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日期 用户 活动 问题 注释 小时
2025-07-14 董礼 开发 功能 #5207: 线阵相机的面阵模式开发 4.00 行为
2025-07-14 唐飞 开发 功能 #5206: [开发]线阵光标定 5.00 行为
2025-07-14 唐飞 开发 功能 #5217: [开发] VIS V4.3.9界面中间竖列的图标分布不太合理 11.00 行为
2025-07-12 唐飞 开发 功能 #5206: [开发]线阵光标定 3.00 行为
2025-07-12 董礼 开发 错误 #5202: JAI相机 - CD测量时关闭自动曝光 1.00 行为
2025-07-11 冷曦 开发 错误 #5204: 建议：只要软件不退出，手动测量结果不要自动清空 0.50 行为
2025-07-11 冷曦 开发 错误 #5193: CD 圆手动测量，中心店坐标显示0,0 导致后面ROI位置不对 2.00 行为
2025-07-11 董礼 开发 错误 #5141: DB支持CD测量 - 创建数据准备，无法修改测量参数 1.00 行为
2025-07-10 冷曦 开发 错误 #5186: 晶圆结构重置后，检测Die超出晶圆结构，点击Recipe进入设置界面，提示文案优化：晶圆结构已更改，检测die超出晶圆结构范围 0.50 行为
2025-07-10 董礼 开发 错误 #5170: 4.4.1.10264安装包，执行程式检测时候报错，.net6插件还没有完全合完。 4.00 行为
2025-07-10 董礼 开发 错误 #5165: 第一次初始化模拟相机模块，插件中的模拟相机参数不要给默认值，不然会导致只有A光路的机台，初始化插件的时候报错 2.00 行为
2025-07-09 冷曦 开发 错误 #5149: 前道检测，点击MAP图上的DIE 会显示这个DIE上的所有缺陷ROI，建议改成点击不同的DIE区域显示这个DIE上的某张缺陷图 1.00 行为
2025-07-09 谢延义 开发 功能 #4822: [开发] 使用ATF 做被动聚焦功能 5.00 行为
2025-07-09 董礼 开发 版本合并 #4994: 合并4.1 test 到 m4主干 2.00 行为
2025-07-09 谢延义 开发 功能 #4822: [开发] 使用ATF 做被动聚焦功能 5.00 行为
2025-07-08 董礼 开发 错误 #5141: DB支持CD测量 - 创建数据准备，无法修改测量参数 2.00 行为
2025-07-08 唐飞 设计 设计 #5139: [设计] 提升检查速度 1.00 行为
2025-07-08 冷曦 开发 错误 #5147: CD手动测量 - 圆测量结果不正确 1.00 行为
2025-07-08 谢延义 开发 错误 #4758: 计算畸变校正时，偶现报错："函数执行超时，计算失败！" 5.00 行为
2025-07-08 杨冰冰 设计 错误 #5127: 套刻程式启动检测后，配准成功后，一直卡住不继续测量 0.50 行为
2025-07-07 谢延义 开发 功能 #4822: [开发] 使用ATF 做被动聚焦功能 5.00 行为
2025-07-07 谢延义 开发 功能 #4822: [开发] 使用ATF 做被动聚焦功能 5.00 行为
2025-07-07 冷曦 开发 错误 #4751: 数据迁移 - CD测量的数据无法迁移 0.50 行为
2025-07-04 王建祥 开发 功能 #4884: [开发] cd不同线宽标定 8.00 行为
2025-07-04 冷曦 开发 错误 #5104: 手动测量结果页面的序号不是从1开始，是用自动测量结果页面中最大的序号加1后的数值显示的 1.00 行为
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