需求 #3172: 采图的时候，需要把对准偏移量Z计算到采图里面
由 钱忠祥 在 7 个月 之前添加. 更新于 7 个月 之前.
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对准界面，坐标偏移为三维坐标，以往版本仅使用XY，计划将Z轴偏移用上；对应带膜的掩模版，使用玻璃面做对准，检测时偏移一定的Z轴高度来检测膜面。
如果两个recipe，一个检测膜面，一个检测玻璃面，如何处理。
暂时不考虑上面这种情况，如有需要，使用IRIS类型Recipe进行检测；
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