功能 #2126: EFEM：map扫描后，异常基片显示基片状态 - 3.VIS 4 - BTS (问题跟踪系统)

行为

功能 #2126

已关闭

EFEM：map扫描后，异常基片显示基片状态

由蒋毅在超过一年之前添加. 更新于超过一年之前.

状态:

已关闭

优先级:

普通

指派给:

类别:

-

目标版本:

开始日期:

2024-01-15

计划完成日期:

% 完成:

0%

预期时间:

机台点位:

全局

描述

异常状态显示为：
有斜片 Obliging
超厚 OverThickness
过薄 LowerThickness
未知 Unknown

已部署到志和和好达机台。

行为

#1

由蒋毅更新于超过一年之前

状态从新建变更为 进行中

行为

#2

由蒋毅更新于超过一年之前

状态从 进行中 变更为 已解决
指派给 从蒋毅变更为 周玉鹏

行为

#3

由周玉鹏更新于超过一年之前

状态从 已解决 变更为 已关闭

异常片都能扫出，薄厚需要根据客户真实片子厚度，重新标定

行为

导出 Atom PDF