由 杨巧 在 3 个月 之前添加. 更新于 3 个月 之前.
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描述
P200 DD扫金版异常出现两列假缺陷,但P140 DD扫版未出现。20250912在扫P200 DD稳定性测试时发现多了两列假缺陷,无论怎么框选Die都会有此现象,之前扫版测试并无此现象,相关日志log已搬出给算法和软件
文件
客户端在查看,检测区域大于标定区域,超出的区域die die图形不一致从而导致假缺陷。
已解决;
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