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简介

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需求 #4799

已关闭

引入半孔缺陷类型

由 张鹏康 在 大约一个月 之前添加. 更新于 25 天 之前.

状态:
已关闭
优先级:
普通
指派给:
张鹏康
开始日期:
2025-06-13
计划完成日期:
% 完成:

100%

预期时间:
(合计: 144.00 小时)
机台点位:
上海传芯 storm 3000U

描述

客户在检测过程中发现存在一种半透的孔类缺陷，此类缺陷特征为反射光下呈现白色，透射光无法穿透。
客户需要将此类缺陷新增一个缺陷类型，为half pinhole。
缺陷1：particle 特征：反射下呈现黑色，透射光无法穿透；
缺陷2：half pinhole 特征：反射下呈现白色，透射光无法穿透；
缺陷3：pinhole 特征：反射下呈现白色，透射光可穿透

子任务 2 (0 打开 — 2 已关闭)

3.VIS 4 - 需求 #4830: [需求] 汇总逻辑升级已关闭钱忠祥2025-06-162025-07-04

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3.VIS 4 - 功能 #4837: 汇总逻辑升级已关闭郭笑2025-06-162025-07-04

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 #1

由 钱忠祥 更新于 大约一个月 之前

  • 子任务 #4830 已添加
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 #2

由 钱忠祥 更新于 大约一个月 之前

  • 状态 从 新建 变更为 进行中
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 #3

由 张鹏康 更新于 大约一个月 之前

对于缺陷尺寸的定义需要增加一些判断：
缺陷1：particle 特征：反射下呈现黑色，透射光无法穿透；缺陷尺寸以反射下尺寸为准。
缺陷2：half pinhole 特征：反射下呈现白色，透射光无法穿透；缺陷尺寸以反射下尺寸为准。
缺陷3：pinhole 特征：反射下呈现白色，透射光可穿透；缺陷尺寸以反射下尺寸为准。

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 #4

由 钱忠祥 更新于 29 天 之前

  • 状态 从 进行中 变更为 已解决
  • 指派给 从 钱忠祥 变更为 张鹏康
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 #5

由 张鹏康 更新于 25 天 之前

  • 状态 从 已解决 变更为 已关闭
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