错误 #2015
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1.图片命名规则和排序方式改了，导致缺陷排序顺序和之前不一样。
2.等厂验结束后，entity添加新的参数：offsetx，offsety，条带号，小图行列号。使用die_index→小图行列号→所属光路组对缺陷进行排序。
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1.改为普通无图形检测的显示，左侧固定为黑色图，右侧为缺陷图。
1.检测结果界面改为按照小图显示，不按照die进行排序。
2.暂时未修改点击map图die跳转缺陷图的逻辑。
3.IRIS和之后的无图形都使用新的ResultViewModel，和晶圆的分开。
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1.IRIS分支上分为旧版本和新版本。
旧版本按照之前设计的逻辑，左右分别显示不同光组对应的图片。
新版本和无图形检测显示的逻辑一样，左边固定为黑色图片，右边为缺陷图。
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