3.VIS 4

目前设计的逻辑：
计算单元闪退，从第一个条带开始重扫，针对晶圆，此做法没太大问题；
对于高倍镜下的无图形检测，重扫会很耗时；

期望：
从最后一个结果未收齐的条带开始重扫，同步检测时需要考虑两个Recipe；
需要考虑重扫的第一个条带缺陷可能会重复的情况。
缓存的条带，在该条带缺陷收齐后，再删除；