功能 #2839
* 标定左上角、右下角、膜框和启用/不启用对准确认；
* 圆形布局下的MAP图、缺陷绘制等功能完善；
* 拟合聚焦界面，把ATF方式从界面隐藏；
* 拟合聚焦测试前，也需要判断ROI是否一致，否则提示；
* 标定膜框、左上右下角标定时右键移动前，增加提示框，避免误操作；
* 小Z归零，小Z显示也随着主视口切换；
* Review功能修改，每个缺陷拍一张面阵图片，缺陷在图片中央，图片按照defectno命名（具体见wiki spc与review结合）；
* 膜框周边检测暂时改为只检测内边缘，同时要增加排除距离，map图上用紫色线显示；
* 检测区域以外的缺陷，在计算单元侧直接删除（缺陷定位时处理）；
* 膜面不增加大Z，通过两套MSG参数分别聚焦膜面和玻璃面，软件如何调用两个MSG参数（控制面板、检测中）；
* 确认AutoLayout的形状是否正确，是自动布局后保存的？还是按照界面的来的？