张威
- 登录名: zhangwei
- 邮件地址: zhangwei@vptek.com
- 注册于: 2024-04-25
- 最后登录: 2025-07-07
问题
| 打开 | 已关闭 | 合计 | |
|---|---|---|---|
| 被指派的问题 | 5 | 406 | 411 |
| 已报告的问题 | 17 | 317 | 334 |
项目
| 项目 | 角色 | 注册于 |
|---|---|---|
| 北京航天Tornado-2000 | 测试工程师 | 2025-01-09 |
| 3.VIS 4 | 测试工程师 | 2024-04-25 |
| 4. 维护 | 测试工程师 | 2025-02-13 |
| 4.流片 | 测试工程师 | 2024-04-25 |
| 6.Plugin | 测试工程师 | 2024-04-25 |
| 9.EFEM(设备前端模块) | 测试工程师 | 2024-04-25 |
| ROI Editor | 测试工程师 | 2024-11-29 |
| SPC | 测试工程师 | 2024-11-14 |
活动
2025-07-18
- 08:07 ROI Editor 功能 #4695 (已关闭): RoiEditor给InOverlay算法界面提供接口
- 08:04 3.VIS 4 错误 #5061 (反馈): 4.4.1 Core完整路径
- 测试好了
- 02:20 3.VIS 4 错误 #5325 (已关闭): 双recipe检测，会出现第一个recipe进度为97.22%的情况，但是是已经完成的状态（偶显）
- 02:00 3.VIS 4 错误 #5339 (已解决): 4.4.1.10300安装包，设置按照面积划分缺陷区间，但是map图上颜色是按照对角线划分的
- !clipboard-202507181000-03jvz.png!
!clipboard-202507181000-bqndc.png!
!clipboard-202507181000-pt4vw.png!
- 01:21 SPC 错误 #5056 (已关闭): 选择缺陷为0的数据，双击【Defect Img】或者【Specific Defect】空白区域，会出现缺陷信息
2025-07-17
- 11:36 SPC 错误 #5331 (新建): spc的map图和vis的map图，die所在位置的行列不对应（行列取反了）
- !clipboard-202507171936-tgeyl.png!
- 09:50 3.VIS 4 错误 #5325 (已关闭): 双recipe检测，会出现第一个recipe进度为97.22%的情况，但是是已经完成的状态（偶显）
- !clipboard-202507171504-6cvge.png!
- 06:52 3.VIS 4 错误 #5288 (已关闭): 在亮度调整步长范围内，已经找到合适的光亮，就停止标定，取最优值就好。
- 06:52 3.VIS 4 错误 #5286 (已关闭): 标定失败的提示建议改为“光标定失败，请检查检测参数是否设置正确”。2.recipe中光源为0的时候，点击【采集光标定参数】错误可以具体点比如说“检测光源不能为0”
- 05:15 SPC 错误 #5289 (已关闭): 配置4个视口后，缺陷的图片变形了
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