项目

一般

简介

行为
复制链接

功能 #3277

已关闭

需求 #3172: 采图的时候，需要把对准偏移量Z计算到采图里面

IRIS 膜面检测 采用膜面偏移量Z 扫图

由 钱忠祥 在 7 个月 之前添加. 更新于 7 个月 之前.

状态:
已关闭
优先级:
普通
指派给:
张威
类别:
-
目标版本:
4.3.8
开始日期:
2024-10-24
计划完成日期:
2024-11-01
% 完成:

0%

预期时间:
12.00 小时
机台点位:
全局
行为
复制链接
 #1

由 唐飞 更新于 7 个月 之前

  • 状态 从 新建 变更为 进行中
行为
复制链接
 #2

由 唐飞 更新于 7 个月 之前

  • 计划完成日期 从 2024-10-31 变更为 2024-11-01
行为
复制链接
 #3

由 唐飞 更新于 7 个月 之前

对准界面，坐标偏移为三维坐标，以往版本仅使用XY，计划将Z轴偏移用上；
对应带膜的掩模版，使用玻璃面做对准，检测时偏移一定的Z轴高度来检测膜面。

行为
复制链接
 #4

由 唐飞 更新于 7 个月 之前

如果两个recipe，一个检测膜面，一个检测玻璃面，如何处理。

行为
复制链接
 #5

由 唐飞 更新于 7 个月 之前

暂时不考虑上面这种情况，如有需要，使用IRIS类型Recipe进行检测；

行为
复制链接
 #6

由 唐飞 更新于 7 个月 之前

  • 状态 从 进行中 变更为 已解决
  • 指派给 从 唐飞 变更为 张威
行为
复制链接
 #7

由 张威 更新于 7 个月 之前

  • 状态 从 已解决 变更为 已关闭
行为
复制链接

导出 Atom PDF