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功能 #2839

已关闭

4.3.7:膜框周边检测、拟合聚焦、Review功能、小Z相关功能、缺陷筛选等修改和优化

唐飞11 个月 之前添加. 更新于 10 个月 之前.

状态:
已关闭
优先级:
普通
指派给:
类别:
-
目标版本:
开始日期:
2024-07-11
计划完成日期:
% 完成:

0%

预期时间:
32.00 小时
机台点位:
全局

描述

* 标定左上角、右下角、膜框和启用/不启用对准确认;
* 圆形布局下的MAP图、缺陷绘制等功能完善;
  • 拟合聚焦界面,把ATF方式从界面隐藏;
  • 拟合聚焦测试前,也需要判断ROI是否一致,否则提示;
  • 标定膜框、左上右下角标定时右键移动前,增加提示框,避免误操作;
  • 小Z归零,小Z显示也随着主视口切换;
  • Review功能修改,每个缺陷拍一张面阵图片,缺陷在图片中央,图片按照defectno命名(具体见wiki spc与review结合);
  • 膜框周边检测暂时改为只检测内边缘,同时要增加排除距离,map图上用紫色线显示;
  • 检测区域以外的缺陷,在计算单元侧直接删除(缺陷定位时处理);
  • 确认AutoLayout的形状是否正确,是自动布局后保存的?还是按照界面的来的?
  • PDF报表中的MAP图,没有绘制检测区域和膜框检测区域

唐飞 更新于 11 个月 之前

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