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项目 日期 用户 活动 问题 注释 小时 需求类型
3.VIS 4 2024-07-18 唐飞 开发 功能 #2860: 4.3.7：VIS和Web后端绘制PDF报表中的缺陷分布图的方法统一 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-18 董礼 开发 错误 #2872: 3D生成的roi，不好拖拉，拉一个角后小方块会变得很小 2.00 行为
3.VIS 4 2024-07-18 董礼 开发 错误 #2852: roi编辑软件，添加一键删除roi 确认提示框 防止误删除 0.10 行为
3.VIS 4 2024-07-18 唐飞 开发 功能 #2860: 4.3.7：VIS和Web后端绘制PDF报表中的缺陷分布图的方法统一 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-18 王建祥 开发 错误 #2873: 3D图默认打开是2D：X Section Line页面，该页面没隐藏彻底 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-18 唐飞 开发 错误 #2869: EFEM - 生产检测stop，正在检测中的基片停止扫描后，基片的检测任务状态还是处于检测中，扫描时长也在累加 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-18 蒋毅 开发 功能 #2864: 测量界面的历史记录修改 5.00 行为
3.VIS 4 2024-07-18 蒋毅 开发 错误 #2870: EFEM-Recipe参数中，隐藏取放片失败情况下不必要的选项 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-17 唐飞 开发 功能 #2860: 4.3.7：VIS和Web后端绘制PDF报表中的缺陷分布图的方法统一 5.00 行为
3.VIS 4 2024-07-17 蒋毅 设计 功能 #2864: 测量界面的历史记录修改 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-17 唐飞 开发 功能 #2860: 4.3.7：VIS和Web后端绘制PDF报表中的缺陷分布图的方法统一 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-16 谢延义 开发 功能 #2598: setup/recipe/system 参数迁移到 Picasso.auto.parameter 项目中 6.00 行为
3.VIS 4 2024-07-16 唐飞 开发 功能 #2861: 膜框一侧分别聚焦膜面和玻璃面方案 3.00 行为
9.EFEM(设备前端模块) 2024-07-16 王建祥 开发 功能 #2818: 新的IDScaner 部件开发 4.00 行为
3.VIS 4 2024-07-16 王建祥 开发 错误 #2844: 3D检测，轴限位软件界面没有抛出异常（vis4.3.6.6655） 4.00 行为
3.VIS 4 2024-07-16 唐飞 开发 错误 #2838: EFEM - 生产检测过程中，LP盒中的第一个基片良率阈值过低，终止检测，任务状态为InspectFail，剩余基片只执行了上下片动作并未执行检测任务，任务状态显示为success不对 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-15 蒋毅 开发 错误 #2838: EFEM - 生产检测过程中，LP盒中的第一个基片良率阈值过低，终止检测，任务状态为InspectFail，剩余基片只执行了上下片动作并未执行检测任务，任务状态显示为success不对 2.00 行为
3.VIS 4 2024-07-15 唐飞 开发 功能 #2854: VIS软件功能优化 16.00 行为
9.EFEM(设备前端模块) 2024-07-15 蒋毅 设计 功能 #2673: EFEM服务调用预览相机组件 2.00 行为
9.EFEM(设备前端模块) 2024-07-15 蒋毅 开发 错误 #2842: 优化：EFEM - 起始槽号Start Slot输入框，限制只能输入正整数 1.00 行为
3.VIS 4 2024-07-15 唐飞 开发 功能 #2839: 4.3.7：膜框周边检测、拟合聚焦、Review功能、小Z相关功能、缺陷筛选等修改和优化 32.00 行为
3.VIS 4 2024-07-12 谢延义 开发 功能 #2598: setup/recipe/system 参数迁移到 Picasso.auto.parameter 项目中 5.00 行为
3.VIS 4 2024-07-12 谢延义 开发 错误 #2812: 系统设置内设置各个镜头的亮度和曝光，切换镜头时未能自动调整 2.00 行为
3.VIS 4 2024-07-12 王建祥 开发 设计 #2727: 3d 彩图 增加图示 2.00 行为
3.VIS 4 2024-07-12 唐飞 开发 功能 #2839: 4.3.7：膜框周边检测、拟合聚焦、Review功能、小Z相关功能、缺陷筛选等修改和优化 8.00 行为
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