# 1.2 * 错误 #98: 检测界面每个lot 添加重扫失败基片功能 * 功能 #2145: 生产模式下，添加任务失败信息 * 错误 #2344: IRIS增加预对准传感器，load失败 * 错误 #2498: efem做上片操作，出现该提示，关闭窗口之后，不影响后面操作 * 设计 #2540: EFEM 生产，debug，转运等相关更新 * 功能 #2566: EFEM生产时,通过配置及预设能够进行转运操作，Client端 * 功能 #2625: EFEM wafer index 可以设置起始值，SVC端 * 功能 #2626: EFEM wafer index 可以设置起始值，Client端 * 功能 #2658: EFEM生产时,通过配置及预设能够进行转运操作，SVC端 * 功能 #2659: 在EFEM的生产页面上，展示生产时的实时结果，Client端 * 功能 #2660: 在EFEM的生产页面上，展示生产时的实时结果，SVC端 * 功能 #2661: EFEM一个片盒生产结束，根据实时结果对异常片可进行Retry操作，Client端 * 功能 #2662: 提供生产异常任务Retry接口 * 功能 #2663: EFEM - Debug View页面调整，Client端 * 功能 #2664: EFEM - Debug View 后端提供接口 * 功能 #2673: EFEM服务调用预览相机组件 * 功能 #2696: EFEM，生产模式下如果mapping后槽位有异常，该lot不可以被注册 * 功能 #2818: 新的IDScaner 部件开发 * 错误 #2827: EFEM - 生产转运模式，Register CassetA时，出现CassetB的Register按钮可点击的情况，点击CassetB的Register按钮，导致生产检测终止 * 错误 #2828: VIS在Recipe机械手参数中勾选【启用放回预对准】，生产转运 - 交换片结束后，检测出现异常 * 错误 #2830: EFEM - Register LoadPortA，生产检测过程中，Stop LoadPortA，检测完成后，EFEM_SV服务停止，基片无法下片 * 错误 #2831: EFEM - 生产检测过程中，在生产检测页面点击Stop LP，LP执行解锁动作后，在EFEM_UI界面，先Load LP，再点击Unload，报错：未将对象设置引用到对象的实例 * 错误 #2833: EFEM - 生产检测，Register LP1后，Select基片Add To Task失败，报错提示：LoadPort1 is not Loaded * 错误 #2837: EFEM - 生产转运，UnRunning状态的盒子，点击Register操作，不执行Mapping动作，且未继续执行转运 * 错误 #2842: 优化：EFEM - 起始槽号Start Slot输入框，限制只能输入正整数 * 错误 #2846: EFEM - 生产检测，Add to Task的基片，执行put、get操作和添加任务次数一致后，任务状态才会变为inspecting * 错误 #2848: 生产stop，再去单片页面操作，盒子页面会被禁用 * 功能 #2849: Debug页面，改为按钮点击，输入密码，才能打开。 * 错误 #2851: EFEM - 生产检测，LP Stop后，基片任务状态显示不对 * 错误 #2853: EFEM - 生产检测过程中，点击Stop LP后，基片执行状态为cancle时，点击Retry按钮无效 * 错误 #2855: EFEM - DebugView，执行Stage Home操作，无Home动作（在运动平台移动到限位报错的情况，执行的home） * 功能 #2856: VIS - 在Recipe【EFEM参数】中，增加巡边失败操作逻辑参数 * 错误 #2857: 优化：EFEM - DebugView，不支持ID Scanner功能的提示文案 * 错误 #2866: EFEM - 生产转运模式，在Register后，发现Target LP存在异常片（斜片），生产检测未终止 * 错误 #2868: EFEM - 生产转运模式，启用倒序放置，目标盒Target LP是否有基片验证错误 * 错误 #2874: 通过EFEM_UI 从Lot盒取单片晶圆检测，通过Transfer无法放回取片Lot盒里，提示：已存在该晶圆锲约 * 错误 #2877: EFEM - Cassette不在位的情况下，Lot盒的状态显示为Unload不对 * 错误 #2891: EFEM - 机械手参数【预对准失败】选择Skip， 启用生产检测，检测过程中出现预对准失败的基片后，预对准平台开始出现异常，后面无法执行预对准操作 * 错误 #2892: EFEM安装包路径更改，环境变量从原来的VPTEKSOFTWARE改为VPTEK_SOFTWARE * 错误 #2893: EFEM首次安装会有 Copy failed的提示 * 错误 #2895: EFEM - 生产非转运模式，Lot盒内cassette不在位的情况下，Lot下的Register按钮应该置灰，不可点击 * 错误 #2908: EFEM1.2安装包 - 执行生产检测，无法上片 * 错误 #2909: EFEM - LotA、LotB内cassette均不在位的情况下，点击生产检测，检测任务无法终止 * 错误 #2911: EFEM - 生产检测 - LotA、LotB盒均存在可Retry的基片，点击LotA下的Register，然后点击Retry按钮，报错信息见截图文件（多操作几次，每次报错信息还不一样） * 错误 #2915: 扫描WAFERID失败，目前选择这几个参数都是继续操作，没有判断参数含义 * 错误 #2922: 优化：【EFEM】单片检测，如果预对准失败了，建议输出日志里给出提示 * 错误 #2942: 优化建议：生产检测界面Lot盒下的Carrier Status改成Carrier Control * 错误 #2984: EFEM - 生产检测Stop后，如果检测平台、机械手或者预对准平台有基片未下片，5分钟后会有LP.Stopping:timeout超时提示，这时用EFEM_UI去下片，基片下片完成后，LP的状态一直处于Stopping，未自动unload * 错误 #3003: EFEM_UI单片操作，点击Lot盒Stop后。如果检测平台、机械手或者预对准平台有基片未下片，5分钟后会有LP.Stopping:timeout超时提示，这时用EFEM_UI去下片，基片下片完成后，LP的状态一直处于Stopping，未自动unload * 错误 #3004: 生产模式下第一张晶圆在平台检测，机械手搬运第二张晶圆的时候点击Lot的stop。 这种情况下第二张晶圆放回，第一张晶圆继续检测，第一张晶圆检测完成后，下片的时候点击生成模式的【stop】，5分钟后会有LP.Stopping:timeout超时提示，这时用EFEM_UI去下片，基片下片完成后，LP的状态一直处于Stopping，未自动unload * 错误 #3128: 1.ID扫码设备连接失败，建议EFEM 初始化的时候，作出校验 2.样片放到预对准处，ID设备未连接，此时扫码，提示设备连接失败，EFEM会再一次初始化，需要对异常作处理 3.预对准上有样片或有真空没样片 EFEM - DEBUG模式需要开启不检验模式 ，能够对预对准进行操作 * 错误 #3135: 样片放到预对准处，ID设备未连接，此时扫码，提示设备连接失败，EFEM会再一次初始化，需要对异常作处理 * 错误 #3179: Smif多次发送通知，导致Smif通讯异常 * 错误 #3247: 点击【Load Lp】,界面闪退 * 错误 #3251: 注册过程中，点【stop】及production control中的【stop】没有推送消息 * 错误 #3253: 生产检测相关操作，消息来源没有归属到product * 错误 #3257: 从lot盒里取片失败，没有消息推送 * 错误 #3258: 预对准失败，没推送消息 * 错误 #3265: 以下情况没有消息退出 * 错误 #3266: ID设备连接异常，错误码与文档不一致 * 错误 #3274: 从预对准平台取片失败错误码和别的重复，需新增错误码；存在基片消息提醒的错误码与文档不一致 * 错误 #3280: 放片到预对准平台与从预对准平台取片错误码重复，需要增加 * 错误 #3296: 平台是否到位传感器测试，检验打开，传感器被遮住，平台移动到移出位置，机械手一直是等待上片状态。给个超时提醒 * 错误 #3403: 【EFEM】平台上有基片，点击生产检测按钮，不会提示错误信息，而是从平台取片 * 错误 #3416: 【EFEM】- 生产检测过程中，点击lot stop，预对准平台、检测平台或丫叉上存在基片，无法自动下片 * 错误 #3491: efem_svc配置文件中，若组件配置错误efem服务无法停止。在IDScan为true的情况下，给IDScanner赋空值会出现这个情况 * 功能 #3502: 凸片传感器功能开发 * 需求 #3512: 凸片传感器功能 * 功能 #3518: LoadPort 增加接口 IsBulge() 方法，返回类型bool * 错误 #3596: 通过EFEM_UI单片上片时，基片无法放到检测平台，复现步骤见↓详细描述