由 钱忠祥 更新于 大约一个月 之前
* 针对相同位置的缺陷添加分类逻辑，结合该位置所有core缺陷类型和大小等确定最终的缺陷类型，比如反射白颗粒，透射黑颗粒应该是什么类型缺陷 针对相同位置的缺陷添加分类逻辑，结合该位置所有core缺陷类型和大小等确定最终的缺陷类型 * 缺陷数据采用，比如同时存在透射和反射的数据时，应采用反射的缺陷数值
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