项目

一般

简介

行为
复制链接

功能 #6182

打开

map图框区域分类defect的功能

由 周鵬成 在 24 天 之前添加. 更新于 23 天 之前.

状态:
进行中
优先级:
高
指派给:
曾献彬
开始日期:
2025-09-22
计划完成日期:
2025-09-30 (16 天 延期)
% 完成:

0%

预期时间:
100.00 小时
机台点位:
全局

描述

客户需要增加一个框区域分类defect的功能。（即在defect map图上，用鼠标框出一块区域，能自动选中该区域内的defect，并且点一次分类，区域中的defect都被分到该分类中。）

行为
复制链接
 #1

由 俞晨羲 更新于 23 天 之前

  • 状态 从 新建 变更为 进行中
  • 指派给 从 俞晨羲 变更为 丁亮

请评估此需求能否满足。

行为
复制链接
 #2

由 俞晨羲 更新于 23 天 之前

  • 指派给 从 丁亮 变更为 曾献彬

请评估此需求是否开发。

行为
复制链接

导出 Atom PDF