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2025-07-25 冷曦 开发 错误 #5425: 手动测量结果页面已经有多个测量结果，选中M1后在CD手动测量窗口或者程式测量窗口点击替换当前按钮，替换后的M1结果显示在最下面一行 1.00 行为
2025-07-25 谢延义 开发 功能 #5373: [开发]矩形测量功能 5.00 行为
2025-07-25 谢延义 开发 功能 #5433: [开发] CD测量时使用基于图像清晰度的被动聚焦 5.00 行为
2025-07-25 王建祥 开发 功能 #5413: [开发] cd不同线宽标定 8.00 行为
2025-07-25 刘亚洲 开发 错误 #5436: 单击recipe名称（无论Grid和NoGrid类型）报错，报错详情请见以下描述中的截图 1.00 行为
2025-07-25 冷曦 开发 功能 #4193: 设计变量服务类和常量 4.00 行为
2025-07-25 董礼 开发 错误 #5415: 编辑InOverlay套刻算法，界面显示空，无法编辑也无法重新选择 0.50 行为
2025-07-25 刘亚洲 开发 功能 #5374: [开发] SPC列表，缺陷个数统计显示 24.00 行为
2025-07-25 董礼 开发 错误 #5430: 合并套刻相关改动到RoiEditor1.2 2.00 行为
2025-07-25 冷曦 开发 功能 #5371: [开发] 第一阶段开发，晶圆上分为多个区域，每个区域内部die是相同的 8.00 行为
2025-07-25 杨冰冰 开发 错误 #5427: 选中手动测量结果中任意1条数据进行删除操作后，左边的图片仍是已删除的结果对应的图片 2.00 行为
2025-07-25 董礼 开发 功能 #4912: [开发] 优化VIS控制面板 8.00 行为
2025-07-24 冷曦 开发 错误 #5407: CD类型的程式，点击程式测量的替换当前按钮或者CD手动测量页面的替换当前按钮，都不会替换已选中的手动测量结果，而是新生成一条测量结果 1.00 行为
2025-07-24 谢延义 开发 功能 #5373: [开发]矩形测量功能 5.00 行为
2025-07-24 杨冰冰 开发 错误 #5173: CD测量 - Die上多测量点，只要有测量点测量失败，左下角map图上的die应该用红色标记（目前检测发现：die上多测量点，最后一个测量点成功用绿色标记，最后一个测量点失败用红色标记）M3、M4均需要修改 1.00 行为
2025-07-23 程浩先 开发 错误 #5167: 基片翘曲度检查参数 - ①安全高度阈值、平整点位坐标无法输入负值 ②删除平整点位坐标，仅剩一个坐标点位时无法删除 4.00 行为
2025-07-23 杨冰冰 开发 错误 #5395: 点击程式测量按钮进行测量后，测量结果在手动测量页面第一行时，其序号却显示为M2 0.50 行为
2025-07-23 冷曦 开发 错误 #5298: 矩阵键盘按键及摇杆禁止操作场景：①对准过程中 ②检测过程中 ③平台Home、移入、移出过程中 ④镜头切换过程中 3.00 行为
2025-07-23 冷曦 开发 错误 #5376: V4.3.9_TEST编译环境启动的VIS，点击退出按钮，再在确认弹窗中点击Yes按钮，页面卡住不继续动作了 1.00 行为
2025-07-23 唐飞 开发 功能 #5365: [开发]整理Review设计文档，迁移到版本功能中 6.00 行为
2025-07-22 程浩先 开发 错误 #5167: 基片翘曲度检查参数 - ①安全高度阈值、平整点位坐标无法输入负值 ②删除平整点位坐标，仅剩一个坐标点位时无法删除 4.00 行为
2025-07-22 程浩先 开发 错误 #5167: 基片翘曲度检查参数 - ①安全高度阈值、平整点位坐标无法输入负值 ②删除平整点位坐标，仅剩一个坐标点位时无法删除 4.00 行为
2025-07-22 冷曦 开发 功能 #5371: [开发] 第一阶段开发，晶圆上分为多个区域，每个区域内部die是相同的 40.00 行为
2025-07-22 董礼 开发 功能 #5207: 线阵相机的面阵模式开发 0.50 行为
2025-07-22 董礼 开发 功能 #5338: [开发]检测前面阵相机确认是否正常 7.00 行为
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