由 唐飞 更新于 4 个月 之前
目前设计的逻辑: 计算单元闪退,从第一个条带开始重扫,针对晶圆,此做法没太大问题; 对于高倍镜下的无图形检测,重扫会很耗时; 期望: 从最后一个结果未收齐的条带开始重扫,同步检测时需要考虑两个Recipe; 需要考虑重扫的第一个条带缺陷可能会重复的情况。 缓存的条带,在该条带缺陷收齐后,再删除;
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