚焦方式选择拟合，对于异常拟合的点位，拟合结束后，希望软件在拟合结果列表页支持删除拟合die 行为
需求 #3173: CD检测 算法层需要支持多区域框选ROI，一个ROI可以测试多个测量点位 （航天13所项目） 行为
需求 #3174: 对于阵列式的晶圆，不检测集中几行die，需要对检测结果进行处理，不让它显示在检测结果里 行为
需求 #3238: 开发光源模块 行为
需求 #3407: 取消检测速度和加减速区域设定，取消速度设定 行为
需求 #3456: 无图型缺陷合并功能 行为
需求 #3458: 无图形成组检测 行为
需求 #3473: 无图形检测功能优化升级 行为
需求 #3477: 无图形检测支持手动Review 行为
需求 #3490: B/S报表，缺陷分类显示调整（针对有图形） 行为
需求 #3532: 无图形 支持畸变矫正 行为
需求 #3533: 无图形删除die的概念 行为
需求 #3535: 升级自定义缺陷分类 行为
需求 #3541: 缺陷返回结构&接口升级 行为
需求 #3567: 所有Setup类型和Recipe类型增加对应的MainJob，用于处理不同类型独特的界面，检测流程 行为
需求 #3576: 多个recipe，如何计算分类类别 行为
需求 #3832: 报表显示需要将透射和反射合并为同一个报表 行为
需求 #3862: MAP图旋转, 导出客户相对坐标 行为
需求 #3876: 【Recipe界面】- 【缺陷分类设置】- 启用默认预设模板 行为
需求 #3880: ToDesk免费时长用完后无法连接现场环境 行为
需求 #3928: 上海传芯 - 平台坐标和相对坐标单位要改成um 行为
需求 #3941: 3000U缺陷map优化 行为
需求 #3942: 检测结果增加离焦量曲线 行为
需求 #3974: 导出的缺陷表格里需要加一个缺陷汇总 行为
需求 #3984: 缺陷分布图 - 通过形状区分缺陷类型，颜色区分缺陷大小区间 行为
需求 #4011: 将导出的缺陷图片调整为一张缺陷放大图+缺陷信息 行为
需求 #4215: 3000U机台暗场激光器插件开发 行为
需求 #4833: Review 升级 行为
需求 #4853: 合并的缺陷结果修改 行为
需求 #4854: SPC上3个窗口自定义显示 行为
需求 #4871: Web上Aborted分类细化，例如：人员手动停止，设备异常停止 行为
需求 #4872: 报警界面与信号灯联动提示 行为
需求 #4873: SPC任务列表改成Job列表，打开后内部可以选择任务 行为
需求 #4951: 线阵光标定 行为
需求 #4952: 开发并升级数据服务4.4 行为
需求 #4958: 透射光下线面阵相机检查，是否正确收图（灰度值不总为0） 行为
需求 #5066: 光源模块改造 行为
需求 #5136: 软件部署检查表4.4 行为
需求 #5148: 对准前小Z搜索焦面功能，启用项加到系统参数枚举中 行为
需求 #5155: 激光光源业务逻辑升级 行为
需求 #5205: 检测结果显示或导出关键检测参数 行为
需求 #5262: Review可以配置不同ATF聚焦参数文件，可设置基准Z轴坐标 行为
需求 #5263: 报表界面缺陷图右下角添加比例尺，缺陷图统一比例显示，可缩放 行为
需求 #5264: 系统设置缺陷尺寸区间颜色，改为选取的方式 行为
版本合并 #3960: 4.4.0版本合并打包 行为
设计 #2954: 确认缺陷（同storm） 行为
设计 #3239: 研究光源模块实现方式 行为
设计 #3408: 取消检测速度和加减速区域设定，取消速度设定 行为
设计 #3457: 无图型缺陷合并功能 行为
设计 #3542: 有图形前道/后道缺陷返回结构&接口升级 行为
设计 #3543: 无图形返回结构&接口升级 行为
设计 #3544: AI类型检测返回结构&接口升级 行为
设计 #3545: DB类型检测返回结构&接口升级 行为
设计 #3546: 3D类型检测返回结构升级 行为
设计 #3547: CD类型返回结构升级 行为
设计 #3575: 研究 NoGrid 支持畸变矫正 功能 行为
设计 #3846: 和材质相关的一些参数的配置和使用 行为
设计 #3847: MAP图旋转 行为
设计 #4869: [设计] Review 升级 行为
设计 #4870: [设计]SPC上3个窗口自定义显示 行为
设计 #4876: [设计]报警界面与信号灯联动提示 行为
设计 #4882: [设计]SPC任务列表改成Job列表，打开后内部可以选择任务 行为
设计 #5138: [设计]线阵光标定 行为
设计 #5300: [设计]Review可以配置不同ATF聚焦参数文件，可设置基准Z轴坐标 行为

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