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错误 #4373

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需求 #3462: CD算法参数界面逻辑优化

功能 #4126: 手动CD测量界面也使用与算法界面相同的UI

点击设置菜单中的WaferType按钮后报错

由 张萍 在 25 天 之前添加. 更新于 一天 之前.

状态:
已解决
优先级:
普通
指派给:
张萍
类别:
-
目标版本:
4.4.1
开始日期:
2025-04-27
计划完成日期:
% 完成:

0%

预期时间:
机台点位:
全局

描述

文件

clipboard-202504271712-o8tek.png (492 KB) clipboard-202504271712-o8tek.png 张萍, 2025-04-27 09:11
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 #1

由 王建祥 更新于 一天 之前

  • 状态 从 新建 变更为 已解决
  • 指派给 从 王建祥 变更为 张萍

WaferTypes模块已经被删除，按钮不会再存在。
4.1版本已经按上述处理。

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