功能 #1600: 检验时---缺陷highlight框太粗了会遮盖到图形部分，将highlight框改为细矢量线 -->还是会遮挡到defect - Storm 4 - BTS (问题跟踪系统)

行为

功能 #1600

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检验时---缺陷highlight框太粗了会遮盖到图形部分，将highlight框改为细矢量线 -->还是会遮挡到defect

由俞晨羲在超过一年之前添加. 更新于超过一年之前.

状态:

已解决

优先级:

普通

指派给:

目标版本:

-

开始日期:

2023-08-23

计划完成日期:

% 完成:

0%

预期时间:

机台点位:

中芯

描述

缺陷highlight框太粗了会遮盖到图形部分，将highlight框改为细矢量线 -->还是会遮挡到defect---方案待定-杨俊毅

行为

#1

由施捷更新于超过一年之前

指派给 从施捷变更为 杨俊毅

行为

#2

由杨俊毅更新于超过一年之前

状态从新建变更为 已解决
指派给 从 杨俊毅 变更为周庆

1、缺陷框画大了一些，线条改为半透明，验证是否符合需求。

行为

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