王建祥
- 登录名: wangjianxiang
- 邮件地址: wangjianxiang@vptek.com
- 注册于: 2023-11-10
- 最后登录: 2025-04-21
问题
打开 | 已关闭 | 合计 | |
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被指派的问题 | 5 | 23 | 28 |
已报告的问题 | 0 | 26 | 26 |
项目
项目 | 角色 | 注册于 |
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1.Tonardo | 开发工程师 | 2024-05-27 |
Tonardo 3 | 开发工程师 | 2024-05-27 |
中电2所Tornado-2000 | 开发工程师 | 2025-04-14 |
中电科55所Vortex 2000 | 开发工程师 | 2025-04-03 |
刻得不错Tornado-2000 | 开发工程师 | 2025-04-03 |
北京航天Tornado-2000 | 开发工程师 | 2025-04-03 |
大宝岛Vortex 2000 | 开发工程师 | 2025-05-22 |
宇量昇Tornado-2000 | 开发工程师 | 2025-04-03 |
本源量子Tornado-2000 | 开发工程师 | 2025-04-03 |
金坛索尔思-Tornado2000M CD测量仪 | 开发工程师 | 2024-05-27 |
45所颗粒度检测 | 开发工程师 | 2024-05-27 |
45所颗粒度检测第二台 | 开发工程师 | 2024-05-27 |
Storm 3 | 开发工程师 | 2024-05-27 |
Storm 4 | 开发工程师 | 2024-05-27 |
禾臣大板Storm 2000SL | 开发工程师, 运维 | 2024-05-27 |
路维大板-storm 2000P | 开发工程师, 运维 | 2024-05-27 |
3.VIS 4 | 开发工程师 | 2024-01-03 |
3.光学 | 运维 | 2024-05-27 |
3.电气 | 测试工程师 | 2024-05-27 |
4. 维护 | 开发工程师 | 2024-05-27 |
6.Plugin | 开发工程师 | 2024-05-27 |
9.EFEM(设备前端模块) | 开发工程师 | 2024-05-27 |
ROI Editor | 开发工程师 | 2024-11-29 |
SPC | 开发工程师 | 2024-11-14 |
活动
2025-05-21
- 08:09 3.VIS 4 功能 #4467 (进行中): 移植3D检测功能
- 07:09 3.VIS 4 错误 #4373 (已解决): 点击设置菜单中的WaferType按钮后报错
- WaferTypes模块已经被删除,按钮不会再存在。
4.1版本已经按上述处理。
2025-05-20
- 03:08 3.VIS 4 设计 #4462 (已解决): 整理新的套刻算法设定逻辑
2025-05-19
- 07:47 3.VIS 4 错误 #4161 (反馈): 3D 检测 导出csv格式,recipe 名称中文显示错误
- 没有复现。
请用最新版本包验证后没问题就关闭。
2025-05-14
- 00:57 3.VIS 4 错误 #4370 (已解决): 进入recipe设置页面,添加一个Die测量点,再删除这个Die测量点,然后点击程式测量按钮,在程式测量页面点击测量和替换当前按钮分别报不同的错误信息
2025-05-09
- 10:05 3.VIS 4 错误 #4422 (已解决): map导出类型3D001不生效
2025-05-07
- 08:18 3.VIS 4 错误 #4377 (已解决): 点击【移入】在平台移入的过程中再点击前后左右移动,系统会报错
- 1.当平台正在移入或移出过程中,点击移动平台时,会中止当前的移入移出动作,因此出现移入或移出动作没有完成的情况。
2.针对该单中出现的系统报错,修改了报错方式,不再采用系统的MessageBox, 使用UCMessage.ShowW...
2025-04-29
- 09:32 3.VIS 4 需求 #4039 (已解决): 3D检测 ①建议量测结果和map 做成联动形式 ②量测默认会保存Bmp格式图片,针对晶圆Die比较多的产品,量测完会等待几分钟生成Bmp图片才能结束流程,建议增加是否保存Bmp图片按钮。
- ①量测结果与小Map做成了联动。
②量测时生成Bmp格式图片统一放到了10所的MAP导出中,不是10所时不会导出BMP图片和PDF文件。
2025-04-28
2025-04-25
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