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错误 #2857

已关闭

优化：EFEM - DebugView，不支持ID Scanner功能的提示文案

由 郭笑 在 10 个月 之前添加. 更新于 10 个月 之前.

状态:
已关闭
优先级:
普通
指派给:
郭笑
目标版本:
1.2
开始日期:
2024-07-15
计划完成日期:
% 完成:

0%

预期时间:
机台点位:
全局

文件

ID Scanner.png (192 KB) ID Scanner.png 郭笑, 2024-07-15 08:40
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 #1

由 钱忠祥 更新于 10 个月 之前

  • 状态 从 新建 变更为 已解决
  • 指派给 从 钱忠祥 变更为 郭笑
行为
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 #2

由 郭笑 更新于 10 个月 之前

  • 状态 从 已解决 变更为 已关闭
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 #3

由 郭笑 更新于 10 个月 之前 · 已编辑

VIS - EFEM参数，如果勾选了【是否扫描WaferID】,如果不支持ID Scanner功能，生产检测时，提示文案优化：IDScanner not exist

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