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# 跟踪 状态 优先级 机台点位 主题 指派给 更新于
5346 需求 新建 普通 全局 在生产检测模式登记页面Carried ID 输入框内增加固定校验格式；片号输入页面增加Slot位置校验 蒋毅 2025-07-18 10:02 行为
5340 需求 新建 普通 全局 将EFEM load lp 功能与register功能分开可单独使用 蒋毅 2025-07-18 10:03 行为
5329 需求 新建 高 全局 客户F-H gradeCNT片子PSM的居多，我们目前需要减小检验区域才能正常检测，而且也无法做平场矫正 曾献彬 2025-07-17 11:23 行为
5302 错误 新建 高 全局 扫描虚焦，SL漏检 张俊礼 2025-07-17 01:30 行为
5301 错误 新建 高 全局 ACS掉线，软件无法正常打开 刘康明 2025-07-17 01:11 行为
5295 功能 新建 紧急 全局 SL light过不去，经常提示;反射合阶问题，需要降低/提高台阶 金陈华 2025-07-17 01:05 行为
5294 功能 新建 高 全局 软件更新后:上传IR不显示LOTID(不显示Recipe名称，只显示任务名称) 曾献彬 2025-07-17 00:39 行为
5293 支持 新建 高 全局 特殊图形False较多，圆弧、拐角 曾献彬 2025-07-17 00:35 行为
5292 功能 新建 紧急 全局 检测IR命名固定死，不方便重命名 曾献彬 2025-07-17 00:44 行为
5290 功能 新建 紧急 全局 检测时间慢 丁亮 2025-07-17 00:33 行为
5267 需求 新建 普通 全局 新增图形板区域执行主动聚焦的MAKE0 谷全驰 2025-07-18 10:14 行为
5266 需求 进行中 高 全局 修补机命名需求 周鵬成 2025-07-17 13:11 行为
5265 错误 进行中 紧急 全局 P140扫板时间异常问题 周鵬成 2025-07-19 03:12 行为
5252 错误 新建 紧急 全局 自制SL标准版P200抓取重复性比较差 徐特 2025-07-15 01:15 行为
5251 需求 新建 普通 全局 增加同一片不同检验记录对比 曾献彬 2025-07-15 00:21 行为
5250 需求 新建 普通 临港中芯 报表中检验区域需要改成左下，右上（如无法修改是否能新增增两行） 曾献彬 2025-07-15 00:20 行为
5249 错误 新建 高 全局 sl检出edge的false 周庆 2025-07-17 03:41 行为
5248 需求 新建 高 全局 软件界面增加膨胀参数 丁亮 2025-07-14 10:04 行为
5247 错误 新建 紧急 全局 客户端频繁卡死 丁亮 2025-07-14 09:32 行为
5246 功能 新建 高 全局 DB、SL edge算法膨胀参数修改 丁亮 2025-07-14 09:30 行为
5244 需求 新建 高 全局 明确公差，光标定，AF图形要求 周庆 2025-07-14 09:38 行为
5220 错误 新建 普通 全局 检测最后一个条带不处理 苏凯 2025-07-15 09:26 行为
5219 错误 新建 普通 全局 反射光图像变差 徐特 2025-07-13 00:57 行为
5218 错误 新建 普通 全局 efem报错 刘康明 2025-07-12 14:13 行为
5208 错误 新建 普通 全局 sl和DD缺陷尺寸 刘鹏成 2025-07-15 03:21 行为
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