# 4.4.0 * 错误 #1559: DB 模式，缺陷检测结果，隔日以下功能项不能使用 * 需求 #1756: VIS升级.Net 6 * 需求 #2104: VIS4.3：检测流程TaskItem的问题（PRClient中） * 需求 #2320: Core侧新增缺陷类型 * 功能 #2643: 分析：如何保持机台磁盘健康, 给出方案 * 需求 #2648: ROI editor 升级 * 需求 #2702: 创建job、setup、recipe操作优化，建议按树形结构层级添加，显示的时候也按照层级显示，只显示Job对应的Setup * 需求 #2708: 针对不同的光源，添加不同光源下所做平场校正结果 * 需求 #2900: 建议后期创建无图形或IRIS双面检测，设置好Z轴焦面0，0点默认作为mark点，中心点默认为参考die，die尺寸以中心点往外扩展（夹具中心就是0点位置，放片需要在中心点） * 设计 #2954: 确认缺陷（同storm） * 需求 #3152: 自定义缺陷分类设置界面，加个自定义缺陷排序的功能，选中一行，上移、下移 * 需求 #3171: 检测聚焦方式选择拟合，对于异常拟合的点位，拟合结束后，希望软件在拟合结果列表页支持删除拟合die * 需求 #3173: CD检测 算法层需要支持多区域框选ROI，一个ROI可以测试多个测量点位 （航天13所项目） * 需求 #3174: 对于阵列式的晶圆，不检测集中几行die，需要对检测结果进行处理，不让它显示在检测结果里 * 需求 #3238: 开发光源模块 * 设计 #3239: 研究光源模块实现方式 * 错误 #3270: 【DB - 报表详情】- 【检测参数】-【任务：已扫描条带/总条带】显示不正确 * 错误 #3271: 【DB检测】 - 经常会出现检测处理进度为：100%，但是检测任务不能结束，任务状态一直处于：检测中... * 需求 #3404: 对准中的配准算法改为SimpleCV中方法后，修改预加载模型方法 * 需求 #3407: 取消检测速度和加减速区域设定，取消速度设定 * 设计 #3408: 取消检测速度和加减速区域设定，取消速度设定 * 需求 #3456: 无图型缺陷合并功能 * 设计 #3457: 无图型缺陷合并功能 * 需求 #3458: 无图形成组检测 * 需求 #3473: 无图形检测功能优化升级 * 需求 #3477: 无图形检测支持手动Review * 需求 #3490: B/S报表，缺陷分类显示调整（针对有图形） * 功能 #3516: 开发光源模块 * 功能 #3527: 清理Picasso 弃用代码 * 功能 #3528: 清理VIS弃用代码，清理CalcUnit弃用代码 * 需求 #3532: 无图形 支持畸变矫正 * 需求 #3533: 无图形删除die的概念 * 功能 #3534: 无图形删除die的概念 * 需求 #3535: 升级自定义缺陷分类 * 功能 #3536: 升级自定义缺陷分类 * 需求 #3541: 缺陷返回结构&接口升级 * 设计 #3542: 有图形前道/后道缺陷返回结构&接口升级 * 设计 #3543: 无图形返回结构&接口升级 * 设计 #3544: AI类型检测返回结构&接口升级 * 设计 #3545: DB类型检测返回结构&接口升级 * 设计 #3546: 3D类型检测返回结构升级 * 设计 #3547: CD类型返回结构升级 * 功能 #3548: VIS&计算单元 3D部分废弃代码清理 * 功能 #3549: VIS&计算单元 DB部分废弃代码清理 * 功能 #3550: VIS&计算单元 DG部分废弃代码清理 * 功能 #3551: VIS&计算单元 NG部分废弃代码清理 * 功能 #3552: VIS&计算单元 CD部分废弃代码清理 * 功能 #3553: VIS&计算单元 AI部分废弃代码清理 * 需求 #3567: 所有Setup类型和Recipe类型增加对应的MainJob，用于处理不同类型独特的界面，检测流程 * 功能 #3568: Grid和NoGrid的晶圆结构/MAP布局 拆分到两个项目中 * 功能 #3571: 检测任务与基片关联 * 设计 #3575: 研究 NoGrid 支持畸变矫正 功能 * 需求 #3576: 多个recipe，如何计算分类类别 * 错误 #3578: VIS需要管理员启动；DPU重启后第一次连接MCU的MySql失败 * 功能 #3580: 所有Setup类型和Recipe类型增加对应的MainJob * 功能 #3585: Picasso.Auto 项目排除Winform和WPF相关代码 * 功能 #3598: CD测量页面移除winform相关页面 * 功能 #3599: CD测量页面移除winform相关页面-相机控件和菜单工具更改 * 错误 #3610: 4.0无图连续检测有弹窗报错 * 错误 #3611: 执行对准，报没有Mark * 错误 #3617: 【NG-导入预览图】检测异常 * 错误 #3618: 编辑模式下切换job，打开后还保留编辑模式 * 错误 #3619: 无图review的图片都有一根红线 * 错误 #3620: 【自定义缺陷分类】 - 缺陷类型别名、等级别名需要做是否重复验证 * 错误 #3621: 【自定义缺陷分类】 - 无图形检测完成后，检测结果没有显示所属缺陷等级和缺陷自定义分类 * 错误 #3622: 【功能菜单】web报表选项卡丢失 [版本4.4.0] * 错误 #3623: 缺陷分类及不良设置，选择预设模板导入，提示：序列号不包含任何元素 * 功能 #3624: 4.4.0 NG模式，检测结果处理界面，缺陷图上框选缺陷改为WPF绘图 * 错误 #3625: 控制面板处无法切换光源颜色 [版本4.4.0] * 功能 #3627: IRIS返回结构&接口升级 * 错误 #3636: 【用户自定义缺陷类型】没采用自定义的名字 * 错误 #3637: 缺陷分类及不良设置 - 不同的缺陷类型，范围上下限判断错误 * 错误 #3638: 无图形检测出的缺陷类型都属于more defect，【缺陷分类】里面选择的只有unknow类型,检测完成报的是NG * 错误 #3640: 缺陷检测结果，没用自定义别名，缺陷结果没用指定的颜色标记 * 错误 #3641: 自定义缺陷新增A、B两行类型，检测结果属于B类型，而B类型没设缺陷等级阈值，检测结果报NG * 功能 #3643: SPC报表内绘制缺陷Map图，需要支持缺陷自定义颜色和形状 * 错误 #3644: 自定义缺陷形状Cross，绘制不出来 * 错误 #3645: SPC无法添加已删除的用户名，报错：用户名重复 * 错误 #3646: 不良品数量终止检测，超出设定阈值检测结果报的是undefined * 错误 #3647: 新增类型A、B，A类型设了缺陷阈值，B类型未设，检测结果按未设阈值的来判定 * 错误 #3648: 检测任务完成后，报错：索引超出范围，必须为非负值并小于集合大小 * 错误 #3649: 缺陷阈值添加了附加条件后，检测完成结果没有抛出 * 错误 #3650: 4.4.0 DG检测，缺陷图没有框出缺陷 * 功能 #3656: NG畸变矫正功能开发 * 错误 #3658: SPC报表，检测数据存在Review图片，缺陷确认面板不显示问题 * 错误 #3659: 自定义缺陷，输入数字不正确后，多次点击退出后，页面会报错 * 错误 #3662: vis4.4..0,点击加载iris历史数据报错 * 错误 #3663: 别名输入框可以输入空格，且输入长度需要加限制 * 错误 #3668: 4.4CD测量 没检测完就停止了 * 错误 #3669: 4.4【程式测量】替换功能，配准完成后一直在等待返回结果 * 错误 #3670: 【套刻】测量有高度差的类型，Mark图层不设置算法，退出会有提示 * 功能 #3672: NG 类型MAP导出 * 错误 #3673: CD测量结果页面，【适应大小】按钮只针对当前选中的数据，别的数据还是r放大roi模式；套刻测量roi颜色单一，没弄颜色区分 * 错误 #3677: 无图形缺陷数量为零，报的是未设置标准 * 错误 #3679: 无图形多reicpe检测，缺陷map图会乱掉 * 错误 #3681: Die to Golden前道检测，检测无法终止 * 错误 #3682: CD找不到Mark，检测流程就结束了 * 错误 #3689: 程式测量失败后，点【替换】会跳出报错弹窗，然后再启动检测，测量结果会多一条上个reicpe的检测结果 * 错误 #3694: 测量根据die定位检测后，再加载历史会出现序列号排列混乱 * 错误 #3699: review图片上的【type】需要显示出用户自定义的缺陷名称，并且去掉die的概念 * 错误 #3701: 缺陷类型设置页面需要加上必填的校验 * 错误 #3712: 【适应窗口】【ROI大小】切了几下，框选的边框会变粗 * 功能 #3713: 4.4.0 增加汇总Recipe对应的结果处理界面 * 功能 #3714: 4.4.0 散射模型系数标定工具针对 明场开发 * 功能 #3717: 汇总Recipe功能开发 * 错误 #3721: 【用户权限管理】 - 用Opetator角色登录VIS，报错：该用户所选角色不存在 * 错误 #3726: 汇总Recipe选择样品等级判定方式时，没有优先显示方案别名 * 错误 #3735: NG检测完成 map图上传失败 * 错误 #3736: 输出窗口提示内容有错别字 * 错误 #3738: NGmap图上传成功输出多条 * 错误 #3739: 检测结果界面，others缺陷类型需要改成默认缺陷类型选择的名称 * 错误 #3743: 【自定义缺陷】- 缺陷分类预设模板，模板下只有两行数据时，无法选中删除行数据 * 错误 #3744: 【自定义缺陷分类】 - 首次安装VIS，自定义缺陷类型别名给个默认值 * 错误 #3745: 导出文件夹不存在启动检测，输出map图上传成功，实际路径下并未有map图 * 功能 #3747: 4.4.0 InspectionTaskItemCompleted 事件中的Exception入参需要包含详细的错误信息 * 错误 #3748: 【Map文件导出】 - 设置文件掩码名称，结果文件名转义错误 * 错误 #3749: 导出的Map文件自定义缺陷类型，只显示别名就可以了 * 错误 #3755: 缺陷数量为零，检测不能结束 * 错误 #3757: 新建job，fusion类型不启用导出路径，仍报错 * 错误 #3761: 多个recipe检测，其中recipe中有缺陷为0情况下，汇总recipe导出的map数据为0 * 错误 #3762: 修改样品等级判定方案阈值后，在SPC界面点Confirm重新计算样品等级，判定结果显示未实时刷新 * 错误 #3763: 无图缺陷超过阈值，停止检测，上传的map文件缺陷数量与检测界面上的数量不一致 * 错误 #3766: review图片上的【type】需要显示出用户自定义的缺陷名称，没有自定义的时候再显示默认的名字 * 错误 #3769: 融合的spc，按照缺陷类型翻页，提示缺陷类型是第一个或者最后一个 * 错误 #3771: 手动停止检测后，没有办法点击recipe名称进入recipe配置页面 * 错误 #3773: 建议在recipe中的【缺陷设置】页面，增加Mousewheel事件 * 错误 #3775: Setup为NoGrid类型，设置Map导出路径，报错：未将对象引用到对象实例，必现步骤见↓详细描述 * 错误 #3778: CalcAgent1.1.0.7 - 期望配置文件中的默认参数值和安装时弹窗界面的参数保持一致 * 错误 #3779: CalcAgent覆盖安装后（从1.0.0.2更新至1.1.0.7），服务无法手动停止 * 错误 #3781: 选择Setup界面左下角map图导出，导出的map没有绘制缺陷 * 错误 #3783: VIS控制面板处显示的面阵相机默认曝光值不正确 * 错误 #3784: 软件打开一段时间后，会出现VIS和CalcAgent连接断开的情况（需要重启软件才行） * 功能 #3792: 4.4.0 对准前，先计算并移动Z轴至主动聚焦行程内 * 错误 #3793: 有图形后道检测，Core报错 * 错误 #3797: 无图形 - 框选圆形检测区域，检测过程中经常会出现条带图收齐重扫的问题 * 功能 #3798: 4.4.0 NG结果处理界面，点击缺陷图上缺陷，更新缺陷详细以及右侧缺陷放大图片 * 功能 #3800: 4.4.0 计算单元闪退重扫的逻辑优化 * 错误 #3801: spc修改缺陷类型后，vis历史数据没有对应修改缺陷数目（vis需要再执行一次程式，之前修改的缺陷数目才会变化） * 功能 #3804: 优化：无图形Review，Recipe参数界面只保留一个ReviewFlag参数，放到左侧 * 错误 #3807: 多个recipe其中一个设置了【不良阈值数量（到一定数量后会终止检测）】，会有,map上传失败的提示 * 错误 #3810: 终止review的时候，汇总结果会出现undefind * 错误 #3812: AI类型spc打开失败 * 功能 #3813: 检测框架中的RedoException（重扫）针对多Recipe同时检测修改 * 错误 #3824: UI 错误 * 错误 #3825: 软限位未设定或不正确报错，且获取多次， * 错误 #3826: 取消一个检测任务，会有很多报错 * 功能 #3827: VIS 界面显示是否是Admin权限启动 * 功能 #3829: 获取所有可用插件功能优化 * 需求 #3832: 报表显示需要将透射和反射合并为同一个报表 * 功能 #3834: Z轴预计算增加其他方案 * 错误 #3835: 【数据服务】- 【参数备份】，点击【保存设置】按钮后，备份路径下只创建了一个空文件夹，没有真正执行数据备份 * 错误 #3836: 【数据迁移】 - 迁移的数据没有放到ZippedData文件夹下（环境变量VPTEK_BACKUP指定目录下不存在ZippedData文件夹，需要自动创建） * 错误 #3844: 【系统设置】 - 【自定义缺陷】- 设置缺陷分类预设模板，无法选择预设模板 * 设计 #3846: 和材质相关的一些参数的配置和使用 * 设计 #3847: MAP图旋转 * 功能 #3848: 检测结果文件夹的跨天问题 * 功能 #3849: 移除加减速区域设定 * 功能 #3853: 日志管理与分析 * 错误 #3854: 检测异常 - 对准结束后任务就结束，日志打印 CalcAgentPost error，并且日志一直打印CalcAgentPost * 错误 #3856: NG检测 - 在对准完成前手动点击停止检测，软件异常，检测任务无法终止 * 需求 #3862: MAP图旋转, 导出客户相对坐标 * 功能 #3863: VIS界面、SPC界面和导出模块，MAP图旋转功能开发 * 错误 #3864: NG用10X镜头检测，检测结束前提前减速了 * 功能 #3868: 主动聚焦插件聚焦参数保存，VIS recipe中可选择不同聚焦参数文件 * 错误 #3870: 到达缺陷阈值后，停止检测，也应该停止条带图的扫描 * 需求 #3876: 【Recipe界面】- 【缺陷分类设置】- 启用默认预设模板 * 功能 #3877: 【Recipe界面】- 【缺陷分类设置】- 启用默认预设模板 * 需求 #3880: ToDesk免费时长用完后无法连接现场环境 * 错误 #3887: 两个Recipe同时检测，扫描条带时间有时会很久 * 功能 #3894: NoGrid MAP导出改为使用Adapter模式，增加缺陷坐标转化为用户坐标系下坐标的功能 * 功能 #3895: NoGrid MAP导出改为使用Adapter模式，增加缺陷坐标转化为用户坐标系下坐标的功能 * 功能 #3898: 缺陷分类设置 - 缺陷范围大小要支持输入小数，例：0.2~0.5，0.5~1 * 功能 #3902: 4.4.0 自定义缺陷分类允许输入小数 * 错误 #3903: 程式检测结束后，Vis日志有时会有“CalcAgentPost error”错误信息 2.取消检测任务的时候，Vis日志也会有错误提示 * 错误 #3904: 多recipe检测完成后，右击切换检测结果时，左侧小map切换检测缺陷的速度比较慢 * 功能 #3905: 4.4.0 自定义缺陷分类，缺陷颜色改为RGBA形式存储 * 功能 #3908: FPGA版本自研主动聚焦插件，添加串口接收离焦量和Z坐标功能 * 错误 #3909: map旋转90度后，spc会出现显示不全的情况 * 功能 #3912: VIS缺陷结果界面，可查看自定义缺陷的尺寸及数量（条形图或者数据表样式） * 错误 #3914: 4.4.0 最新Vinci.Auto版本，中途(对准、扫图等)停止检测，会跳过检测结束流程 * 错误 #3916: 系统设置的自定义缺陷中，给H类型的缺陷颜色选择透明色，自动变成红色，且检测完了后map图中没有用红色标记H类型的缺陷 * 错误 #3919: 自定义缺陷类型中自定义颜色的Advanced页面，在Name中输入16进制数，按回车键显示对应颜色，但下面选中的缺陷类型也会往下选中一行 * 错误 #3920: 优化建议：自定义颜色的Palettes页面，建议删除STANDARD COLORS行和对应颜色，RECENT COLORS行和对应颜色建议放在第一行 * 错误 #3921: 导出map格式检验的提示建议改为“请检查导出路径中的map类型和程式是否一致” * 错误 #3923: recipe设置的缺陷分类设置中，删除所有的缺陷类型配置行，点击返回按钮，再次点击recipe进入recipe设置页面，会显示系统设置中设为默认的自定义缺陷类型 * 错误 #3924: recipe设置的缺陷分类设置中预设模板选择Normal，再点击导入按钮，成功导入normal模板对应的缺陷分类，点击返回按钮，再次进入recipe设置，缺陷分类设置中预设模板参数的值变成了Loose * 错误 #3926: 系统设置的自定义缺陷中预设模板的设为默认按钮，实际只是将当前配置的自定义缺陷类型设置为重置按钮的默认，而不是将当前模板和配置的自定义缺陷类型设置为默认模板，所以提示信息不正确 * 需求 #3928: 上海传芯 - 平台坐标和相对坐标单位要改成um * 功能 #3934: 优化：修改Mask Size后，提示用户要重置map结构 * 需求 #3941: 3000U缺陷map优化 * 需求 #3942: 检测结果增加离焦量曲线 * 错误 #3945: 关闭光源，切换镜头报错：给定关键字不在字典中 * 功能 #3953: 4.4 IRIS检测类型完善 * 功能 #3954: 晶圆结构上添加显示隐藏的功能 * 功能 #3956: 4.4.0 保存条带图增加图片格式以及筛选功能 * 版本合并 #3960: 4.4.0版本合并打包 * 功能 #3962: 设定4.4.0的打包服务 * 错误 #3965: 保存条带图的格式选择jpeg，png格式，但是保存的是bmp格式 * 错误 #3967: 修改保存条带图的数量，第一次执行的时候没有生效，需要在第二次执行的时候才会生效 * 错误 #3968: 多次执行后，同一缺陷会出现缺陷亮度不一致的情况 * 错误 #3970: 优化：map导出 - 目前不支持导出缺陷分布图、Review图，先将这两设置项隐藏 * 需求 #3974: 导出的缺陷表格里需要加一个缺陷汇总 * 错误 #3975: 在没有预设尺寸的情况下，选择Mark Size后，第一次点【自动布局】没有生成Map图，第二次点击的时候才会生成 * 错误 #3977: 勾选膜框显示和取消膜框显示，都需要拖动一下左侧的小map图才会生效 * 功能 #3982: 4.4.0 ProductRecipe界面增加缺陷合并距离参数 * 需求 #3984: 缺陷分布图 - 通过形状区分缺陷类型，颜色区分缺陷大小区间 * 错误 #3985: 安装VIS_4.4.0.8901,软件无法启动 * 功能 #3989: ATF监测功能，按照条带存储离焦量和Z坐标 * 错误 #3996: 主动聚焦插件部分丢失，在系统可用组件找不到 * 错误 #3999: JAI相机插件，配置水平、垂直翻转无效 * 错误 #4005: iris终止检测，汇总recipe的样片等级为“undefined”，应该为"ng" * 功能 #4007: VIS汇总recipe支持缺陷合并 * 错误 #4010: iris:map导出，建议膜框加上 * 需求 #4011: 将导出的缺陷图片调整为一张缺陷放大图+缺陷信息 * 功能 #4013: 系统设置中缺陷区间新增颜色设置 * 功能 #4019: 4.4.0 NG结果界面根据区间和颜色修改显示逻辑 * 功能 #4020: 4.4.0 VIS汇总结果显示时，根据配置，合并其他Recipe中距离相近的缺陷 * 错误 #4021: 缺陷尺寸区间中最后两个区间只输入区间数，未配置RGB颜色值，点击页面底部的确定按钮提示输入格式错误，但输入框下面的颜色图标最后却正常显示2个颜色和区间 * 错误 #4022: 缺陷尺寸区间中数值输入前大后小、前后相同或等于0时，点击确定按钮保存成功，无错误提示 * 功能 #4023: 将导出的缺陷图片调整为一张缺陷放大图+缺陷信息 * 错误 #4024: 修改缺陷类型的优先级后后，保存的等级文档没有立即生效 * 错误 #4026: 缺陷合并之后，spc点击【select job】，提示任务打不开 * 错误 #4030: 相邻位置的同形状缺陷颜色不一样时，VIS和SPC优先显示的颜色不一致。 * 功能 #4031: VIS4.4.0 SPC1.2 缺陷类型增加三个空心形状 * 错误 #4043: 选择预设模版点击【导入】或者【新增】按钮，系统报错。（安装包） * 错误 #4044: 缺陷尺寸区间修改数值后点击确定按钮进行保存设置，在历史设置页面选择之前已保存的时间点进行恢复，不会恢复成之前已保存的设置，还是显示恢复前已保存的尺寸区间 * 错误 #4045: 没有缺陷的情况下勾选合并缺陷，日志会报错（安装包） * 错误 #4046: 安装包V4.4.0.8996版本，在汇总recipe的设置页面，点击导出参数按钮，报错“未将对象引用设置到对象的实例” * 错误 #4050: 安装包V4.4.0.9011，点击recipe名称进入设置页面，先点击检测结果图标按钮查看检测结果，再点击recipe设置图标按钮，报错“The target recipient has already subscribed to the target message.” * 错误 #4052: 安装包V4.4.0.9011，【样片等级】点击自定义别名，但是不修改。保存完之后recipe中选择的默认缺陷类型没有了 * 错误 #4053: 安装包V4.4.0.9011，进入recipe设置页面，再进入系统设置页面，直接点击确定按钮，recipe设置页面的缺陷类型都自动变成了A类，默认缺陷类型也自动清空了 * 错误 #4055: 安装包V4.4.0.9011，缺陷尺寸区间已设置对角线小于18.4μm的缺陷应该为黄色，大于等于18.4μm的缺陷应该为绿色，但实际检测完了后的map图中对角线等于18.4μm却显示黄色 * 错误 #4059: 安装包4.4.09011：切换参考点，点击【移动】，vis没有反应 * 错误 #4061: 安装包V4.4.0.9055,创建新的job，点击recipe名称进入recipe页面的时候提示“指定转换无效”（只有新recipe第一次打开会报错） * 错误 #4062: 安装包4.4.0.9055：导出map图绘制缺陷的图形，需要和小map图绘制的缺陷图形一致 * 错误 #4063: 安装包4.4.0.9055：导出map图绘制缺陷的颜色，需要和小map图绘制的缺陷颜色一致（区间颜色传给唐飞） * 功能 #4070: NoGrid Map统一 * 错误 #4075: 安装包V4.4.0.9096，NoGrid类型的recipe正常检测完了后，修改汇总recipe的导出路径选择map类型为Grid的其他导出路径，启动检测后正常检测完了，再修改汇总recipe的导出路径选择map类型为NoGrid的导出路径，启动检测失败报错（如下图） * 错误 #4086: 导出缺陷excel表格数据中，[Defect Details]的数据和[Defect Summary]页面的数据不对应 * 错误 #4110: 安装包【4.4.09136】在【系统设置】--【自定义缺陷】，修改缺陷排序后，执行程式。切换job，再次打开【系统设置】，点击【确定】时报错 * 错误 #4118: 检测卡死 * 错误 #4147: 检测结束后无法操作 * 错误 #4158: VIS4.4安装包 - 【设置】菜单下的【数据服务】选项卡丢失 * 错误 #4196: iris，数据准备点击【新建】报错，232机台提示”给定关键字不在字典中“ * 错误 #4212: 在没有设置区间颜色的情况下，导出的map图上没有绘制出缺陷。（应该取自定义缺陷配置的颜色） * 错误 #4214: DB没有兼容【Fusion】程式，如果不做兼容的话需要处理一下执行到Fusion时候的提示。他会提示“没有查询到检测结果”，这样不友好 * 需求 #4215: 3000U机台暗场激光器插件开发 * 错误 #4217: SPC是否需要兼容DB,因为可以选择job数据 * 错误 #4218: DB显示在监测区域列表中，需要从列表中去掉 * 功能 #4223: 开发暗场激光插件 * 错误 #4230: VIS_4.4.0.9246安装包，聚焦插件被拆分成两个组的问题 * 错误 #4234: DB程式执行完成后切换到无图形的程式，扫描的过程中会提示“”“条带图片未收集齐” * 功能 #4257: 开发明场激光器插件 * 错误 #4270: 修改Die尺寸小于外围尺寸，但依然会有弹窗提示：Die尺寸必须小于外围尺寸(偶现) * 错误 #4271: CD检测结果为0的时候，日志会报错，程序会卡住。 * 错误 #4283: 导入gds图后，在spc切换缺陷类型，map图会变成空白 * 错误 #4284: spc选择job数据，显示的缺失单个recipe数据 * 错误 #4304: 选择"显示参考点"，导入预览图，或者gds图后，左则的小map图，没有显示参考点 * 错误 #4343: spc数据列表针对ai程式影藏掉ng的显示 * 错误 #4363: 不存在RoiEditor文件夹的情况下，VIS初始化插件后需要点击忽略才能登陆 * 错误 #4404: 选中自定义缺陷类型名称后，再右键切换不同recipe结果界面，显示自定义缺陷名称区域会出现一个虚线框 * 功能 #4430: 非扫描状态，限制暗场激光最大能量 * 错误 #4460: 安装CalcAgent_1.1.0.10，服务无法启动，也无法映射驱动（个别dpu出现这个问题，2楼长飞机台可复现） * 错误 #4473: 执行拟合聚焦测试的时候，系统日志报错，错误详情见下面截图