行为
功能 #1671
已关闭对准步骤InDie-Mark偏移逻辑和OutDie逻辑合并
由 唐飞 在 超过一年 之前添加. 更新于 超过一年 之前.
开始日期:
2023-09-08
计划完成日期:
2023-09-22
% 完成:
100%
预期时间:
50.00 小时 (合计: 50.20 小时)
机台点位:
全局
描述
初步分析,两种类型都是对准点和参考点不一致,是否可以合并?
由 唐飞 更新于 超过一年 之前
- % 完成 从 10 变更为 30
MarkOffSet:
- 对准点取MarkDie十字图案的某个位置;
- OffSet指的是上述位置和MarkDie左下角的偏移;
- 检测中对准之后,加上OffSet得到当前样片参考点位置。
- 对准点取的是Die阵列以外的点;
- 参考点取得是MarkDie左下角的点;
- 由上述两个点位可以计算出偏移OffSet;
- 检测中对准之后,加上OffSet得到当前样片参考点位置。
- 都是根据程式中对准点和参考点的偏移以及当前样片对准点的位置,计算得出当前样片参考点位置;
- 参考点位置不同;
- 唯一Mark:参考点和对准点都在参考Die(MarkDie)内部;
- OutDie:参考点在参考Die内部,对准点不在;
- 参考Die的选择:
- 唯一Mark:选择MarkDie作为参考Die(扫描/导入晶圆结构后,MarkDie可以方便找到)
- OutDie:检测区域最左上角Die(Die行列数已知,Die区域为矩形,顶点Die更容易定位)
- 客户不同:
- 唯一Mark:好达
- OutDie:全讯
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