3.VIS 4

分类依据不一样。

1.新的缺陷分类逻辑：
检测过程中，计算单元根据recipe中的缺陷自定义设置对缺陷进行分类。需要使用主干计算单元 7000版本。
分类依据是面积或边长。因此一个缺陷可能会对应多个自定义分类（如：面积10-100um²、长度10-100um）。

2.客户端-报表-过滤功能的缺陷分类逻辑：
DG检测前recipe中勾选显示详细缺陷、NG检测 会显示【过滤】按钮。
过滤按钮会弹出一个窗口进行模板设置。

因此，客户端的分类结果和新的分类结果可能会出现不一致。

将客户端报表改成与SPC逻辑一至，所有缺陷都应该算上
另需考虑每种缺陷的是否满足筛选条件

仅Particle、Scratch、Cracked、BlackPartical和WhitePartical有面积和对角线。
缺陷面积是core返回的，对角线是计算单元根据缺陷的Rectangle计算得到。
对于缺陷类型的过滤建议修改（需要再过滤掉Particle2和Edge_break两种类型）并更新到SPC侧。

enMeasureType表示该缺陷类型的测量类型。
DefectType.Distance_Offset_large - enMeasureType.CD（CD类测量，基本不做，仅龙图CD机台），
DefectType.Circle_Offset_Large - enMeasureType.Circle（圆测量，基本不做，仅龙图CD机台），
DefectType.BumpDefect - enMeasureType.Bump（3D测量，由C#侧接管） 是一对一。这三者仅出现在后道返回接口StormGoldenImgResultDataHandler(DefectDIE_ResultEx resultData)中。
其他缺陷类型均对应enMeasureType.Pattern。
因此客户端中对于测量类型的过滤可以去除。

1.和算法讨论整理后，可能还是需要过滤缺陷类型。测量类型的过滤逻辑和缺陷类型重复，可以删除。

SPC和客户端报表都只筛选这5种有效缺陷的缺陷类型

VIS（4.3 & 4.3.7）:
1.报表已修改，筛选5种有效的缺陷类型。

计算单元（4.3 & 4.3.7）：
1.前道结果返回接口，默认缺陷类型修改为Particle。

Picasso.Auto:
1.缺陷自定义分类也会先筛选出有效的缺陷类型，再分类。
2.缺陷实体类Entity，属性Measure_type标记为弃用。

core改动：
1.DG前道、NG、IRIS，core只会返回缺陷类型为Particle或Scratch。
2.Particle2：意为缺陷数量过多，core不返回缺陷数据，直接返回该类型。计算单元固定将其缺陷面积构造为65535。