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错误 #6114

已关闭

P200 DD扫金版异常出现两列假缺陷，但P140 DD扫版未出现

由 杨巧 在 大约一个月 之前添加. 更新于 大约一个月 之前.

状态:
已关闭
优先级:
普通
指派给:
杨巧
开始日期:
2025-09-13
计划完成日期:
% 完成:

0%

预期时间:
机台点位:
全局

描述

P200 DD扫金版异常出现两列假缺陷，但P140 DD扫版未出现。20250912在扫P200 DD稳定性测试时发现多了两列假缺陷，无论怎么框选Die都会有此现象，之前扫版测试并无此现象，相关日志log已搬出给算法和软件

文件

693ECBC9-CB06-421b-B3FC-4264AA2D04E7.png (455 KB) 693ECBC9-CB06-421b-B3FC-4264AA2D04E7.png 杨巧, 2025-09-13 11:00
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 #1

由 刘鹏成 更新于 大约一个月 之前

客户端在查看，检测区域大于标定区域，超出的区域die die图形不一致从而导致假缺陷。

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 #2

由 刘鹏成 更新于 大约一个月 之前

  • 指派给 从 刘鹏成 变更为 杨巧

已解决；

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 #3

由 杨巧 更新于 大约一个月 之前

  • 状态 从 新建 变更为 已关闭
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