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功能 #4126

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需求 #3462: CD算法参数界面逻辑优化

手动CD测量界面也使用与算法界面相同的UI

由 钱忠祥 在 大约一个月 之前添加. 更新于 8 天 之前.

状态:
已解决
优先级:
普通
指派给:
张萍
类别:
CD
目标版本:
4.3.9
开始日期:
2025-04-09
计划完成日期:
2025-06-30 (截止日期到 39 天)
% 完成:

75%

预期时间:
24.00 小时
耗时:
0.10 小时 (合计: 2.10 小时)
机台点位:
全局

描述

UI应该放在公共的库里
可以让董礼协助一下

子任务 4 (1 打开 — 3 已关闭)

错误 #4364: 打开CD测量手工测量页面，使用MeasurePoint默认的L1,L2进行测量，测量结果中显示1和2，不带方向字符L已关闭张萍2025-04-27

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错误 #4365: 选中已有的套刻类型的自动测量结果，打开CD测量手工测量页面，框选ROI后点击替换当前按钮，选中的套刻类型的自动测量结果显示0,0，且报错已关闭张萍2025-04-27

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错误 #4370: 进入recipe设置页面，添加一个Die测量点，再删除这个Die测量点，然后点击程式测量按钮，在程式测量页面点击测量和替换当前按钮分别报不同的错误信息已关闭张萍2025-04-27

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错误 #4373: 点击设置菜单中的WaferType按钮后报错已解决张萍2025-04-27

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