一般

简介

王建祥

问题

打开 已关闭 合计
被指派的问题 5 23 28
已报告的问题 0 26 26

项目

项目 角色 注册于
1.Tonardo 开发工程师 2024-05-27
Tonardo 3 开发工程师 2024-05-27
中电2所Tornado-2000 开发工程师 2025-04-14
中电科55所Vortex 2000 开发工程师 2025-04-03
刻得不错Tornado-2000 开发工程师 2025-04-03
北京航天Tornado-2000 开发工程师 2025-04-03
大宝岛Vortex 2000 开发工程师 2025-05-22
宇量昇Tornado-2000 开发工程师 2025-04-03
本源量子Tornado-2000 开发工程师 2025-04-03
金坛索尔思-Tornado2000M CD测量仪 开发工程师 2024-05-27
45所颗粒度检测 开发工程师 2024-05-27
45所颗粒度检测第二台 开发工程师 2024-05-27
Storm 3 开发工程师 2024-05-27
Storm 4 开发工程师 2024-05-27
禾臣大板Storm 2000SL 开发工程师, 运维 2024-05-27
路维大板-storm 2000P 开发工程师, 运维 2024-05-27
3.VIS 4 开发工程师 2024-01-03
3.光学 运维 2024-05-27
3.电气 测试工程师 2024-05-27
4. 维护 开发工程师 2024-05-27
6.Plugin 开发工程师 2024-05-27
9.EFEM(设备前端模块) 开发工程师 2024-05-27
ROI Editor 开发工程师 2024-11-29
SPC 开发工程师 2024-11-14

活动

2025-05-21

08:09 3.VIS 4 功能 #4467 (进行中): 移植3D检测功能
王建祥
07:09 3.VIS 4 错误 #4373 (已解决): 点击设置菜单中的WaferType按钮后报错
WaferTypes模块已经被删除,按钮不会再存在。
4.1版本已经按上述处理。
王建祥

2025-05-20

03:08 3.VIS 4 设计 #4462 (已解决): 整理新的套刻算法设定逻辑
王建祥

2025-05-19

07:47 3.VIS 4 错误 #4161 (反馈): 3D 检测 导出csv格式,recipe 名称中文显示错误
没有复现。
请用最新版本包验证后没问题就关闭。
王建祥

2025-05-14

00:57 3.VIS 4 错误 #4370 (已解决): 进入recipe设置页面,添加一个Die测量点,再删除这个Die测量点,然后点击程式测量按钮,在程式测量页面点击测量和替换当前按钮分别报不同的错误信息
王建祥

2025-05-09

10:05 3.VIS 4 错误 #4422 (已解决): map导出类型3D001不生效
王建祥

2025-05-07

08:18 3.VIS 4 错误 #4377 (已解决): 点击【移入】在平台移入的过程中再点击前后左右移动,系统会报错
1.当平台正在移入或移出过程中,点击移动平台时,会中止当前的移入移出动作,因此出现移入或移出动作没有完成的情况。
2.针对该单中出现的系统报错,修改了报错方式,不再采用系统的MessageBox, 使用UCMessage.ShowW...
王建祥

2025-04-29

09:32 3.VIS 4 需求 #4039 (已解决): 3D检测 ①建议量测结果和map 做成联动形式 ②量测默认会保存Bmp格式图片,针对晶圆Die比较多的产品,量测完会等待几分钟生成Bmp图片才能结束流程,建议增加是否保存Bmp图片按钮。
①量测结果与小Map做成了联动。
②量测时生成Bmp格式图片统一放到了10所的MAP导出中,不是10所时不会导出BMP图片和PDF文件。
王建祥

2025-04-28

07:32 3.VIS 4 错误 #4364 (已解决): 打开CD测量手工测量页面,使用MeasurePoint默认的L1,L2进行测量,测量结果中显示1和2,不带方向字符L
王建祥

2025-04-25

05:28 ROI Editor 错误 #4348 (已解决): 由于优化后的GrayCD算法的MeasurePoint中CL,CR,CT,CB的逻辑和之前不一样,所以优化后的GrayCD算法页面需要修改
王建祥

导出 Atom